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    • 1. 发明申请
    • 半導体集積回路及びその半導体集積回路を含んだ半導体システム
    • 半导体集成电路和包括半导体集成电路的半导体系统
    • WO2005076022A1
    • 2005-08-18
    • PCT/JP2005/001805
    • 2005-02-08
    • 松下電器産業株式会社饗庭 侯彦前 洋一郎吉田 久人
    • 饗庭 侯彦前 洋一郎吉田 久人
    • G01R31/28
    • G01R31/319
    •  半導体集積回路に備えた論理回路11の経年劣化等に起因する故障を判定する場合に、論理回路11の論理とは異なる論理で生成された生成回路12が備えられる。この生成回路12は、前記論理回路11が出力する所定出力信号outに対する異常/正常の判定基準Sを生成する。この生成回路12は、前記論理回路11の回路規模よりも小規模で構成されるように、論理回路11の一部の論理のみで構成されたり、又は論理回路11の論理とは全く異なる論理で構成されて、判定基準Sを生成する。生成回路12からの判定基準Sと論理回路11の出力信号outとは、判定回路13において比較される。
    • 在确定包含在半导体集成电路中的逻辑电路(11)的老化劣化等引起的故障的情况下,提供使用与逻辑电路不同的逻辑(12)构成的发生电路(12) 11)。 发电机电路(12)产生由逻辑电路(11)开发的预定输出信号(out)的异常/正常判定基准(S)。 发电机电路(12)通过仅使用逻辑电路(11)的一部分逻辑或者使用与逻辑电路(11)的逻辑完全不同的逻辑来构成,使得发电机电路(12)具有 比逻辑电路(11)小的电路尺寸,以产生确定基准(S)。 确定电路(13)将来自发电机电路(12)的确定基准(S)与来自逻辑电路(11)的输出信号(out)进行比较。