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    • 83. 发明申请
    • HIGH VOLTAGE TOLERANT PORT DRIVER
    • 高压容量端口驱动器
    • WO2007051083A2
    • 2007-05-03
    • PCT/US2006060057
    • 2006-10-18
    • ATMEL CORPLAMBRACHE EMIL
    • LAMBRACHE EMIL
    • H03B1/00
    • H03K19/00315H03K19/0013
    • A high-voltage tolerant driver (200; 300) includes a plurality of output drive devices capable of tolerating an overvoltage, sustaining an electrical connection to an elevated voltage level, and producing an output voltage at an indigenous supply level. An initial pullup drive circuit (204) is coupled to the plurality of output drive devices and produces an initial elevated drive voltage to the plurality of output drive devices (235a-c, 275a-c). A sustain pullup circuit (260, 360) is coupled to the plurality of output drive device and produces a sustained output voltage at the indigenous supply level.
    • 高耐压驱动器(200; 300)包括能够容忍过电压,维持升高的电压电平的电连接以及在本地电源电平下产生输出电压的多个输出驱动装置。 初始上拉驱动电路(204)耦合到多个输出驱动装置,并向多个输出驱动装置(235a-c,275a-c)产生初始升高的驱动电压。 维持上拉电路(260,360)耦合到多个输出驱动装置,并在本地电源电平下产生持续的输出电压。
    • 84. 发明申请
    • 入出力回路
    • 输入/输出电路
    • WO2004075407A1
    • 2004-09-02
    • PCT/JP2003/001812
    • 2003-02-19
    • 富士通株式会社千田 克彦橋本 賢治
    • 千田 克彦橋本 賢治
    • H03K19/00
    • H03K19/00315
    • 回路装置の電源オフ時に、外部から内部電圧以上の高電圧が印加された場合でも、内部電圧トランジスタであるNMOSトランジスタQ1のゲート・ドレイン間Aに高電圧が印加されず、ゲート酸化膜が破壊されない様に保護する事ができるトレラント特性を有する入出力回路を提供することを目的とする。上記目的を達成するために、発明に係わる半導体入出力回路では内部電源とGND間に接続された第1のPMOSトランジスタ及び第1のNMOSトランジスタと、第1のPMOSトランジスタと前記第1のNMOSトランジスタの間に配置され内部電源にゲートが接続された第2のNMOSトランジスタと、第2のNMOSトランジスタのドレインに接続されたPAD端子と、第2のNMOSトランジスタのゲートとドレインとの間に接続されたダイオードと、第2のNMOSトランジスタのゲートとGNDとの間に接続され、ダイオードに流れる電流を制御するための抵抗とを有することを特徴とする。
    • 具有公差特性的输入/输出电路,即使在电路器件断开的情况下,即使从外部施加高于内部电压的高电压,也不向施加在NMOS晶体管的栅极和漏极之间的A施加高电压 作为内部电压晶体管,因此栅极氧化膜不被破坏。 半导体输入/输出电路的特征在于包括连接在内部电源和GND之间的第一PMOS晶体管和第一NMOS晶体管,第二NMOS晶体管插入在第一PMOS晶体管和第一NMOS晶体管之间,并且栅极连接到 内部电源,连接到第二NMOS晶体管的漏极的PAD端子,连接在第二NMOS晶体管的栅极和漏极之间的二极管,以及连接在第二NMOS晶体管的栅极和GND之间并用于控制的电阻器 电流流过二极管。
    • 85. 发明申请
    • 半導体装置およびこれを用いた表示装置
    • 使用相同的半导体器件和显示器
    • WO2004055987A1
    • 2004-07-01
    • PCT/JP2003/015387
    • 2003-12-02
    • 株式会社半導体エネルギー研究所
    • 木村 肇
    • H03K19/0948
    • H03K19/018521H03K3/0375H03K19/00315
    • 信号電圧の振幅が、電源電圧の振幅よりも小さくても、正常に動作する手段を有する半導体装置を提供するため、正常に動作をさせたいとするデジタル回路の前に、補正手段を設ける。補正手段が出力する信号は、対象となるデジタル回路の中のトランジスタがオフ状態にならければならないときには、補正手段から、それを満足するような信号つまり、第1の電源電位が出力される。そのとき、前記トランジスタは、オフする。一方、前記トランジスタをオンさせたいときは、補正手段から、第1の入力電位が出力される。その結果、対象となるデジタル回路は、オフ状態にならなければならないときには、オフになり、オン状態にならなければならないときには、オンする。よって、対象となるデジタル回路は、正常に動作することが可能となる。
    • 为了提供具有允许半导体器件正常操作的装置的半导体器件,即使信号电压的幅度小于电源电压的幅度,在正常操作的数字电路之前提供校正装置 。 如果目标数字电路中的晶体管必须处于截止状态,则校正装置输出满足它的信号,即第一电源电位。 然后,晶体管关闭。 如果晶体管必须导通,则校正装置输出第一输入电位。 因此,当目标数字电路必须处于断开状态时,当它必须处于导通状态时才被接通,目标数字电路被关闭。 因此,目标数字电路可以正常工作。
    • 86. 发明申请
    • METHODS AND SYSTEMS FOR REDUCING POWER-ON FAILURES OF INTEGRATED CIRCUITS
    • 降低集成电路上电故障的方法与系统
    • WO2003073470A2
    • 2003-09-04
    • PCT/US2003/004875
    • 2003-02-21
    • BROADCOM CORPORATION
    • AJIT, Janardhanan, S.
