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1. 发明申请

WO2016013278A8 X-RAY DETECTION SIGNAL PROCESSING DEVICE AND X-RAY ANALYZING APPARATUS USING SAME 审中-公开
标题翻译：使用X射线检测信号处理装置和X射线分析装置
公开(公告)号：WO2016013278A8
公开(公告)日：2017-01-19
申请号：PCT/JP2015063893
申请日：2015-05-14
申请人： RIGAKU DENKI CO LTD
发明人： SAKO YUKIO
IPC分类号： G01T1/17 , G01N23/223 , G01T1/36
CPC分类号： G01N23/223 , G01N2223/076 , G01N2223/304 , G01R13/00 , G01T1/17 , G01T1/36 , H01J35/14 , H01J35/30 , H05G1/26
摘要： An X-ray detection signal processing device (10), or the like, according to the present invention is provided with a comparator (17) for emitting a high signal when the level of a signal from a tail-pulse preamplifier (13) having an RC circuit (13a) does not exceed a prescribed upper limit value and emitting a low signal when the level exceeds the prescribed value and a control unit (18) for outputting, to a clock oscillator (15), the transition of the comparator (17) signal from low to high after a delay of a prescribed time, outputting the low signal to the clock oscillator (15), stopping oscillation, and thereby stopping high-speed A/D conversion by a high-speed A/D converter (14) and maintaining an output value.
摘要翻译：根据本发明的X射线检测信号处理装置（10）等具有比较器（17），用于当具有来自尾脉冲前置放大器（13）的信号的电平达到高信号时，该比较器当电平超过规定值时，RC电路（13a）不超过规定的上限值并发出低信号;以及控制单元（18），用于向时钟振荡器（15）输出比较器 17）在规定时间延迟后从低电平向高信号输出，将低信号输出到时钟振荡器（15），停止振荡，由此停止高速A / D转换器的高速A / D转换（ 14）并保持输出值。

2. 发明申请

WO2015193086A1 SYSTEME DE TOMOGRAPHIE DYNAMIQUE DIT "4D" 审中-公开
标题翻译： “4D”动态图像系统
公开(公告)号：WO2015193086A1
公开(公告)日：2015-12-23
申请号：PCT/EP2015/062090
申请日：2015-06-01
申请人： CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE , ECOLE NORMALE SUPERIEURE DE CACHAN
发明人： HILD, François , LECLERC, Hugo , ROUX, Stéphane
IPC分类号： G01N23/04 , A61B6/03
CPC分类号： G01N23/046 , G01B15/06 , G01N3/08 , G01N2223/304 , G01N2223/607
摘要： Le domaine général de l'invention est celui des tomographes comportant au moins une première source d'émission (GX1), un premier détecteur matriciel (D1) et des moyens de calcul (C) agencés pour réaliser une tomographie initiale d'un objet (E) à partir de radiographies issues du premier détecteur matriciel prises sous différents angles. Le tomographe selon l'invention comporte une seconde source d'émission (GX2) et un second détecteur matriciel (D2) agencés de façon que, lorsque l'objet est soumis à une sollicitation connue à un instant donné, ladite sollicitation pouvant être une sollicitation mécanique ou un écoulement diphasique d'un fluide dans un milieu poreux, les moyens de calcul déterminent les évolutions de l'objet soumis à ladite sollicitation à partir de la seule connaissance d'une première radiographie de l'objet sollicité issue du premier détecteur matriciel, d'une seconde radiographie de l'objet sollicité issue du second détecteur matriciel et de la tomographie initiale, la première radiographie et la seconde radiographie étant prises au même instant donné.
摘要翻译：本发明的一般领域是包括至少一个第一发射源（GX1），一个第一矩阵检测器（D1）和计算装置（C））的断层摄影装置，其布置成从放射照片到来产生物体（E）的初始层析成像从第一矩阵检测器以各种角度拍摄。根据本发明的断层摄影机包括第二发射源（GX2）和第二矩阵检测器（D2），其以这样的方式布置，使得当物体在给定时间经受已知的应力时，所述应力潜在地是机械应力或在多孔介质中的两相流体流动，所述计算装置仅使用来自第一矩阵检测器的应力物体的第一射线照相的知识，从应力的第二射线照相中确定受到所述应力的物体的变化来自第二矩阵检测器的物体和来自初始层析成像仪的第一射线照片和第二射线照片在相同的给定时间被拍摄。

