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1. 发明专利

TWI700580B 自動化測試系統及其自動化測試方法有权
简体标题：自动化测试系统及其自动化测试方法
公开(公告)号：TWI700580B
公开(公告)日：2020-08-01
申请号：TW108102614
申请日：2019-01-23
申请人：神達電腦股份有限公司
发明人：根誌平
IPC分类号： G06F11/273 , G06F11/36 , G06F9/44

2. 发明专利

TW201638783A 序列線偵錯橋审中-公开
简体标题：串行线侦错桥
公开(公告)号：TW201638783A
公开(公告)日：2016-11-01
申请号：TW105109262
申请日：2016-03-24
申请人：蘋果公司 , APPLE INC.
发明人：瑞賽詹姆士D , RAMSAY, JAMES D. , 古拉堤馬努 , GULATI, MANU , 立契頓伯格費契爾帕爾莫二世 , LICHTENBERG, MITCHELL PALMER, JR.
IPC分类号： G06F11/273
CPC分类号： G01R31/31705 , G06F11/2221
摘要：本發明提供一種具有用於介接一偵錯器之一橋的積體電路(IC)及操作該IC之方法。在一項實施例中，一種IC包括實施於其上之一偵錯控制電路及一偵錯介面區塊(DIB)。該DIB耦接至該偵錯控制電路。該IC亦包括用於一偵錯器之一介面及用於外部電路之數個介面，該等介面中之每一者耦接至該偵錯控制電路。該偵錯控制電路可充當用於將一外部偵錯器耦接至該DIB且耦接至外部電路之一橋，該等外部電路經由該等介面中之對應者而耦接至該IC。該偵錯控制電路可建立該偵錯器與該等外部電路中之一者之間之一連接。該偵錯器與該外部電路之間的通信可在略過該DIB的同時進行。
简体摘要：本发明提供一种具有用于介接一侦错器之一桥的集成电路(IC)及操作该IC之方法。在一项实施例中，一种IC包括实施于其上之一侦错控制电路及一侦错界面区块(DIB)。该DIB耦接至该侦错控制电路。该IC亦包括用于一侦错器之一界面及用于外部电路之数个界面，该等界面中之每一者耦接至该侦错控制电路。该侦错控制电路可充当用于将一外部侦错器耦接至该DIB且耦接至外部电路之一桥，该等外部电路经由该等界面中之对应者而耦接至该IC。该侦错控制电路可创建该侦错器与该等外部电路中之一者之间之一连接。该侦错器与该外部电路之间的通信可在略过该DIB的同时进行。

3. 发明专利

TWI526824B 網路卡資訊管理方法及網路卡資訊管理系統有权
简体标题：网络卡信息管理方法及网络卡信息管理系统
公开(公告)号：TWI526824B
公开(公告)日：2016-03-21
申请号：TW103125065
申请日：2014-07-22
申请人：廣達電腦股份有限公司 , QUANTA COMPUTER INC.
发明人：朱鴻祿 , CHU, HUNG LU , 蔡錦富 , TSAI, CHIN FU , 李永富 , LI, YUNG FU
IPC分类号： G06F11/273 , G06F11/30 , H04L12/02
CPC分类号： G06F9/4416 , G06F9/4401 , G06F9/4411 , G06F11/2284 , H04L41/0853

