会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 4. 发明申请
    • 半導体装置
    • 半导体器件
    • WO2017064793A1
    • 2017-04-20
    • PCT/JP2015/079195
    • 2015-10-15
    • ユニサンティス エレクトロニクス シンガポール プライベート リミテッド舛岡 富士雄中村 広記
    • 舛岡 富士雄中村 広記
    • H01L21/336H01L29/78
    • H01L31/035236H01L29/0684H01L29/151H01L29/78
    • 金属と半導体との仕事関数差によって柱状半導体層に超格子もしくは量子井戸構造を形成する構造を有する半導体装置もしくは高速動作が可能な半導体装置を提供することを目的とする。平面状半導体層上に形成された柱状半導体層と、前記柱状半導体層を囲む第1の絶縁物と、前記第1の絶縁物を取り囲む第1の仕事関数を有する金属からなる第1のゲートと、前記第1の絶縁物を取り囲む前記第1の仕事関数と異なる第2の仕事関数を有する金属からなる第2のゲートと、前記第2のゲートは前記第1のゲートの下方に位置するのであって、前記第1の絶縁物を取り囲む第1の仕事関数を有する金属からなる第3のゲートと、前記第3のゲートは前記第2のゲートの下方に位置するのであって、前記第1の絶縁物を取り囲む第3の仕事関数を有する第1の金属層と、前記第1の金属層は前記第1のゲートの上方に位置するのであって、前記第1の金属層は前記柱状半導体層の上部と電気的に接続するのであって、前記第1の金属層は前記第1のゲートと電気的に絶縁するのであって、前記第1の絶縁物を取り囲む第3の仕事関数を有する第2の金属層と、を有し、前記第2の金属層は前記第3のゲートの下方に位置するのであって、前記第2の金属層は前記柱状半導体層の下部と電気的に接続するのであって、前記第2の金属層は前記第3のゲートと電気的に絶縁するのであって、前記第1のゲートと前記第2のゲートと前記第3のゲートは電気的に接続することを特徴とすることにより上記課題を解決する。
    • 其目的在于提供在

      半导体装置,其能够半导体装置或高速操作具有由金属和半导体之间的功函数差形成在柱状半导体层的超晶格或量子阱结构的结构 到。 形成于平面状半导体层上的柱状半导体层,所述柱状半导体层周围的第一绝缘体,第一栅极具有围绕所述第一绝缘体的第一功函数的金属形成 具有从围绕所述第一绝缘体的第一功函数不同的第二功函数的金属的第二栅极形成,因为第二栅极位于第一栅极下面 有,所述由具有围绕所述第一绝缘体的第一功函数的金属的第三栅极,第三栅极是被定位在所述第二栅极下,第一 具有围绕所述绝缘体的第三功函数的第一金属层,第一金属层是被位于所述第一栅极的上方,所述第一金属层是柱状半导体 首先电连接到层的顶部 Shokuso是被从所述第一栅极电绝缘,并且具有围绕所述第一绝缘体,所述第二金属层的第三功函数的第二金属层 是一个被定位在所述第三栅极的下方,所述包括连接所述柱状半导体层的下部电的第二金属层,第二金属层是第三栅 并且a是电绝缘,其中,所述第一栅极和第二栅极第三栅极解决了上述问题,其特征在于电连接。