3. 发明申请

WO2015189218A1 PROCEDE D'OPTIMISATION D'UN MELANGE DE CONSTITUANTS PAR ANALYSE SPECTRALE 审中-公开
标题翻译：通过光谱分析优化成分混合物的方法
公开(公告)号：WO2015189218A1
公开(公告)日：2015-12-17
申请号：PCT/EP2015/062853
申请日：2015-06-09
申请人： TOPNIR SYSTEMS SAS
发明人： LAMBERT, Didier , SAINT MARTIN, Claude , SANCHEZ, Miguel , RIBERO, Bernard
IPC分类号： G01N21/35 , G01N33/28 , G01N21/359
CPC分类号： G01N33/2829 , G01N21/33 , G01N21/35 , G01N21/359 , G01N21/65 , G01N23/223 , G01N24/082 , G01N33/22 , G01N35/00 , G01N2035/00465 , G01N2201/12 , G01N2223/304 , G01N2223/637 , G05D11/00 , G05D11/139
摘要： La présente invention concerne un procédé d'optimisation d'un mélange de constituants pour l'obtention d'un produit cible par analyse spectrale, de préférence par analyse spectrale (topologique) dans le proche infrarouge (« NIR »). Le procédé est dirigé vers la préparation d'un produit cible par mélange par batch et/ou en ligne de ses « n » constituants à partir de différents flux des dits constituants à des concentrations et/ou des débits contrôlés, ledit produit cible devant posséder en vue de sa commercialisation un ensemble de gammes de valeurs de caractéristiques physico-chimiques. Selon le procédé on alimente un mélangeur par batch et/ou en continu avec les dits constituants à des concentrations et/ou des débits contrôlés.
摘要翻译：本发明涉及一种通过光谱分析优化通过近红外区域（NIR）中的光谱分析（拓扑）来优化用于产生目标产物的组分混合物的方法。该方法的目的是通过基于具有受控浓度和/或流速的所述组分的不同流量，通过其“n”组分的分批混合和/或连续混合来产生目标产物，所述目标产物需要其商业化的物理化学特性值的范围。根据该方法，分批混合器或连续混合器以受控的浓度和/或流速供应所述组分。

4. 发明申请

WO2016035148A1 測定処理装置、Ｘ線検査装置、構造物の製造方法、測定処理方法、Ｘ線検査方法、測定処理プログラムおよびＸ線検査プログラム审中-公开
标题翻译：测量处理装置，X射线检查装置，制造结构的方法，测量处理方法，X射线检查方法，测量处理程序和X射线检查程序
公开(公告)号：WO2016035148A1
公开(公告)日：2016-03-10
申请号：PCT/JP2014/073097
申请日：2014-09-02
申请人：株式会社ニコン
发明人：町井　暢且 , 早野　史倫 , 河井　章利
IPC分类号： G01N23/04
CPC分类号： G01B15/04 , G01N23/04 , G01N2223/304 , G01N2223/401
摘要：　載置部に載置される被検物の所定領域を透過するＸ線を検出して、被検物の所定領域形状を検査するＸ線検査装置に用いる測定処理装置は、被検物について、三次元状の被検出領域を設定する設定部と、被検出領域に複数のスライス領域を設定し、複数のスライス領域を所定領域としたときに被検出領域を検出するのに必要な所定領域の変位量を、複数のスライス領域の各々に対して算出し、算出された各々の変位量に基づいて、複数のスライス領域から、検査に用いるスライス領域を選定するスライス領域選定部と、を備える。
摘要翻译：一种测量处理装置，用于检测通过放置在放置单元上的试样的预定区域的X射线以检查试样的预定区域的形状的X射线检查装置具有：设置单元，设置要在样本上检测的三维区域; 以及切片区域选择单元，用于设置要检测的区域上的多个切片区域，计算包围多个切片区域的预定区域的位移量，以检测每个被检测区域的检测区域并且基于所计算的位移量，从多个切片区域中选择用于检查的切片区域。

