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1. 发明专利

TW201423049A 感測電路失效
简体标题：传感电路
公开(公告)号：TW201423049A
公开(公告)日：2014-06-16
申请号：TW101145387
申请日：2012-12-04
申请人：核芯科技股份有限公司 , CORETEX TECHNOLOGY CORPORATION
发明人：謝進益 , HSIEH, CHIN I , 蔡鍵賢 , TSAI, CHIEN HSIEN
IPC分类号： G01D3/028 , G01D3/036 , G01J1/00
CPC分类号： G01R19/0007
摘要：本發明提供一種感測電路包括一感測器、一第一放大電路、一高通濾波器、一第二放大電路以及一判斷電路。感測器用以產生一感測訊號。第一放大電路用以過濾感測訊號中之高頻訊號，以及放大感測訊號中之低頻訊號，以產生一第一放大訊號。高通濾波器用以過濾第一放大訊號中之直流訊號，以產生一濾波訊號。第二放大電路用以根據一第一既定電壓，放大濾波訊號中之低頻訊號，以產生一第二放大訊號。判斷電路用以判斷第二放大訊號，並當第二放大訊號大於一第二既定電壓或者小於一第三既定電壓時，產生一偵測結果。
简体摘要：本发明提供一种传感电路包括一传感器、一第一放大电路、一高通滤波器、一第二放大电路以及一判断电路。传感器用以产生一传感信号。第一放大电路用以过滤传感信号中之高频信号，以及放大传感信号中之低频信号，以产生一第一放大信号。高通滤波器用以过滤第一放大信号中之直流信号，以产生一滤波信号。第二放大电路用以根据一第一既定电压，放大滤波信号中之低频信号，以产生一第二放大信号。判断电路用以判断第二放大信号，并当第二放大信号大于一第二既定电压或者小于一第三既定电压时，产生一侦测结果。

2. 发明专利

TWI579532B 以具有用於驅動防護環之類比輸出之微控制器來量測電容性感測器之電容有权
简体标题：以具有用于驱动防护环之模拟输出之单片机来量测电容性传感器之电容
公开(公告)号：TWI579532B
公开(公告)日：2017-04-21
申请号：TW101137033
申请日：2012-10-05
申请人：微晶片科技公司 , MICROCHIP TECHNOLOGY INCORPORATED
发明人：倫德史特姆查克 , LUNDSTRUM, ZEKE , 克堤斯凱斯 , CURTIS, KEITH , 戴維森柏克 , DAVISON, BURKE , 史迪曼尚恩 , STEEDMAN, SEAN , 萊佛言恩 , LEFAOU, YANN
IPC分类号： G01D3/036 , G01D5/24
CPC分类号： H03K17/962 , H03K17/9622 , H03K2217/960705 , H03K2217/960765

3. 发明专利

TWI554743B 感測器裝置有权
简体标题：传感器设备
公开(公告)号：TWI554743B
公开(公告)日：2016-10-21
申请号：TW102104382
申请日：2013-02-05
申请人：精工半導體有限公司 , SII SEMICONDUCTOR CORPORATION
发明人：有山稔 , ARIYAMA, MINORU , 村岡大介 , MURAOKA, DAISUKE , 挽地友生 , HIKICHI, TOMOKI , 深井健太郎 , FUKAI, KENTARO
IPC分类号： G01D5/14 , G01D3/036 , G01R33/06 , H03F1/26
CPC分类号： G01R17/02 , G01R33/0029 , G01R33/07 , H03K5/24 , H03K17/9517

4. 发明专利

TWI464554B 感測電路失效
简体标题：传感电路
公开(公告)号：TWI464554B
公开(公告)日：2014-12-11
申请号：TW101145387
申请日：2012-12-04
申请人：核芯科技股份有限公司 , CORETEX TECHNOLOGY CORPORATION
发明人：謝進益 , HSIEH, CHIN I , 蔡鍵賢 , TSAI, CHIEN HSIEN
IPC分类号： G05F1/10 , G01D3/028 , G01D3/036 , G01J1/00
CPC分类号： G01R19/0007

