专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明申请

WO2017152470A1 一种同源双能加速器及加速器治疗装置审中-公开
公开(公告)号：WO2017152470A1
公开(公告)日：2017-09-14
申请号：PCT/CN2016/079235
申请日：2016-04-14
申请人：苏州雷泰医疗科技有限公司
发明人：姚毅
IPC分类号： H05H5/03 , A61N5/00
CPC分类号： H05H5/03 , A61N5/00 , A61N5/1037 , A61N5/1049 , A61N5/1077 , A61N2005/1054 , A61N2005/1095 , H05H9/044 , H05H9/048 , H05H2007/002 , H05H2277/11
摘要：一种同源双能加速器（2）及包含该同源双能加速器（2）的治疗装置，包括：电子发射装置（21）和加速装置（22），所述电子发射装置（21）位于加速装置（22）的输入端，其产生的电子经加速装置（22）加速后从加速装置（22）的输出端射出，所述同源双能加速器（2）还包括至少一个分离偏转装置（23），设置于加速装置（22）的输出端一侧，用于使经过加速装置（22）加速后的电子中的部分电子运动轨迹发生改变。电子经加速装置（22）加速后，所有电子的速度及能量并不完全相同，使用设置于加速装置（22）输出端一侧的分离偏转装置（23），将经过加速装置（22）加速后的粒子中的部分能量等级较低的电子运动轨迹强制改变，将同源电子束中不同能级的电子进行分离，从而获得两种能级的电子束，其中高能电子束（24）继续原有路径，用于放射治疗，而另一路低能电子束（25）则用于跟踪病灶及检测治疗效果。

2. 发明申请

WO2016106008A1 METHODS, SYSTEMS AND APPARATUS FOR ACCELERATING LARGE PARTICLE BEAM CURRENTS 审中-公开
标题翻译：用于加速大颗粒束流的方法，系统和装置
公开(公告)号：WO2016106008A1
公开(公告)日：2016-06-30
申请号：PCT/US2015/065671
申请日：2015-12-15
申请人： ISO EVOLUTIONS, LLC
发明人： FRITZ, Matthew Fox
IPC分类号： H05H5/04 , H05H5/06
CPC分类号： H01J37/3171 , H01J2237/0473 , H01J2237/08 , H01J2237/31701 , H05H5/03 , H05H5/04 , H05H5/06
摘要： Systems and methods for accelerating large particle beam currents in an electrostatic particle accelerator are provided. A system may include a process ion source that is configured to emit ions, a particle accelerator and a target. The particle accelerator may include multiple conductive electrodes that are serially arranged to define a particle path between the process ion source and the target and multiple accelerator tubes arranged to further define the particle path between the process ion source, ones of the conductive electrodes and the target.
摘要翻译：提供了用于在静电颗粒加速器中加速大粒子束电流的系统和方法。系统可以包括被配置为发射离子，粒子加速器和靶的过程离子源。颗粒加速器可以包括多个导电电极，其被串联地布置以限定处理离子源和靶之间的粒子路径，并且多个加速器管被布置成进一步限定处理离子源，导电电极中的一个和目标物之间的粒子路径。

3. 发明申请

WO2016017712A1 超小型質量分析装置および超小型粒子加速装置审中-公开
标题翻译：超紧凑质量分析装置和超紧凑粒子加速装置
公开(公告)号：WO2016017712A1
公开(公告)日：2016-02-04
申请号：PCT/JP2015/071538
申请日：2015-07-29
申请人：保坂俊
发明人：保坂　俊
IPC分类号： H01J49/06 , G01N27/62 , H01J49/26 , H05H5/03 , H05H7/04 , H05H7/22 , H05H9/00 , H05H13/04
CPC分类号： H01J49/06 , G01N27/62 , H01J49/0018 , H01J49/20 , H01J49/22 , H01J49/326 , H01J49/38 , H01J49/4205 , H01J49/4215 , H05H5/03 , H05H7/04 , H05H7/22 , H05H9/00 , H05H13/04
摘要：　加速器や質量分析装置を小型化し安価に作製し、誰もが利用できるようにする。第１主基板（３０１）、第１主基板（３０１）の上面に付着した第１上部基板（３０２）、および第１主基板（３０１）の下面に付着した第１下部基板（３０３）を含む複数の基板から構成される質量分析装置（３００）であり、質量分析室（３０８）は、第１主基板（３０１）に形成された、第１主基板（３０１）の上面から第１主基板（３０１）の下面へ貫通する貫通室であり、基板面に垂直方向（Ｚ方向）が上部基板（３０２）および下部基板（３０３）に、Ｚ方向と直角方向でありかつ荷電粒子（３１８）の進行方向（Ｘ方向）の両側は第１主基板側板（３０１－４，３０１－５）に、およびＺ方向およびＸ方向に直角方向（Ｙ方向）の両側面は第１主基板（３０１）に囲まれており、荷電粒子（３１８）の入射する第１主基板側板（３０１－４）は中央孔（３１０－４）が空いていて、荷電粒子（３１８）は前記第１主基板側板（３０１－４）に形成された中央孔（３１０－４）より質量分析室（３０８）へ入射する。
摘要翻译：本发明的目的是廉价地制造加速装置和质量分析装置，并且具有紧凑的尺寸，使其能够被任何人使用。质量分析装置（300）由多个基板构成，包括第一主基板（301），粘附到第一主基板（301）的上表面的第一上基板（302），第一下基板（303）粘附到第一主衬底（301）的下表面。质量分析室（308）是形成在第一主基板（301）中并从第一主基板（301）的上表面延伸到第一主基板（301）的下表面的通道，并封入在与Z方向正交的方向（方向X）的两侧封闭的上基板（302）和下基板（303）垂直于基板表面（Z方向）的方向为通过第一主基板侧板（301-4,301-5）推进带电粒子（318），并且通过第一主体在与Z方向和X方向正交的方向（Y方向）的两个侧面上包围基板（301）。在带电粒子（318）入射的第一主基板侧板（301-4）中打开中心孔（310-4），带电粒子（318）从形成在第一主衬底侧板（301-4）中的中心孔（310-4）。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式