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1. 发明申请

WO2008051107A1 TESTING OF A TEST ELEMENT 审中-公开
标题翻译：测试元素的测试
公开(公告)号：WO2008051107A1
公开(公告)日：2008-05-02
申请号：PCT/RU2006/000563
申请日：2006-10-26
申请人： MOTOROLA INC. , ILYIN, Vyacheslav Vladimirovich , KRUZHKOV, Oleg Aleksandrovich
发明人： ILYIN, Vyacheslav Vladimirovich , KRUZHKOV, Oleg Aleksandrovich
IPC分类号： G01R31/319
CPC分类号： G01R31/319 , G01R31/31901 , G01R31/31908
摘要： The invention relates to a test system for testing a test element (101) which is arranged to test a test object (103) coupled to the test element (101). The test system comprises a deviation processor (207) arranged to introduce a deviated action to the test object (103) such that the test object (103) performs the deviated action instead of a nominal action. A test control processor (205) initiates a test of the test object (103) by the test element (101). An evaluation processor (209) determines a test performance indication for the test element (101) in response to a comparison of a test result of a test of the test object (103) by the test element (101) and an expected test result for the test resulting from the deviated action. The test system allows improved test and verification of a test setup including both the tested object and the test equipment. FIG. 2 to accompany the abstract.
摘要翻译：本发明涉及一种用于测试测试元件（101）的测试系统，该测试元件被设置成测试耦合到测试元件（101）的测试对象（103）。测试系统包括偏差处理器（207），该偏差处理器（207）被布置成向测试对象（103）引入偏离的动作，使得测试对象（103）执行偏离的动作而不是标称动作。测试控制处理器（205）通过测试元件（101）启动测试对象（103）的测试。评估处理器（209）响应于测试对象（103）由测试元件（101）的测试的测试结果与预期的测试结果（101）的测试结果的比较，确定测试元件（101）的测试性能指示，测试产生的偏离行动。测试系统允许改进测试设备的测试和验证，包括测试对象和测试设备。图。 2陪同抽象。

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