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    • 9. 发明申请
    • プログラマブルロジックデバイス、プログラマブルロジックデバイスのエラー検証方法、及びプログラマブルロジックデバイスの回路形成方法
    • 可编程逻辑器件的可编程逻辑器件的验证方法,以及用于形成可编程逻辑器件的电路的方法
    • WO2016178332A1
    • 2016-11-10
    • PCT/JP2016/055389
    • 2016-02-24
    • 株式会社制御システム研究所
    • 森本 賢一
    • H03K19/173
    • G06F7/02G06F7/483H03K19/173
    • FPGA(10)の構成メモリに構成情報をロードすることによって、演算回路(L1~L3)と検証回路(21)とを形成する。演算回路(L1~L3)は、同じ演算機能を有しているが、回路ブロックの組み合わせが互いに異なっている。演算回路(L1、L3)は、DSPブロック(12)を最大限使用する回路ブロックの組み合わせであり、演算回路(L2)は、DSPブロック(12)以外の回路ブロックの組み合わせになっている。また、演算回路(L1、L2)は、データ保持メモリとして、ブロックRAM(13)を使用し、演算回路(L3)は、データ保持メモリとして分散RAMを使用する。各演算回路(L1~L3)は、入力データ(X)がそれぞれ入力され、演算結果データ(V1~V3)を出力する。検証回路(21)は、演算結果データ(V1~V3)を比較してエラーの有無を検証する。
    • 本发明通过将配置信息加载到FPGA(10)的配置存储器中来形成算术运算电路(L1-L3)和验证电路(21)。 尽管算术运算电路(L1-L3)具有相同的算术运算功能,但它们在电路块组合中彼此不同。 算术运算电路(L1和L3)具有使用最大数量的DSP块(12)的电路块的组合,并且运算电路(L2)具有不包括DSP块的电路块的组合( 12)。 算术运算电路(L1,L2)使用块RAM(13)作为数据存储存储器,算术运算电路(L3)使用分布式RAM作为数据存储存储器。 输入数据(X)输入到运算运算结果数据(V1-V3)的算术运算电路(L1-L3)。 验证电路(21)比较算术运算结果数据(V1-V3),并验证是否存在错误。