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    • 9. 发明申请
    • 기생 커패시턴스를 식별하기 위한 전자 장치 및 방법
    • WO2020122424A1
    • 2020-06-18
    • PCT/KR2019/015032
    • 2019-11-07
    • 삼성전자 주식회사
    • 이지훈민은기김영현장남석
    • G06F3/041G01R27/26G06F3/044G06F1/16G06F3/01
    • 본 발명의 다양한 실시 예는 기생 커패시턴스를 식별하기 위한 전자 장치 및 방법에 관한 것이다. 다양한 실시 예들에 따른 전자 장치는, 하우징; 상기 하우징의 일부에 배치된 디스플레이; 상기 하우징의 외부 또는 상기 디스플레이에 배치된 도전성 전극; 상기 하우징 내부에 배치된 정전 커패시티브 센서; 상기 도전성 전극 및 상기 정전 커패시티브 센서 사이에 전기적으로 연결된 적어도 하나의 스위치; 및 상기 스위치를 제어하도록 구성된 제어 회로를 포함하고, 상기 제어 회로는, 상기 적어도 하나의 스위치가 오픈된 상태에서, 상기 정전 커패시티브 센서를 이용하여, 제1정전 커패시턴스 값을 측정하고, 상기 적어도 하나의 스위치가 연결된 상태에서, 상기 정전 커패시티브 센서를 이용하여, 제2정전 커패시턴스 값을 측정하고, 상기 제1정전 커패시턴스 값과 상기 제2정전 커패시턴스 값에 적어도 일부 기반하여, 기생 커패시턴스 값을 계산하고, 상기 도전성 전극에, 외부 물체가 접촉한 상태에서, 임피던스 값을 측정하고, 상기 기생 커패시턴스 값에 적어도 기반하여, 상기 임피던스 값을 보정하도록 구성될 수 있다.