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    • 2. 发明申请
    • METHOD OF PRODUCING MICRONEEDLES
    • 生产麦克风的方法
    • WO2011015650A3
    • 2011-10-27
    • PCT/EP2010061477
    • 2010-08-06
    • O'MAHONY CONORO'BRIEN JOSEPHBLAKE ALANWEBSTER CARLOUNIV COLLEGE CORK NAT UNIV IE
    • O'MAHONY CONORO'BRIEN JOSEPHBLAKE ALANWEBSTER CARLO
    • A61M37/00B81C1/00
    • B81C1/00111A61M37/0015A61M2037/0053B81B2201/055B81B2203/0384B81C2201/0133
    • A method of forming a microneedle device comprises the steps of coating the front and back surfaces of a substrate with a protective masking material, patterning the protective masking material to form a protective mask on the front surface of the substrate and an opening in the protective masking material on the back surface of the substrate, and simultaneously wet-etching both front and back surfaces of the substrate to provide a generally conical microneedle on the front surface of the substrate and a generally conical pit on the back surface of the substrate. The dimensions and location of the protective mask and opening are chosen so that the pyramidal pit extends from the back surface to intersect the front surface of the substrate, generally on, or adjacent to, a surface of the conical microneedle. Thus, a through-hole is formed in the substrate providing fluid communication from a rear of the substrate to a location on the front surface of the substrate, either on the microneedle surface or adjacent to a base of the microneedle.
    • 形成微针装置的方法包括以下步骤:用保护性掩蔽材料涂覆基材的前表面和后表面,图案化保护性掩模材料以在基材的前表面上形成保护掩模,并在保护掩模中形成开口 材料,同时湿式蚀刻基板的前表面和后表面,以在基板的前表面上提供大致圆锥形的微针,并且在基板的背面上具有大致圆锥形的凹坑。 选择保护面罩和开口的尺寸和位置,使得金字塔形凹坑从背面延伸以与基底的前表面相交,通常在锥形微针的表面上或邻近圆锥形微针的表面。 因此,在基板中形成通孔,该基板提供从基板的后部到基板的前表面上的位置(在微针表面上或邻近微针的基部)的流体连通。
    • 3. 发明申请
    • METHOD FOR PRODUCING MICROMECHANICAL STRUCTURES HAVING A PROTRUDING LATERAL WALL PROGRESSION OR AN ADJUSTABLE ANGLE OF INCLINATION
    • 用于生产微机械结构救济侧壁或性能角度可调
    • WO2009059868A3
    • 2009-09-17
    • PCT/EP2008063703
    • 2008-10-13
    • BOSCH GMBH ROBERTLAERMER FRANZFUCHS TINOLEINENBACH CHRISTINA
    • LAERMER FRANZFUCHS TINOLEINENBACH CHRISTINA
    • B81C1/00
    • B81C1/00103B81B2203/0384B81C2201/0136
    • The invention relates to a method for producing micromechanical structures having a raised lateral wall progression or an adjustable angle of inclination. The micromechanical structures are etched out of an SiGe-mixed semiconductor layer (3a, 3b, 30, 30a, 30b, 50) provided on, or deposited on, a silicon semiconductor layer (1, 10), by dry-chemical etching of the SiGe-mixed semiconductor layer (3a, 3b, 30, 30a, 30b, 50). The lateral wall progression of the micromechanical structure is formed by varying the germanium part in the SiGe-mixed semiconductor layer (3a, 3b, 30, 30a, 30b, 50) to be etched. There is a higher germanium part in regions that are to etched more aggressively. The variation of the germanium part in the SiGe-mixed semiconductor layer (3a, 3b, 30, 30a, 30b, 50) is adjusted by a method selected from a group wherein an SiGe-mixed semiconductor layer (3a, 3b, 30, 30a, 30b, 50) having a varying germanium content is deposited, wherein germanium is introduced into a silicon semiconductor layer or an SiGe-mixed semiconductor layer (3a, 3b, 30, 30a, 30b, 50), wherein silicon is introduced into a germanium layer or an SiGe-mixed semiconductor layer (3a, 3b, 30, 30a, 30b, 50), and/or wherein a SiGe-mixed semiconductor layer (3a, 3b, 30, 30a, 30b, 50) is subjected to thermal oxidation.