5. 发明申请

WO2016035147A1 測定処理装置、測定処理方法、測定処理プログラムおよび構造物の製造方法审中-公开
标题翻译：测量加工设备，测量加工方法，测量加工程序和结构生产方法
公开(公告)号：WO2016035147A1
公开(公告)日：2016-03-10
申请号：PCT/JP2014/073096
申请日：2014-09-02
申请人：株式会社ニコン
发明人：町井　暢且 , 早野　史倫 , 河井　章利
IPC分类号： G01N23/04
CPC分类号： G01N23/04 , G01B15/04 , G01N23/046 , G01N2223/304 , G01N2223/306 , G01N2223/646
摘要：　測定処理装置は、被検物を透過するＸ線を検出部により検出して取得した透過像に基づいて、複数の被検物を順次検査するＸ線検査装置に用いる測定処理装置であって、被検物の一部に被検査領域を設定する設定部と、被検査領域を透過したＸ線の透過像を用いて、被検査領域の良品性を判定する判定部と、判定部による判定結果に基づいて、被検査領域の修正を行う修正部と、修正部により修正された修正被検査領域を表示する表示制御部と、を備える。
摘要翻译： 1，一种X射线检查装置中使用的测量处理装置，其特征在于，基于通过使用检测单元获取的透射图像来连续地检查多个样本，以检测通过样本的X射线，所述测量处理装置设置有设置单元，用于将样本的一部分设置为要检查的区域;确定单元，用于使用已经通过要检查的区域的X射线的透射图像来确定被检查区域的质量，校正单元，用于根据确定单元的确定结果来校正要检查的区域;以及显示和控制单元，用于显示由校正单元校正的被检查区域。

6. 发明申请

WO2015102574A1 CEMENT EVALUATION WITH NEUTRON-NEUTRON MEASUREMENT 审中-公开
标题翻译：具有中子 - 中子测量的水泥评估
公开(公告)号：WO2015102574A1
公开(公告)日：2015-07-09
申请号：PCT/US2013/078285
申请日：2013-12-30
申请人： HALLIBURTON ENERGY SERVICES, INC.
发明人： GUO, Weijun , DORFFER, Daniel, F.
IPC分类号： E21B47/10 , E21B47/117 , G01N23/05
CPC分类号： E21B47/0005 , E21B33/14 , G01N23/025 , G01N23/05 , G01N33/383 , G01N2223/304 , G01N2223/646
摘要： Various embodiments include apparatus and methods to conduct neutron-neutron measurements and to evaluate quality of cement between a casing and a formation. A tool can include a neutron source, a far detector, and a near detector, where the far detector and the near detector detect neutrons in response to activation of the neutron source. Measured counts of the detected neutrons can be compared with respect to expected counts of neutrons. From one or more comparisons, the quality of the cement can be evaluated. Additional apparatus, systems, and methods are disclosed.
摘要翻译：各种实施例包括用于进行中子 - 中子测量并评估壳体和地层之间的水泥质量的装置和方法。工具可以包括中子源，远检测器和近探测器，其中远检测器和近探测器响应于中子源的激活而检测中子。可以将所检测的中子的测量值与中子的预期计数进行比较。从一个或多个比较可以评估水泥的质量。公开了附加装置，系统和方法。

7. 发明申请

WO02049080A2 METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING A SUBSTRATE 审中-公开
标题翻译：检测基片的方法和装置
公开(公告)号：WO02049080A2
公开(公告)日：2002-06-20
申请号：PCT/US2001/048646
申请日：2001-12-14
IPC分类号： G01N21/956 , G01N23/20 , G01N23/225 , G03F1/00 , G03F7/20 , H01J37/22 , H01J37/28 , H01L21/66 , H01L
CPC分类号： G01N23/203 , G01N21/956 , G01N21/95607 , G01N23/20 , G01N23/2251 , G01N23/2252 , G01N2223/304 , G01N2223/611 , G01N2223/646 , G03F1/84 , G03F1/86 , G03F7/70616 , G03F7/7065 , H01J37/244 , H01J37/28 , H01J2237/2817
摘要： A method and apparatus for inspection and review of defects is disclosed wherein data gathering is improved. In one embodiment, multiple or segmented detectors are used in a particle beam system.
摘要翻译：本发明涉及一种用于检查和搜索缺陷的方法和装置，其改进了数据收集程序。在一个实施例中，在粒子束系统中使用多个或分段的检测器。

