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1. 发明专利

TW202030135A 輸送管理系統及輸送裝置审中-公开
简体标题：输送管理系统及输送设备
公开(公告)号：TW202030135A
公开(公告)日：2020-08-16
申请号：TW109101267
申请日：2020-01-14
申请人：日商大伸股份有限公司 , DAISHIN CO., LTD. , 日商華信創研股份有限公司 , LABORATORY OF HI-THINK CORPORATION
发明人：佐佐木貴大 , SASAKI, TAKAHIRO , 吉田朋彥 , YOSHIDA, TOMOHIKO , 伊藤榮 , ITO, SAKAE
IPC分类号： B65G27/32 , B65G47/14 , B07C5/10 , B07C5/342 , G01N21/84
摘要：本發明所提供之輸送管理系統及輸送裝置，使輸送物之輸送形態的調整作業變得容易，並且能夠發揮高性能；本發明所涉及之輸送管理系統是調整在設置於輸送體的輸送路中輸送的輸送物之輸送形態的系統；該系統具備：拍攝單元，其在所述輸送路上的既定部位反復拍攝所述輸送物；以及輸送舉動檢測單元，其根據透過所述拍攝單元拍攝的拍攝圖像之配置於規定的檢測區內的所述輸送物的圖像數據，檢測與所述輸送路分離或者在所述輸送路上沿所述輸送路之寬度方向移動的所述輸送物在與所述輸送路分離的方向或沿著所述輸送路之寬度方向的方向上的舉動。
简体摘要：本发明所提供之输送管理系统及输送设备，使输送物之输送形态的调整作业变得容易，并且能够发挥高性能；本发明所涉及之输送管理系统是调整在设置于输送体的输送路中输送的输送物之输送形态的系统；该系统具备：拍摄单元，其在所述输送路上的既定部位反复拍摄所述输送物；以及输送举动检测单元，其根据透过所述拍摄单元拍摄的拍摄图像之配置于规定的检测区内的所述输送物的图像数据，检测与所述输送路分离或者在所述输送路上沿所述输送路之宽度方向移动的所述输送物在与所述输送路分离的方向或沿着所述输送路之宽度方向的方向上的举动。

2. 发明专利

TWI675787B 採用了零件正反面判定裝置的拉頭組裝裝置有权
简体标题：采用了零件正反面判定设备的拉头组装设备
公开(公告)号：TWI675787B
公开(公告)日：2019-11-01
申请号：TW106136996
申请日：2017-10-27
申请人：日商YKK股份有限公司 , YKK CORPORATION
发明人：川上航平 , KAWAKAMI, KOHEI , 岡部克朗 , OKABE, KATSURO
IPC分类号： B65G47/00 , B07C5/10

3. 发明专利

TWI671133B 電子元件載台及包含該電子元件載台之電子元件作業分類設備有权
简体标题：电子组件载台及包含该电子组件载台之电子组件作业分类设备
公开(公告)号：TWI671133B
公开(公告)日：2019-09-11
申请号：TW107123547
申请日：2018-07-06
申请人：鴻勁精密股份有限公司
发明人：劉哲瑜 , LIU, CHE YU
IPC分类号： B07C5/10

4. 发明专利

TW201842323A 工件之檢查結果判定方法审中-公开
简体标题：工件之检查结果判定方法
公开(公告)号：TW201842323A
公开(公告)日：2018-12-01
申请号：TW107108365
申请日：2018-03-13
申请人：日商東京威爾斯股份有限公司 , TOKYO WELD CO., LTD.
发明人：菊地大樹 , KIKUCHI, DAIJU , 横山嘉彦 , YOKOYAMA, YOSHIHIKO
IPC分类号： G01N21/85 , G01N21/952 , B07C5/10
摘要： [課題]最適進行工件之良品/不良品的判定。　　[解決手段]工件之檢查結果判定方法係具備有：對複數工件，針對複數檢查項目，實施檢查的工程；針對各工件，根據全檢查項目的檢查結果，使用使依每個檢查項目而定的函數相結合的結合函數，求出其評估值的工程；及將各工件的評估值配置在所希望空間的工程。根據被配置在前述所希望空間的評估值的分布狀態，在該所希望空間中，設定將該所希望空間區劃成表示複數等級的區域的交界。
简体摘要： [课题]最适进行工件之良品/不良品的判定。　　[解决手段]工件之检查结果判定方法系具备有：对复数工件，针对复数检查项目，实施检查的工程；针对各工件，根据全检查项目的检查结果，使用使依每个检查项目而定的函数相结合的结合函数，求出其评估值的工程；及将各工件的评估值配置在所希望空间的工程。根据被配置在前述所希望空间的评估值的分布状态，在该所希望空间中，设置将该所希望空间区划成表示复数等级的区域的交界。

