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1. 发明申请

WO2012157930A2 터치 위치의 검출 정확도가 향상된 터치 패널 센서 장치 审中-公开
标题翻译：用于检测触摸位置的提高精度的触控面板传感器的触控面板传感器设备
公开(公告)号：WO2012157930A2
公开(公告)日：2012-11-22
申请号：PCT/KR2012/003775
申请日：2012-05-14
申请人： (주)이미지스테크놀로지 , 이상진 , 조인호 , 이계성
发明人： 이상진 , 조인호 , 이계성
CPC分类号： G06F3/044
摘要： 본 발명에서 제안하고 있는 터치 위치의 검출 정확도가 향상된 터치 패널 센서 장치에 따르면, 복수의 홈 또는 돌기가 형성된 다각형 형태의 적어도 둘 이상의 저항성 전도체를 터치 패널의 일면에 나열함으로써, 하나의 투명 전극 층을 이용하여 두 층을 사용하는 것과 같은 효과를 얻을 수 있어 경제적이고, 터치 신호가 입력될 때 두 개 이상의 저항성 전도체에 접촉이 이루어져 안정적인 터치를 제공하며, 저항성 전도체의 면적 변화를 강조하여 저항 변화가 커지고 접촉 시 발생하는 신호 변화를 극대화하여 터치 위치의 검출 정확도를 향상시킬 수 있다.
摘要翻译：在根据本发明的具有提高的检测触摸位置精度的触摸面板传感器的触摸面板传感器设备中，由于至少两个具有多边形形状的电阻导体，其中形成有多个凹槽或突起，通过使用至少一个透明电极层，可以获得与使用两层相同的效果，并且经济地获得效果。因此，当输入触摸信号时，通过至少两个电阻性导体接触来提供稳定的触摸。强调电阻导体的面积的变化，以便增加电阻的变化并使接触时发生的信号变化最大化，从而提高检测触摸位置的精度。

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