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1. 发明申请

WO2013075733A1 ELEKTRONISCHE ANSTEUERSCHALTUNG MIT LEISTUNGSTRANSISTOREN SOWIE VERFAHREN ZUR LEBENSDAUER-ÜBERWACHUNG DER LEISTUNGSTRANSISTOREN 审中-公开
标题翻译：与功率晶体管和方法功率晶体管的寿命监测结果电子控制电路
公开(公告)号：WO2013075733A1
公开(公告)日：2013-05-30
申请号：PCT/EP2011/070594
申请日：2011-11-21
申请人： EBM-PAPST MULFINGEN GMBH & CO. KG , LIPP, Helmut , HAAS, Günter , BÜRKERT, Martin
发明人： LIPP, Helmut , HAAS, Günter , BÜRKERT, Martin
IPC分类号： G01K7/01 , G01R31/26 , H02M1/32
CPC分类号： G01R31/282 , G01R31/2642 , G01R31/42 , H02M7/53875
摘要： Die vorliegende Erfindung betrifft eine elektronische Ansteuerschaltung (1) für ein elektrisches Gerät, insbesondere in einer Ausbildung als Kommutierungselektronik (2) eines EC-Motors (M), mit mehreren Leistungstransistoren (T1–T6), die in einem Betriebsmodus zum Ansteuern des Gerätes gesteuert werden. Ein zusätzlicher, gleichartiger, im Betriebsmodus der Leistungstransistoren (T1–T6) unbelasteter Referenztransistor (T test ) ist zusammen mit den Leistungstransistoren (T1–T6) auf einemgemeinsamen Träger oder Substrat angeordnet oder gebildet. Weiterhin sind Mittel zum Beaufschlagen des Referenztransistors (T test ) und mindestens eines der Leistungstransistoren (T1–T6) in einem Testmodus mit jeweils einem Prüfstrom und zum Messen der jeweils zugehörigen Sättigungsspannung (U CE sat ) sowie zum Auswerten einer aus den gemessenen Sättigungsspannungen (U CE sat ) des Referenztransistors (T test ) und des jeweiligen Leistungstransistors (T1–T6) resultierenden Sättigungsspannungsdifferenz unter Berücksichtigung der während der Messung herrschenden Träger-/Substrat-Temperatur als Kriterium für einen Alterungsprozess und eine noch zu erwartende Rest-Lebensdauer der Leistungstransistoren (T1–T6) vorgesehen. Ferner beschreibt die Erfindung ein Verfahren zum Überwachen von Leistungstransistoren (T1–T6) in einer solchen elektronischen Ansteuerschaltung (1) hinsichtlich ihrer zu erwartenden Rest-Lebensdauer.
摘要翻译：本发明涉及一种用于电气装置的电子控制电路（1），特别是在设计换向电子器件（2）EC电机（M），具有多个功率晶体管（T1-T6）的，这是在一个操作模式来控制用于驱动所述装置的是。一个附加的，相似的，在卸载参考晶体管的功率晶体管（T1-T6）（t检验）的操作模式是否与常用的载体或衬底或形成在功率晶体管（T1-T6）布置在一起。此外，用于将所述参考晶体管（t检验），并在测试模式下的功率晶体管（T1-T6）中的至少一个，每一个测试电流和用于测量各个相关联的饱和电压是（UCE饱和）和（饱和UCE），用于从所测量的饱和电压评估参考晶体管（t检验）和相应的功率晶体管（T1-T6）被提供在考虑测量载体/衬底温度作为老化过程的准则和功率晶体管（T1-T6）的静止预期剩余寿命期间存在的所得饱和电压差，此外，本发明描述了相对于它们的预期剩余使用寿命为在这样的电子驱动电路（1）的功率晶体管（T1-T6）的监视的方法。

