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热词
    • 1. 发明申请
    • 13族元素窒化物結晶基板および機能素子
    • 13族元素氮化物晶体基板和功能元件
    • WO2017098756A1
    • 2017-06-15
    • PCT/JP2016/075175
    • 2016-08-29
    • 日本碍子株式会社
    • 岩井 真吉野 隆史
    • C30B29/38H01L21/20H01L21/205H01L21/208H01L33/32
    • C30B29/38H01L21/20H01L21/205H01L21/208H01L33/32
    • 結晶基板1は、13族元素窒化物結晶からなり、第一の主面2aおよび第二の主面2bを有する下地層2、および、下地層の第一の主面上に設けられた13族元素窒化物からなる厚膜3を備える。下地層2が、第一の主面2aと第二の主面2bとの間を貫通する低キャリア濃度領域5と高キャリア濃度領域4とを含んでおり、低キャリア濃度領域5のキャリア濃度が10 17 /cm 3 以下であり、低キャリア濃度領域5の欠陥密度が10 7 /cm 2 以下であり、高キャリア濃度領域4のキャリア濃度が10 19 /cm 3 以上であり、高キャリア濃度領域4の欠陥密度が10 8 /cm 2 以上であり、厚膜3のキャリア濃度が10 18 /cm 3 以上、10 19 /cm 3 以下であり、厚膜3の欠陥密度が10 7 /cm 2 以下である。
    • 晶体基板1由13族元素氮化物晶体的,具有第一主表面2a和第2主面2b和第一主下层的底层2 并且在表面上设置由13族元素氮化物制成的厚膜3。 基底层2具有低载流子浓度区域5和在第一主面2a与第二主面2b之间贯通的高载流子浓度区域4,低载流子浓度区域5的载流子浓度为 10 17 /厘米是3 或更低时,低载流子浓度的区域的缺陷密度5 10 7 /厘米 2 或更小,高载流子浓度区域4的载流子浓度不小于10 19 /厘米 3 或更多,高载流子浓度区域4的缺陷密度为10 8 /厘米和 2 或更多,厚膜3的载流子浓度为10 18 /厘米 3 或更多,10 19 /厘米是3 或更小,厚膜3的缺陷密度为10 7 /厘米 2 或更小。

    • 3. 发明申请
    • SiC単結晶の製造方法
    • SiC单晶生产方法
    • WO2016148207A1
    • 2016-09-22
    • PCT/JP2016/058395
    • 2016-03-16
    • 新日鐵住金株式会社トヨタ自動車株式会社
    • 関 和明楠 一彦亀井 一人旦野 克典大黒 寛典土井 雅喜
    • C30B29/36C30B19/10H01L21/208
    • C30B19/10C30B9/06C30B19/04C30B29/36H01L21/02378H01L21/02529H01L21/02625H01L21/02628
    •  SiC多結晶の発生を抑制可能な、SiC単結晶の製造方法を提供する。 本実施形態によるSiC単結晶の製造方法は、溶液成長法によるSiC単結晶の製造方法である。本実施形態によるSiC単結晶の製造方法は、出力上昇工程(S1)と、接触工程(S2)と、成長工程(S4)とを備える。出力上昇工程(S1)では、誘導加熱装置(3)の高周波出力を結晶成長時の高周波出力に上げる。接触工程(S2)では、SiC種結晶(8)をSi-C溶液(7)に接触させる。接触工程(S2)における誘導加熱装置(3)の高周波出力は、結晶成長時の高周波出力の80%より大きい。接触工程(S2)におけるSi-C溶液(7)の温度は、結晶成長温度未満である。成長工程(S4)では、結晶成長温度でSiC単結晶を成長させる。
    • 提供可以抑制SiC多晶体的发生的SiC单晶制造方法。 根据本实施例的SiC单晶制造方法是溶液生长方法,并且具有输出增加步骤(S1),接触步骤(S2)和生长步骤(S4)。 在输出增加步骤(S1)中,感应加热装置(3)的高频输出在晶体生长期间升高到其高频输出。 在接触步骤(S2)中,使SiC晶种(8)与Si-C溶液(7)接触。 在接触步骤(S2)期间,感应加热装置(3)的高频输出在晶体生长期间大于其高频输出的80%。 在接触步骤(S2)期间,Si-C溶液(7)的温度低于晶体生长温度。 在生长步骤(S4)中,在晶体生长温度下生长SiC单晶。
    • 6. 发明申请
    • 単結晶炭化珪素基板およびその作製方法
    • 单晶碳化硅基体及其制造方法
    • WO2014020694A1
    • 2014-02-06
    • PCT/JP2012/069442
    • 2012-07-31
    • 株式会社エコトロン中村 信彦
    • 中村 信彦
    • C30B29/36C30B19/04H01L21/208
    • C30B19/04C30B19/06C30B29/36H01L21/02529
    •  MSE法を用いて単結晶炭化珪素基板を作製する際、種基板に生じる反りを十分に抑制して、後工程の貼り付け工程における単結晶炭化珪素基板の割れの発生を抑制することができる単結晶炭化珪素基板の作製方法および単結晶炭化珪素基板を提供する。 準安定溶媒エピタキシャル法を用いた単結晶炭化珪素基板の作製方法であって、重石として、種基板と対向する側の面が炭化珪素により形成されている重石を用いて、単結晶炭化珪素基板を作製する単結晶炭化珪素基板の作製方法。重石が、炭化珪素により形成された重石や、少なくとも種基板と対向する側の面に炭化珪素の層が形成された重石である単結晶炭化珪素基板の作製方法。および前記単結晶炭化珪素基板の作製方法により作製されている単結晶炭化珪素基板。
    • 本发明提供:制造单晶碳化硅基板的方法,通过充分抑制在制造时的种子基板中产生的翘曲来抑制后续工序中的接合工序中的单晶碳化硅基板的断裂的产生 单晶碳化硅基板采用MSE方法; 和单晶碳化硅基板。 公开了一种使用亚稳溶剂外延制造单晶碳化硅基板的方法,具体地说:一种制造单晶碳化硅基板的方法,该方法以重量计,其表面面向由碳化硅形成的晶种基板; 以及制造单晶碳化硅基板的方法,其使用由碳化硅构成的重量或至少在面向种子基板的一侧的表面上形成有碳化硅层的重量作为重量。 还公开了通过用于制造单晶碳化硅衬底的方法制造的单晶碳化硅衬底。