4. 发明专利

TW201531847A 測試設備审中-公开
简体标题：测试设备
公开(公告)号：TW201531847A
公开(公告)日：2015-08-16
申请号：TW103101212
申请日：2014-01-13
申请人：鴻海精密工業股份有限公司 , HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.
发明人：黃種棋 , HUANG, CHUNG CHI , 張文惠 , ZHANG, WEN-HUI
IPC分类号： G06F11/273
摘要：一種測試設備包括第一及第二通用串列介面、視頻圖像陣列介面、觸控顯示屏、存儲單元以及處理器。該觸控顯示屏與該視頻圖像陣列介面相連以顯示視頻圖像陣列介面接收的視頻訊號，還用於接收外界指令；該處理器透過該第二通用串列介面接收資料並將資料存儲於該存儲單元，該處理器還用於控制該觸控顯示屏顯示該視頻圖像陣列介面接收的視頻訊號並將該觸控顯示屏接收的外界指令經第一通用串列介面輸出至該伺服器。
简体摘要：一种测试设备包括第一及第二通用串行界面、视频图像数组界面、触摸显示屏、存储单元以及处理器。该触摸显示屏与该视频图像数组界面相连以显示视频图像数组界面接收的视频信号，还用于接收外界指令；该处理器透过该第二通用串行界面接收数据并将数据存储于该存储单元，该处理器还用于控制该触摸显示屏显示该视频图像数组界面接收的视频信号并将该触摸显示屏接收的外界指令经第一通用串行界面输出至该服务器。

5. 发明专利

TW201514685A 具有背光測試功能的電子裝置及其方法审中-公开
简体标题：具有背光测试功能的电子设备及其方法
公开(公告)号：TW201514685A
公开(公告)日：2015-04-16
申请号：TW102122439
申请日：2013-06-24
申请人：鴻海精密工業股份有限公司 , HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.
发明人：孫健 , SUN, JIAN , 劉來君 , LIU, LAI-JUN
IPC分类号： G06F11/22 , G06F11/273
摘要：本發明提供了一種具有背光測試功能的電子裝置。該電子裝置包括一顯示幕、一處理器以及在操作上與該處理器連接的存儲模組，該顯示幕用於顯示一測試視窗，該處理器用於執行所述存儲模組中的多個功能模組，該功能模組包括一測試模組、一背光控制模組、一顯示控制模組、一判斷模組以及一計數模組。該測試模組隨機選定一種背光變化模式，並通過所述背光控制模組控制所述顯示幕的背光亮度調節，然後由所述判斷模組和計數模組對背光的變化模式進行檢測。本發明還提供了一種電子裝置的背光測試方法。
简体摘要：本发明提供了一种具有背光测试功能的电子设备。该电子设备包括一显示幕、一处理器以及在操作上与该处理器连接的存储模块，该显示幕用于显示一测试窗口，该处理器用于运行所述存储模块中的多个功能模块，该功能模块包括一测试模块、一背光控制模块、一显示控制模块、一判断模块以及一计数模块。该测试模块随机选定一种背光变化模式，并通过所述背光控制模块控制所述显示幕的背光亮度调节，然后由所述判断模块和计数模块对背光的变化模式进行检测。本发明还提供了一种电子设备的背光测试方法。

6. 发明专利

TWI479308B 測試裝置失效
简体标题：测试设备
公开(公告)号：TWI479308B
公开(公告)日：2015-04-01
申请号：TW099142050
申请日：2010-12-03
申请人：鴻海精密工業股份有限公司 , HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.
发明人：陳方園 , CHEN, FANG-YUAN , 吳舒琪 , WU, SHU-QI , 陳楊 , CHEN, YANG , 劉玉林 , LIU, YU-LIN
IPC分类号： G06F11/273

7. 发明专利

TWI475381B SAS介面輸出訊號偵測裝置失效
简体标题： SAS界面输出信号侦测设备
公开(公告)号：TWI475381B
公开(公告)日：2015-03-01
申请号：TW100114560
申请日：2011-04-27
申请人：鴻海精密工業股份有限公司 , HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.
发明人：黃發生 , HUANG, FA-SHENG
IPC分类号： G06F11/273 , G01R31/3181
CPC分类号： G01R1/02 , G01R1/04 , G06F11/221 , H01R9/00 , H05K1/00