    • 本发明涉及一种方法,用于生产具有浮雕状侧壁轮廓或倾斜的角度可调,得到微机械结构由硅半导体基板(1,10)现有或沉积SiGe混合半导体层上的微机械结构(3A,3B,30,30A,30B ,50)由SiGe混合半导体层的干式化学蚀刻(3A,3B,30,30A,30B,50)出蚀刻通过改变(将被蚀刻SiGe混合半导体层3a,3b中的锗含量,得到的微机械结构的侧壁轮廓, 30,30A,30B,50)形成,在多个区域被蚀刻,较高的锗比例存在,其中一个选择,则SiGe混合半导体层中的锗比例(3A,3B,30,30A,30B,50)的通过的过程中的变化 该组包括SiGe混合半导体层(3A,3B,30,30A,30B,50)的沉积具有不同锗含量,引入的 锗到硅半导体层或SiGe混合半导体层(3A,3B,30,30A,30B,50),硅的掺入锗层或SiGe混合半导体层(3A,3B,30,30A,30B,50)和/或 由SiGe混合半导体层的热氧化(3A,3B,30,30A,30B,50)设置。
    • 5. 发明申请
    • レーザ加工方法
    • 激光加工方法
    • WO2012014709A1
    • 2012-02-02
    • PCT/JP2011/066319
    • 2011-07-19
    • 浜松ホトニクス株式会社下井 英樹久嶋 浩之荒木 佳祐
    • 下井 英樹久嶋 浩之荒木 佳祐
    • B23K26/38B23K26/00B23K26/06B23K26/40H01L21/306
    • H01L23/481B23K26/006B23K26/382B23K26/384B23K26/40B23K2203/50B81B2203/0353B81B2203/0384B81C1/00087B81C2201/0143H01L21/30608H01L21/76898H01L2924/0002H01L2924/00012H01L2924/00
    • シリコンで形成された板状の加工対象物(1)に孔(24)を形成するためのレーザ加工方法であって、加工対象物(1)のレーザ光入射面側において該レーザ光入射面(3)に開口する凹部(10)を孔(24)に対応する部分に形成する凹部形成工程と、凹部形成工程の後、加工対象物(1)にレーザ光(L)を集光させることにより、加工対象物(1)における孔(24)に対応する部分に沿って改質領域(7)を形成する改質領域形成工程と、改質領域形成工程の後、加工対象物(1)に異方性エッチング処理を施すことにより、改質領域(7)に沿ってエッチングを選択的に進展させ、加工対象物(1)に孔(24)を形成するエッチング処理工程と、を備え、改質領域形成工程では、改質領域(7)又は該改質領域(7)から延びる亀裂(C)を凹部の内面に露出させることを特徴とするレーザ加工方法。
    • 公开了一种用于在由硅形成的平坦目标物体(1)中形成孔(24)的激光加工方法。 所述方法包括:凹陷形成步骤,其中在所述激光入射表面的一部分中形成有朝向所述目标物体(1)的激光入射表面(3)开口的凹部(10),所述凹部 对应于上述孔(24); 变形区域形成步骤,在所述凹陷形成步骤之后,其中激光(L)被聚焦到所述目标物体(1)上以沿着对象物体(1)的一部分形成修改区域(7) 到所述孔(24); 以及蚀刻处理步骤,在所述目标物体(1)被各向异性蚀刻后的所述改质区域形成工序之后,使所述蚀刻沿着所述改质区域(7)选择性地进行,以在所述靶材中形成孔(24) 对象(1)。 所公开的激光加工方法的特征在于,在改质区域形成步骤中,从改质区域(7)延伸的改质区域(7)或裂纹(C)暴露于凹部的内表面。
    • 9. 发明申请
    • VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG VON MIKROMECHANISCHEN STRUKTUREN MIT RELIEFARTIGEM SEITENWANDVERLAUF ODER EINSTELLBAREM NEIGUNGSWINKEL
    • 用释放侧壁程序或可调倾斜角生产微机械结构的方法
    • WO2009059868A2
    • 2009-05-14
    • PCT/EP2008/063703
    • 2008-10-13
    • ROBERT BOSCH GMBHLAERMER, FranzFUCHS, TinoLEINENBACH, Christina
    • LAERMER, FranzFUCHS, TinoLEINENBACH, Christina
    • B81C1/00
    • B81C1/00103B81B2203/0384B81C2201/0136
    • Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung von mikromechanischen Strukturen mit reliefartigem Seitenwandverlauf oder einstellbarem Neigungswinkel, wobei man die mikromechanischen Strukturen aus einer auf einem Silizium-Halbleitersubstrat (1, 10) vorhandenen oder abgeschiedenen SiGe-Mischhalbleiterschicht (3a, 3b, 30, 30a, 30b, 50) durch trockenchemisches Ätzen der SiGe-Mischhalbleiterschicht (3 a, 3b, 30, 30a, 30b, 50) herausätzt, wobei man den Seitenwandverlauf der mikromechanischen Struktur durch Variieren des Germaniumanteils in der zu ätzenden SiGe-Mischhalbleiterschicht (3 a, 3b, 30, 30a, 30b, 50) ausbildet, wobei in stärker zu ätzenden Bereichen ein höherer Germaniumanteil vorliegt, wobei man die Variation des Germaniumanteils in der SiGe- Mischhalbleiterschicht (3a, 3b, 30, 30a, 30b, 50) durch ein Verfahren ausgewählt aus der Gruppe umfassend Abscheiden einer SiGe-Mischhalbleiterschicht (3a, 3b, 30, 30a, 30b, 50) mit variierendem Germaniumgehalt, Einbringen von Germanium in eine Silizium- Halbleiterschicht oder SiGe-Mischhalbleiterschicht (3a, 3b, 30, 30a, 30b, 50), Einbringen von Silizium in eine Germaniumschicht oder SiGe-Mischhalbleiterschicht (3a, 3b, 30, 30a, 30b, 50) und/oder durch thermische Oxidation einer SiGe-Mischhalbleiterschicht (3a, 3b, 30, 30a, 30b, 50) einstellt.
    • 本发明涉及一种用于制造具有浮雕状侧壁轮廓或倾斜的角度可调,得到微机械结构由硅半导体基板(1,10)的微机械结构的现有或沉积SiGe混合半导体层(3A ,3B,30,30A,30B,50)通过干化学BEAR tzen SiGe混合半导体层(3A,3B,30,30A,30B,50)出来BEAR TZT通过改变锗比例,得到微机械结构的侧壁轮廓 的约AUML; tzenden SiGe混合半导体层(3A,3B,30,30A,30B,50)的形式,其中,STÄ rker承受tzenden一个H&ouml的领域;本herer锗含量,这是在硅锗中的锗比例的变化 - 混合半导体层(3A,3B,30,30A,30B,50),通过这样的方法&AUML选择;由包含SiGe混合半导体层(3A,3B,30,30A,30B,50),其具有变种的沉积组HLT iierendem锗含量,引入锗到硅半导体层或SiGe混合半导体层(3A,3B,30,30A,30B,50),硅的掺入锗层或SiGe混合半导体层(3A,3B,30,30A,30B, 50)和/或通过热氧化SiGe混合半导体层(3a,3b,30,30a,30b,50)