5. 发明专利

TW201326758A 以具有用於驅動防護環之數位輸出之微控制器來量測電容性感測器之電容审中-公开
简体标题：以具有用于驱动防护环之数码输出之单片机来量测电容性传感器之电容
公开(公告)号：TW201326758A
公开(公告)日：2013-07-01
申请号：TW101136994
申请日：2012-10-05
申请人：微晶片科技公司 , MICROCHIP TECHNOLOGY INCORPORATED
发明人：倫德史特姆查克 , LUNDSTRUM, ZEKE , 克堤斯凱斯 , CURTIS, KEITH , 戴維森柏克 , DAVISON, BURKE , 史迪曼尚恩 , STEEDMAN, SEAN , 萊佛言恩 , LEFAOU, YANN
IPC分类号： G01D3/036 , G01D5/24
CPC分类号： H03K17/9622 , H03K2217/960725 , H03K2217/960765 , H03K2217/96077
摘要：圍繞每一電容性感測器板提供一防護環且將該防護環充電至實質上與該電容性感測器板上之一電壓相同的電壓。該防護環減小由該電容性感測器板與鄰近電路導體、接地平面及電源平面之間的電壓電位差引起之該電容性感測器板的寄生電容。將兩個數位輸出及相關聯之分壓器電阻器用以將該防護環電壓驅動至實質上與該電容性感測器板上之該電壓相同的電壓。
简体摘要：围绕每一电容性传感器板提供一防护环且将该防护环充电至实质上与该电容性传感器板上之一电压相同的电压。该防护环减小由该电容性传感器板与邻近电路导体、接地平面及电源平面之间的电压电位差引起之该电容性传感器板的寄生电容。将两个数码输出及相关联之分压器电阻器用以将该防护环电压驱动至实质上与该电容性传感器板上之该电压相同的电压。

6. 发明专利

TWI624645B 磁性位移感測器及位移之檢測方法有权
简体标题：磁性位移传感器及位移之检测方法
公开(公告)号：TWI624645B
公开(公告)日：2018-05-21
申请号：TW104116797
申请日：2015-05-26
申请人：村田機械股份有限公司 , MURATA MACHINERY, LTD.
发明人：清水哲也 , SHIMIZU, TETSUYA , 寺田將吾 , TERADA, SHOGO , 山本卓 , YAMAMOTO, TAKUMI , 大坪努 , OTSUBO, TSUTOMU
IPC分类号： G01D5/245 , G01D3/036

7. 发明专利

TWI576566B 慣性力感測器有权
简体标题：惯性力传感器
公开(公告)号：TWI576566B
公开(公告)日：2017-04-01
申请号：TW101114886
申请日：2012-04-26
申请人：松下知識產權經營股份有限公司 , PANASONIC INTELLECTUAL PROPERTY MANAGEMENT CO., LTD.
发明人：植村猛 , UEMURA, TAKESHI , 服部勳 , HATTORI, ISAO
IPC分类号： G01D3/036 , G01D3/02 , G01P21/00
CPC分类号： G01L25/00 , G01C19/5614 , G01C19/5776

8. 发明专利

TWI487882B 具有暗電流補償之感測裝置及其控制方法有权
简体标题：具有暗电流补偿之传感设备及其控制方法
公开(公告)号：TWI487882B
公开(公告)日：2015-06-11
申请号：TW102132106
申请日：2013-09-06
申请人：原相科技股份有限公司 , PIXART IMAGING INCORPORATION
发明人：蕭百亨 , HSIAO, HENRY , 李泉欣 , LEE, CHUAN HSIN , 李兆琪 , LEE, CHAO CHI , 吳嘉訓 , WU, MICHAEL , 許恩峯 , HSU, EN FENG
IPC分类号： G01D3/036 , H04N5/361
CPC分类号： H04N5/361