8. 发明专利

TW201506611A 主機板測試系統及方法审中-公开
简体标题：主板测试系统及方法
公开(公告)号：TW201506611A
公开(公告)日：2015-02-16
申请号：TW102116968
申请日：2013-05-14
申请人：鴻海精密工業股份有限公司 , HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.
发明人：譚筆徽 , TAN, BI-HUI
IPC分类号： G06F11/28 , G06F11/273
CPC分类号： G06F11/2205
摘要：一種主機板測試系統，包括一與待測主機板相連之測試電路板及一與所述測試電路板相連之電腦，所述測試電路板包括一與所述電腦相連之可編程邏輯器件，所述可編程邏輯器件輸出激勵信號至所述待測主機板，所述待測主機板收到激勵信號後產生相應之響應信號，所述可編程邏輯器件分析待測主機板產生之響應信號是否與預設之回應信號相符，並將測試結果資料輸出至所述電腦顯示。本發明還揭示了一種基於上述主機板測試系統之測試方法。
简体摘要：一种主板测试系统，包括一与待测主板相连之测试电路板及一与所述测试电路板相连之电脑，所述测试电路板包括一与所述电脑相连之可编程逻辑器件，所述可编程逻辑器件输出激励信号至所述待测主板，所述待测主板收到激励信号后产生相应之响应信号，所述可编程逻辑器件分析待测主板产生之响应信号是否与默认之回应信号相符，并将测试结果数据输出至所述电脑显示。本发明还揭示了一种基于上述主板测试系统之测试方法。

9. 发明专利

TW201506610A 伺服器硬體檢測方法审中-公开
简体标题：服务器硬件检测方法
公开(公告)号：TW201506610A
公开(公告)日：2015-02-16
申请号：TW102128259
申请日：2013-08-07
申请人：英業達股份有限公司 , INVENTEC CORPORATION
发明人：趙志強 , ZHAO, ZHIQIANG
IPC分类号： G06F11/273
摘要：一種伺服器硬體檢測方法，分別進行伺服器硬體的檢測且分別生成階段性檢測報告以及生成完整檢測報告，藉此可以達成分別生成檢測報告且提高伺服器硬體檢測效率的技術功效。
简体摘要：一种服务器硬件检测方法，分别进行服务器硬件的检测且分别生成阶段性检测报告以及生成完整检测报告，借此可以达成分别生成检测报告且提高服务器硬件检测效率的技术功效。

10. 发明专利

TW201418976A 關鍵路徑仿真裝置审中-公开
简体标题：关键路径仿真设备
公开(公告)号：TW201418976A
公开(公告)日：2014-05-16
申请号：TW102105314
申请日：2013-02-08
申请人：聯發科技股份有限公司 , MEDIATEK INC.
发明人：李明憲 , LEE, MING HSIEN , 蕭詩聰 , HSIAO, SHIH TSUNG , 陳信成 , CHEN, HSIN CHEN
IPC分类号： G06F11/273 , G06F13/38 , H03B5/04
CPC分类号： G06F17/5054 , G06F2217/78
摘要：一種包含關鍵路徑仿真器與互連電路之關鍵路徑仿真裝置。關鍵路徑仿真器可以仿真目標裝置之關鍵路徑，並支援複數個速度資訊偵測模式。互連電路可以支援複數個互連配置，其中當互連電路被調整為具有第一種互連配置時，關鍵路徑仿真器可以被用於第一速度資訊偵測模式，且當互連電路被調整為具有第二種互連配置時，關鍵路徑仿真器可以被用於第二速度資訊偵測模式。
简体摘要：一种包含关键路径仿真器与互连电路之关键路径仿真设备。关键路径仿真器可以仿真目标设备之关键路径，并支持复数个速度信息侦测模式。互连电路可以支持复数个互连配置，其中当互连电路被调整为具有第一种互连配置时，关键路径仿真器可以被用于第一速度信息侦测模式，且当互连电路被调整为具有第二种互连配置时，关键路径仿真器可以被用于第二速度信息侦测模式。

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