5. 发明专利

TWI667467B 工件外觀檢查裝置及工件外觀檢查方法有权
简体标题：工件外观检查设备及工件外观检查方法
公开(公告)号：TWI667467B
公开(公告)日：2019-08-01
申请号：TW107113106
申请日：2018-04-18
申请人：日商東京威爾斯股份有限公司 , TOKYO WELD CO., LTD.
发明人：小寺克義 , KODERA, KATSUYOSHI , 後藤翼 , GOTO, TASUKU , 鳥海一馬 , TORIUMI, KAZUMA
IPC分类号： G01N21/85 , G01N21/952 , B07C5/10

6. 发明专利

TW201510473A 電子零件之厚度測量方法、使用其之電子零件組之製造方法、藉其所製造之電子零件組及電子零件之檢查裝置审中-公开
简体标题：电子零件之厚度测量方法、使用其之电子零件组之制造方法、藉其所制造之电子零件组及电子零件之检查设备
公开(公告)号：TW201510473A
公开(公告)日：2015-03-16
申请号：TW103122561
申请日：2014-06-30
申请人：村田製作所股份有限公司 , MURATA MANUFACTURING CO., LTD.
发明人：西岡良直 , NISHIOKA, YOSHINAO , 春木雅良 , HARUKI, MASAYOSHI
IPC分类号： G01B11/06 , H05K13/02 , B07C5/10
CPC分类号： G01B11/06 , G01B11/0641 , H05K1/185
摘要：本發明之電子零件之厚度測量方法包括下述步驟：於第1圖像資料之複數條第2基準線與第2圖像資料之複數條第2基準線中，僅抽選互相位於相同位置之第2基準線彼此之強度波峰之差最小之第2基準線210c，形成包含第1基準線220c及所抽選之第2基準線210c之第3圖像資料200c；及依據第3圖像資料200c之第1基準線220c與第2基準線210c之間隔Lc而算出電子零件之厚度。
简体摘要：本发明之电子零件之厚度测量方法包括下述步骤：于第1图像数据之复数条第2基准线与第2图像数据之复数条第2基准线中，仅抽选互相位于相同位置之第2基准线彼此之强度波峰之差最小之第2基准线210c，形成包含第1基准线220c及所抽选之第2基准线210c之第3图像数据200c；及依据第3图像数据200c之第1基准线220c与第2基准线210c之间隔Lc而算出电子零件之厚度。

7. 发明专利

TW201304880A 粒狀體選別裝置审中-公开
简体标题：粒状体选别设备
公开(公告)号：TW201304880A
公开(公告)日：2013-02-01
申请号：TW101107334
申请日：2012-03-05
申请人：久保田股份有限公司 , KUBOTA CORPORATION
发明人：池田直人 , IKEDA, MASATO , 山原成晃 , YAMAHARA, SHIGEAKI , 松井昭男 , MATSUI, AKIO
IPC分类号： B07C5/10
摘要：提供一種在使粒狀體選別裝置的外形尺寸儘量不會大型化的狀態下可精簡地設置升運搬送裝置的粒狀體選別裝置。本發明之粒狀體選別裝置係設有：傾斜姿勢的傾斜導引體(3C)，其係將粒狀體群以一層且在寬廣狀態下流下的流動狀態下進行導引；照明部(4B)，其係在朝向傾斜導引體(3C)的兩橫外側方突出的狀態下被設置，朝向計測對象部位投射光；受光部(5B)，其係具有朝粒狀體群擴展方向擴展的視野角，而且在具有解析力的狀態下，接受來自計測對象部位(J)的光；及判別處理部，其係根據受光部(5B)的受光資訊，判別作為分離對象的粒狀體，將粒狀體群進行升運搬送的升運搬送裝置(2、8)係在傾斜導引體(3C)中相較於照明部(4B)在粒狀體群流下方向中成為上游側的部分的橫側，在粒狀體群擴展方向中，以比照明部(4B)的端部更接近傾斜導引體(3C)的方式所位置的狀態下予以裝備。
简体摘要：提供一种在使粒状体选别设备的外形尺寸尽量不会大型化的状态下可精简地设置升运搬送设备的粒状体选别设备。本发明之粒状体选别设备系设有：倾斜姿势的倾斜导引体(3C)，其系将粒状体群以一层且在宽广状态下流下的流动状态下进行导引；照明部(4B)，其系在朝向倾斜导引体(3C)的两横外侧方突出的状态下被设置，朝向计测对象部位投射光；受光部(5B)，其系具有朝粒状体群扩展方向扩展的视野角，而且在具有解析力的状态下，接受来自计测对象部位(J)的光；及判别处理部，其系根据受光部(5B)的受光信息，判别作为分离对象的粒状体，将粒状体群进行升运搬送的升运搬送设备(2、8)系在倾斜导引体(3C)中相较于照明部(4B)在粒状体群流下方向中成为上游侧的部分的横侧，在粒状体群扩展方向中，以比照明部(4B)的端部更接近倾斜导引体(3C)的方式所位置的状态下予以装备。

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