2. 发明申请

WO2019020674A1 DRAHTLOSE VERGABE VON NETZWERKADRESSEN 审中-公开
公开(公告)号：WO2019020674A1
公开(公告)日：2019-01-31
申请号：PCT/EP2018/070132
申请日：2018-07-25
申请人： EBM-PAPST MULFINGEN GMBH & CO. KG
发明人： BÜRKERT, Martin , LIPP, Helmut , SAUER, Thomas , HAAS, Günter , HUMM, Markus , WECKERT, Marco
IPC分类号： H04L29/12 , H04L12/40 , H04L12/24
摘要： Die vorliegende Erfindung betrifft ein dynamisch adressierbares Master-Slave-System und ein Verfahren zum dynamischen Adressieren von Slave-Einheiten, wobei eine Master-Einheit (1) und eine Mehrzahl von Slave-Einheiten (2) vorgesehen sind und die Slave- Einheiten (2) mit der Master-Einheit (1) über ein Bus-System (3) miteinander verbunden sind. In einer Tabelle in der Master-Einheit sind die jeweiligen Netzadressen der Slave-Einheiten den jeweiligen Seriennummern dieser Slave-Einheiten entsprechend ihrer Position im System entsprechend einer festgelegten Ordnung zugeordnet. Bei Austausch von Slave-Einheiten wird eine Liste von Seriennummern der auszutauschenden Einheiten in der Reihenfolge der Erfassung der Seriennummern der Master-Einheit übergeben, der diese in der Tabelle mit den der Master-Einheit übermittelten Seriennummern der ausgetauschten Slave-Einhieten ersetzt.

3. 发明申请

WO2019015812A1 STEUERUNGSELEKTRONIK FÜR KÄLTETECHNISCHE ANLAGEN 审中-公开
公开(公告)号：WO2019015812A1
公开(公告)日：2019-01-24
申请号：PCT/EP2018/056793
申请日：2018-03-19
申请人： EBM-PAPST MULFINGEN GMBH & CO. KG
发明人： SCHNEIDER, Alex , LIPP, Helmut
IPC分类号： H02P27/06 , H02M5/458 , H02M1/00
CPC分类号： H02P27/06 , H02M5/458 , H02M2001/008
摘要： Die Erfindung betrifft eine Steuerungselektronik für kältetechnische Anlagen mit kältetechnischen Komponenten (K1,..., Kn) umfassend ein zentrales elektronisches Steuerungsmodul (10) mit einem Gleichrichter (11) und einem Zwischenkreiskondensator (12) sowie einer Mehrzahl an Endstufen (13), an welche die kältetechnischen Komponenten (K1,..., Kn) spannungsseitig an Schnittstellen (S) angeschlossen werden können, wobei die jeweilige Endstufen (13) eingangsseitig über den gemeinsam genutzten Zwischenkreiskondensator (12) mit dem gemeinsam genutzten Gleichrichter (11) verbunden sind und die Schnittstellen (S) mit einem zentralen Schnittstellencontroller (20) steuerungstechnisch verbunden sind.

4. 发明申请

WO2013075749A1 ELEKTRONISCHER SCHALTKREIS UND VERFAHREN ZUM ANSTEUERN EINES HALBLEITERSCHALTERS 审中-公开
标题翻译：电子电路及其控制方法半导体开关
公开(公告)号：WO2013075749A1
公开(公告)日：2013-05-30
申请号：PCT/EP2011/070988
申请日：2011-11-24
申请人： EBM-PAPST MULFINGEN GMBH & CO. KG , LIPP, Helmut , WYSTUP, Ralph , SCHNEIDER, Fabian , SCHROTH, Sebastian
发明人： LIPP, Helmut , WYSTUP, Ralph , SCHNEIDER, Fabian , SCHROTH, Sebastian
IPC分类号： H03K17/16
CPC分类号： H02P6/14 , H02P6/085 , H02P27/06 , H03K17/166 , Y02T10/7005
摘要： Die vorliegende Erfindung betrifft einen elektronischen Schaltkreis (1) mit mindestens einem mit seiner Schaltstrecke (D-S) in Reihe zu einer anzusteuernden induktiven Last (2) liegenden Halbleiterschalter (S) und mindestens einem während Schaltphasen mit dem Halbleiterschalter (S) zusammenwirkenden und dabei ebenfalls in Reihe zu der Last (2) liegenden Freilaufelement (FD). Eine Steuerung steuert einen Steueranschluss (G) des Halbleiterschalters (S) mit einem variablen Steuerstrom (i G (t)) in Abhängigkeit vom zeitlichen Verlauf einer an dem Freilaufelement (FD) gemessenen Spannung (u FD (t)) und/oder in Abhängigkeit vom zeitlichen Verlauf der an der Schaltstrecke (D-S) gemessenen Spannung (u DS (t)) an. Weiterhin betrifft die Erfindung ein Verfahren zum Ansteuern eines Halbleiterschalters (S) eines solchen Schaltkreises (1), der zum Umschalten mit einem variablen Steuerstrom (i G (t)) angesteuert wird, der in Abhängigkeit vom zeitlichen Verlauf einer an dem Freilaufelement (FD) gemessenen Spannung (u FD (t)) und/oder in Abhängigkeit vom zeitlichen Verlauf der an der Schaltstrecke (D-S) gemessenen Spannung (u DS (t)) vorgegeben wird. Vorteilhaft ist eine Anwendung zum Ansteuern von Halbleiterschaltern einer Brücken-Umrichterschaltung (10) insbesondere zum Betrieb eines EC-Motors.
摘要翻译：本发明涉及一种电子电路（1）具有串联连接的其开关路径（DS）中的至少一个被驱动感性负载（2）位于半导体开关（S）和半导体开关（S）的开关阶段期间至少一个协作并且同样在躺在与负载串联（2）振荡元件（FD）。控制器控制具有可变控制电流的半导体开关（S）（IG（t））的作为的一个续流元件（FD）的测量电压（UFD（t））和/或作为时间的函数的时间曲线的功能的控制端子（G）当然所测量到在切换路径（DS）的电压（UDS（t））的的。此外，本发明涉及一种用于驱动这种电路（1）的半导体开关（S），用于与可变控制电流（（IG t））的开关被驱动时，所测量的相对于的所述续流元件的时间特性（FD）电压（UFD（t））和/或在上的在开关路径的时间过程依赖性（（UDS t））的（DS）测得的电压是预定的。它有利的是使用用于驱动桥逆变器电路（10）的半导体开关，特别是用于操作EC电机。