    • H01L
    • H03K19/0013H03K17/08122H03K19/00315
    • Methods and systems for protecting integrated circuits ("ICs") from power-on sequence currents, including methods and systems for biasing transistors in paths susceptible to power-on sequence damage such that these paths do not have substantial current flow unless the power supplies controlling the gate of the susceptible transistors are powered on. In an embodiment, the invention is applied to a circuit having a first and second IC terminals coupled to a first and second power supplies, respectively. The invention protects the circuit in the event that the first power supply is powered-on before the second power supply is powered-on. The method includes sensing voltage amplitudes from the first and second power supplies. When first power supply is powered-on before the second power supply is powered-on, the first IC terminal is coupled to the second IC terminal. The substantially prevents undesired power-on sequence currents from flowing between the first and second IC terminals. For example, in an embodiment, the circuit to be protected is a transistor, such as a PMOS or an NMOS transistor. The first and second IC terminals are coupled to a source and a gate of the transistor. When the source and gate are coupled together, there is little or no voltage across the source/gate junction. As a result, little or no power-on sequence current flows through the source/gate junction. When the second power supply is powered-on, the first and second IC terminals are decoupled and the circuit is allowed to operate normally. In an embodiment, the first and second IC terminals are also decoupled when the first power supply is off.
    • 用于保护集成电路“IC”免受上电序列电流的方法和系统,包括用于在容易受到上电序列损坏的路径中偏置晶体管的方法和系统,使得这些路径不具有相当大的电流,除非控制栅极的电源 的敏感晶体管通电。 在一个实施例中,本发明应用于具有分别耦合到第一和第二电源的第一和第二IC端子的电路。 本发明在第二电源通电之前在第一电源通电的情况下保护电路。 该方法包括感测来自第一和第二电源的电压幅度。 当第一电源在第二电源通电之前通电时,第一IC端子耦合到第二IC端子。 基本上防止不期望的上电顺序电流在第一和第二IC端子之间流动。 例如,在一个实施例中,待保护的电路是诸如PMOS或NMOS晶体管的晶体管。 第一和第二IC端子耦合到晶体管的源极和栅极。 当源极和栅极耦合在一起时,源极/栅极结上的电压很小或没有电压。 结果,很少或没有上电顺序电流流过源极/栅极结。 当第二个电源通电时,第一个和第二个IC端子被去耦合,允许电路正常工作。 在一个实施例中,当第一电源关闭时,第一和第二IC端子也被去耦。
    • 88. 发明申请
    • INPUT STAGE RESISTANT AGAINST HIGH VOLTAGE SWINGS
    • 耐高压输入电阻
    • WO2003067761A1
    • 2003-08-14
    • PCT/IB2003/000298
    • 2003-01-29
    • KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.BECKER, Rolf, Friedrich, Philipp
    • BECKER, Rolf, Friedrich, Philipp
    • H03K19/003
    • H03K19/00315
    • Circuit comprising a signal input (IN) for receiving an input signal s(t) and a digital input stage (15) being designed for operation at a supply voltage (VDD). The input stage (15) comprises CMOS transistors, which are sensitive to voltages across transistor nodes going beyond a voltage limit (Vmax), and an input (IINV). Voltage limiting means (B) being are arranged between the signal input (IN) and the input (IINV). The voltage limiting means (B) comprise an input switch (ns) being controllable by the state of the input signal s(t), and limit voltages at the input (IINV) to the supply voltage (VDD). In addition, means for over-voltage protection (A) are provided between the signal input (IN) and the supply voltage (VDD). The means for over-voltage protection (A) comprise at least one active circuit element being arranged so as to mimic part of a zener function.
    • 电路包括用于接收输入信号s(t)的信号输入(IN)和被设计为在电源电压(VDD)下工作的数字输入级15。 输入级(15)包括对超过电压极限(Vmax)的晶体管节点上的电压敏感的CMOS晶体管和输入(IINV)。 电压限制装置(B)被布置在信号输入(IN)和输入(IINV)之间。 电压限制装置(B)包括可由输入信号s(t)的状态控制的输入开关(ns),以及输入端(IINV)至电源电压(VDD)的限制电压。 此外,在信号输入(IN)和电源电压(VDD)之间提供过电压保护(A)的装置。 用于过电压保护的装置(A)包括至少一个有源电路元件,以便模拟齐纳功能的一部分。
    • 89. 发明申请
    • DRIVING CIRCUIT
    • 驱动电路
    • WO00011788A2
    • 2000-03-02
    • PCT/DE1999/002416
    • 1999-08-02
    • H03K19/003H03K19/0175H03K19/0944
    • H03K19/00315H03K19/017518H03K19/09448
    • The invention relates to a driving circuit comprising a driver control circuit, a first and a second driving transistor and a current limiting device. In order to limit the current flowing through the driving transistor, said current limiting device controls the voltage at the gate of said first driving transistor. A control input of the current limiting device is used to adjust the current-limitation application point to the load to be controlled by a negative feedback. According to a second embodiment, a driving circuit having one of its two transistors designed as a MOSFET and the other one as a bipolar transistor is produced in such a way that diodes of the two driving transistors block the switched-off supply voltage or transmit the voltage according to a voltage applied on the output of said driving circuit.
    • 本发明涉及具有驱动器驱动器,第一和第二驱动器晶体管以及限流装置的驱动器电路。 为了限制流经第一驱动晶体管的电流,限流装置控制第一驱动晶体管的控制端的电压。 通过电流限制器装置的控制输入,电流限制的起始点可以适应负载通过负反馈来驱动。 本发明的第二实施例涉及在一个MOSFET的两个驱动器晶体管,另一个为双极型晶体管中的一个被执行的驱动电路,从而使两个驱动器晶体管的二极管以阻断或导通,当电源电压,并且根据一个在驱动器电路的电压的输出施加。