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    • 6. 发明申请
    • ELECTRONIC LOAD FOR TESTING VOLTAGE STABILITY
    • 用于测试电压稳定性的电子负载
    • US20130308240A1
    • 2013-11-21
    • US13541662
    • 2012-07-04
    • QI-LONG YUTSUNG-JEN CHUANGJUN ZHANGJUN-WEI ZHANG
    • QI-LONG YUTSUNG-JEN CHUANGJUN ZHANGJUN-WEI ZHANG
    • G01R21/07H02H5/04
    • G01R31/40
    • An electronic load for testing stability of a power voltage of a power source under test (PSUT) includes a voltage supply device, a field effect transistor (FET), an amplification circuit, and a current sampling resistor. The amplification circuit includes a first input, a second input, and an output. The voltage supply device is connected to the first input. The second input is connected to a source electrode of the FET. The output is connected to a gate electrode of the FET. A drain electrode of the FET is connected to the PSUT. One end of the current sampling resistor is grounded, and the other end of the current sampling resistor is connected to the source electrode of the FET and the second input. The voltage supply device outputs a control voltage. The amplification circuit amplifies the control voltage and drives the FET using the amplified control voltage.
    • 用于测试被测电源(PSUT)的电源电压的稳定性的电子负载包括电压供应装置,场效应晶体管(FET),放大电路和电流采样电阻器。 放大电路包括第一输入,第二输入和输出。 电源装置连接到第一输入。 第二输入端连接到FET的源电极。 输出端连接到FET的栅电极。 FET的漏电极连接到PSUT。 电流采样电阻的一端接地,电流采样电阻的另一端连接到FET的源极和第二个输入端。 电压供给装置输出控制电压。 放大电路放大控制电压,并使用放大的控制电压驱动FET。