8. 发明申请

WO2016043013A8 X-RAY ANALYZING APPARATUS 审中-公开
标题翻译： X射线分析装置
公开(公告)号：WO2016043013A8
公开(公告)日：2017-03-16
申请号：PCT/JP2015074270
申请日：2015-08-27
申请人： RIGAKU DENKI CO LTD
发明人： SAKO YUKIO
IPC分类号： G01N23/223 , G01N23/207 , G01T1/17 , G01T1/36
CPC分类号： G01N23/223 , G01N2223/076 , G01N2223/303 , G01N2223/304 , G01T1/17 , G01T1/40
摘要： This x-ray analyzing apparatus is provided with a combination of the following: a first correction means (13A, 13B) that outputs a first gain that is for making the wave peak value of a target peak, which was estimated on the basis of the sum of a count rate found by preliminary measurement, match a prescribed expected wave peak value; and a second correction means (14A, 14B) that carries out feedback control in real time to output a second gain which is to be added to the first gain, and that performs such output to make a wave peak value of a target peak detected in a prescribed energy range match an expected wave peak value. In addition, the x-ray analyzing apparatus is provided with a feedback control stop means (16A, 16B) that accurately determines the presence or absence of an interference line with respect to a target peak, and in a case where it was determined that there is an interference line, sets the gain to a certain value consisting of the first gain.
摘要翻译：该X射线分析装置具有以下的组合：第一校正装置（13A，13B），其输出用于使目标峰值的波峰值的第一增益，其基于通过初步测量发现的计数率的总和匹配规定的预期波峰值; 以及第二校正装置（14A，14B），其实时执行反馈控制以输出要添加到所述第一增益的第二增益，并且执行所述输出以使检测到的目标峰的波峰值规定的能量范围与期望的波峰值相匹配。另外，X射线分析装置具备准确地确定相对于目标峰值的干涉线的有无的反馈控制停止装置（16A，16B），在判定为是干扰线，将增益设置为由第一增益组成的特定值。

9. 发明申请

WO2016059673A1 Ｘ線薄膜検査装置审中-公开
标题翻译： X射线薄膜检查装置
公开(公告)号：WO2016059673A1
公开(公告)日：2016-04-21
申请号：PCT/JP2014/077336
申请日：2014-10-14
申请人：株式会社リガク
发明人：尾形　潔 , 表　和彦 , 伊藤　義泰 , 本野　寛 , 吉田　宗生 , ▲高▼橋　秀明
IPC分类号： G01N23/20 , G01N23/223
CPC分类号： G01N23/223 , G01N2223/304 , G01N2223/306 , G01N2223/31 , G01N2223/61 , H01L22/12
摘要：　本発明のＸ線薄膜検査装置は、第１の旋回アーム３２に搭載されたＸ線照射ユニット４０と、第２の旋回アーム３３に搭載されたＸ線検出器５０と、Ｘ線の照射により検査対象から発生する蛍光Ｘ線を検出する蛍光Ｘ線検出器６０と、Ｘ線薄膜検査装置の温度に相当する温度を測定する温度測定ユニット１１０と、温度測定ユニット１１０により測定した温度に基づき検査位置を補正する温度補正システム（中央委処理装置１００）とを備えている。
摘要翻译：该X射线薄膜检查装置设置有安装在第一转动臂（32）上的x射线照射单元（40）。安装在第二转动臂（33）上的x射线检测器（50）; x射线荧光检测器（60），其检测由于X射线照射而从检查对象产生的X射线荧光; 测量对应于X射线薄膜检查装置的温度的温度的温度测量单元（110）; 以及基于由温度测量单元（110）测量的温度校正检查位置的温度校正系统（中央处理设备（100））。

10. 发明申请

WO2016031045A1 炉外核計装装置审中-公开
标题翻译：超核心仪器设备
公开(公告)号：WO2016031045A1
公开(公告)日：2016-03-03
申请号：PCT/JP2014/072723
申请日：2014-08-29
申请人：三菱電機株式会社
发明人：津田　裕行 , 齊藤　敦
IPC分类号： G21C17/10 , G21C17/108 , H03G3/30
CPC分类号： G21C17/108 , G01N23/005 , G01N2223/304 , G01T1/17 , G01T3/00 , H03G1/0088
摘要：　検出器信号処理回路を、前記中性子検出器で変換された電流値をその電流値に応じた電圧値に変換する電流/電圧変換部と、Ｄ/Ａコンバータを付設した演算増幅器を有し前記電流/電圧変換部で変換された電圧値を増幅する可変ゲイン増幅部と、前記Ｄ/Ａコンバータのゲインを調整する調整制御手段と、前記可変ゲイン増幅部で増幅された出力電圧を予め設定された基準値を基に自動比較して前記調整制御手段に出力するコンパレータとから構成したもの。
摘要翻译：在本发明中，检测器信号处理电路包括：电流和电压转换单元，其将由中子检测器转换的电流值转换为与该电流值一致的电压值; 可变增益放大单元，其包括附接有D / A转换器的运算放大器，并放大由电流和电压转换单元转换的电压值; 调节控制装置，其调节D / A转换器的增益; 以及比较器，其基于预先设定的参考值自动地比较由可变增益放大单元放大的输出电压，并将这些结果输出到调节控制装置。

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