5. 发明申请

WO2019020269A1 DRAHTLOSÜBERTRAGUNG 审中-公开
公开(公告)号：WO2019020269A1
公开(公告)日：2019-01-31
申请号：PCT/EP2018/065705
申请日：2018-06-13
申请人： EBM-PAPST MULFINGEN GMBH & CO. KG
发明人： BÜRKERT, Martin , LIPP, Helmut , SAUER, Thomas , HAAS, Günter , HUMM, Markus , WECKERT, Marco
IPC分类号： H02K5/22 , H02K16/00 , H02K11/35 , H04W84/20 , F24F13/20 , F24F11/54 , F24F11/56 , G08C17/02
CPC分类号： H02K5/225 , F24F11/54 , F24F11/56 , F24F13/20 , G08C17/02 , H02K11/35 , H02K16/00 , H04W84/20
摘要： Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung (1) aus zwei oder mehreren Elektroantrieben (S1,..., S8) mit einem jeweils vorzugsweise umfangsgeschlossenen Gehäuse (G), wobei ein Transceiver oder Funksender (T) innerhalb des Gehäuses (G) der jeweiligen Elektroantriebe (S1,..., S8) vorgesehen ist, der zur drahtlose Datenkommunikation mit einer übergeordneten Steuerung (2) ausgebildet ist, wozu hierzu eine bestimmungsgemäß angebrachte Transmissionsöffnung (A1,..., A8) im jeweiligen Gehäuse (G) vorgesehen ist, um Daten durch die Transmissionsöffnung hindurch zu senden und zu empfangen.

6. 发明申请

WO2018134154A1 WICKLUNGSTEMPERATURÜBERWACHUNG 审中-公开
公开(公告)号：WO2018134154A1
公开(公告)日：2018-07-26
申请号：PCT/EP2018/050879
申请日：2018-01-15
申请人： EBM-PAPST MULFINGEN GMBH & CO. KG
发明人： LIPP, Helmut , MÜLLER, Werner
IPC分类号： H02H5/04 , H02K11/25 , H02H6/00
摘要： Die Erfindung betrifft eine Anordnung (1 ) zur indirekten Erfassung der Wicklungstemperatur der Zahnwicklungen (2) eines Elektromotors (3) ausgebildet mit einem Statorpaket (4) umfassend wenigstens einen Sensorbauraum (5) innerhalb des Statorpakets (4) wobei der jeweilige Sensorbauraum (5) zu den Wicklungen (2) des Motors (3) beabstandetet angeordnetet ist zur Erfassung der jeweils lokalen Temperatur T L mit wenigstens einem Temperatursensor (10), der in einem Sensorbauraum (5) angeordnet ist sowie einem Korrekturglied (20) zur Ermittlung der Wicklungstemperatur T w aus der jeweiligen von einem Temperatursensor (10) erfassten lokalen Temperatur T L und einem Korrekturwert K L .

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