9. 发明专利

TW201346224A 感測器裝置审中-公开
简体标题：传感器设备
公开(公告)号：TW201346224A
公开(公告)日：2013-11-16
申请号：TW102104382
申请日：2013-02-05
申请人：精工電子有限公司 , SEIKO INSTRUMENTS INC.
发明人：有山稔 , ARIYAMA, MINORU , 村岡大介 , MURAOKA, DAISUKE , 挽地友生 , HIKICHI, TOMOKI , 深井健太郎 , FUKAI, KENTARO
IPC分类号： G01D5/14 , G01D3/036 , G01R33/06 , H03F1/26
CPC分类号： G01R17/02 , G01R33/0029 , G01R33/07 , H03K5/24 , H03K17/9517
摘要：本發明是在於提供一種除去感測器裝置的感測器元件、差動放大器、放大器的各偏移電壓的影響，可高精度檢測出物理量之感測器裝置。具備：開關切換電路，其係連接感測器元件的第一端子對及第二端子對、切換控制該端子對、輸出檢測電壓；差動放大器，其係開關切換電路的第一輸出端子及第二輸出端子分別連接至第一輸入端子及第二輸入端子，輸出差動放大檢測電壓的結果；放大器，其係具有2個以上的差動輸入對，在一個的差動輸入對輸入由差動放大器所輸出的差動訊號，在至少一個的差動輸入對輸入對應於所檢測出的物理量的基準訊號；及檢測電壓設定電路，其係對放大器輸出基準訊號。
简体摘要：本发明是在于提供一种除去传感器设备的传感器组件、差动放大器、放大器的各偏移电压的影响，可高精度检测出物理量之传感器设备。具备：开关切换电路，其系连接传感器组件的第一端子对及第二端子对、切换控制该端子对、输出检测电压；差动放大器，其系开关切换电路的第一输出端子及第二输出端子分别连接至第一输入端子及第二输入端子，输出差动放大检测电压的结果；放大器，其系具有2个以上的差动输入对，在一个的差动输入对输入由差动放大器所输出的差动信号，在至少一个的差动输入对输入对应于所检测出的物理量的基准信号；及检测电压设置电路，其系对放大器输出基准信号。

10. 发明专利

TW201326759A 以具有用於驅動防護環之類比輸出之微控制器來量測電容性感測器之電容审中-公开
简体标题：以具有用于驱动防护环之模拟输出之单片机来量测电容性传感器之电容
公开(公告)号：TW201326759A
公开(公告)日：2013-07-01
申请号：TW101137033
申请日：2012-10-05
申请人：微晶片科技公司 , MICROCHIP TECHNOLOGY INCORPORATED
发明人：倫德史特姆查克 , LUNDSTRUM, ZEKE , 克堤斯凱斯 , CURTIS, KEITH , 戴維森柏克 , DAVISON, BURKE , 史迪曼尚恩 , STEEDMAN, SEAN , 萊佛言恩 , LEFAOU, YANN
IPC分类号： G01D3/036 , G01D5/24
CPC分类号： H03K17/962 , H03K17/9622 , H03K2217/960705 , H03K2217/960765
摘要：一微控制器量測電容性感測器之電容，該等電容性感測器具有與其相關聯之防護環。圍繞每一電容性感測器板提供一防護環且將該防護環充電至實質上與該相關聯之電容性感測器板上之一電壓相同的電壓。該防護環減小由該電容性感測器板與鄰近電路導體、接地平面及電源平面之間的電壓電位差引起之該電容性感測器板的寄生電容。一類比輸出經緩衝且耦接至一耦接至該電容性感測器板之類比輸入，且用以將該防護環電壓驅動至實質上與該電容性感測器板上之該電壓相同的電壓。
简体摘要：一单片机量测电容性传感器之电容，该等电容性传感器具有与其相关联之防护环。围绕每一电容性传感器板提供一防护环且将该防护环充电至实质上与该相关联之电容性传感器板上之一电压相同的电压。该防护环减小由该电容性传感器板与邻近电路导体、接地平面及电源平面之间的电压电位差引起之该电容性传感器板的寄生电容。一模拟输出经缓冲且耦接至一耦接至该电容性传感器板之模拟输入，且用以将该防护环电压驱动至实质上与该电容性传感器板上之该电压相同的电压。

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