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1. 发明专利

TWI585360B 用於檢查半導體裝置之光學系統、藉此光學系統擷取半導體基板之影像的方法，及校正此光學系統之位置的方法有权
简体标题：用于检查半导体设备之光学系统、借此光学系统截取半导体基板之影像的方法，及校正此光学系统之位置的方法
公开(公告)号：TWI585360B
公开(公告)日：2017-06-01
申请号：TW101149308
申请日：2012-12-22
申请人：魯道夫科技股份有限公司 , RUDOLPH TECHNOLOGIES, INC.
发明人：歐瑞丹尼斯 , OHREN, DENNIS L. , 沃吉斯克里斯多夫 , VOGES, CHRISTOPHER J. , 羅特林安德魯 , ROTERING, ANDREW E.
IPC分类号： G01B11/00 , G01C5/00 , G01N21/88
CPC分类号： G02B7/28 , G01B11/00 , G01B11/026 , G01B11/0608 , G01N21/84 , G01N21/9501 , G01N2201/127 , H04N5/23212

2. 发明专利

TW201717850A 虹膜認證裝置及裝有虹膜認證裝置的車輛审中-公开
简体标题：虹膜认证设备及装有虹膜认证设备的车辆
公开(公告)号：TW201717850A
公开(公告)日：2017-06-01
申请号：TW105131015
申请日：2016-09-26
申请人：日本電產理德股份有限公司 , NIDEC-READ CORPORATION
发明人：楠田達文 , KUSUDA, TATSUFUMI
IPC分类号： A61B5/117 , G06T7/00 , B60R25/04
CPC分类号： A61B5/1171 , B60R25/25 , G02B7/28 , G03B15/00 , G06T1/00 , G06T7/00 , H04N5/232
摘要：本發明係提供容易減低成本之虹膜認證裝置。虹膜認證裝置係具備：攝影元件2，係取得形成於受光面21的光學影像；透鏡單元3，係用以將拍攝體的光學影像成像於受光面21；驅動機構4，係使透鏡單元3沿著光軸方向移動；影像取得部51，係取得與因應於伴隨著透鏡單元3的移動之透鏡的位置變化對應之複數個合焦位置而藉由攝影元件2所取得之複數個影像；對比度檢測部52，係對該複數個影像，分別檢測其對比度；影像選擇部53，係選擇該複數個影像之中之對比度最大的影像；以及認證處理部54，係根據藉由影像選擇部53所選擇的選擇影像而執行虹膜認證。
简体摘要：本发明系提供容易减低成本之虹膜认证设备。虹膜认证设备系具备：摄影组件2，系取得形成于受光面21的光学影像；透镜单元3，系用以将拍摄体的光学影像成像于受光面21；驱动机构4，系使透镜单元3沿着光轴方向移动；影像取得部51，系取得与因应于伴随着透镜单元3的移动之透镜的位置变化对应之复数个合焦位置而借由摄影组件2所取得之复数个影像；对比度检测部52，系对该复数个影像，分别检测其对比度；影像选择部53，系选择该复数个影像之中之对比度最大的影像；以及认证处理部54，系根据借由影像选择部53所选择的选择影像而运行虹膜认证。

3. 发明专利

TW201624039A 鏡頭驅動裝置、相機模組以及相機搭載裝置审中-公开
简体标题：镜头驱动设备、相机模块以及相机搭载设备
公开(公告)号：TW201624039A
公开(公告)日：2016-07-01
申请号：TW104143670
申请日：2015-12-25
申请人：三美電機股份有限公司 , MITSUMI ELECTRIC CO., LTD.
发明人：佐藤芳明 , SATO, YOSHIAKI , 大坂智彦 , OSAKA, TOMOHIKO , 小林教幸 , KOBAYASHI, NORIYUKI , 本間俊彦 , HONMA, TOSHIHIKO
IPC分类号： G02B7/09 , H04N5/225
CPC分类号： G02B7/102 , G01J1/0414 , G02B7/04 , G02B7/08 , G02B7/09 , G02B7/28 , H04N5/2253 , H04N5/2256 , H04N5/232
摘要：本發明的鏡頭驅動裝置是藉由利用包含自動對焦用線圈部及自動對焦用磁鐵部的語音線圈馬達的驅動力，使自動對焦可動部相對於自動對焦固定部沿光軸方向移動，來自動進行對焦。所述鏡頭驅動裝置包括位置檢測部，所述位置檢測部是與自動對焦可動部隔開地配置在光軸方向成像側，向自動對焦可動部射出光，並且接收經自動對焦可動部反射的反射光，根據光接收強度對自動對焦可動部的光軸方向的位置進行檢測。與自動對焦可動部一併進行位移的構件的一部分作為使自位置檢測部射出的光反射的反射板而發揮作用。
简体摘要：本发明的镜头驱动设备是借由利用包含自动对焦用线圈部及自动对焦用磁铁部的语音线圈马达的驱动力，使自动对焦可动部相对于自动对焦固定部沿光轴方向移动，来自动进行对焦。所述镜头驱动设备包括位置检测部，所述位置检测部是与自动对焦可动部隔开地配置在光轴方向成像侧，向自动对焦可动部射出光，并且接收经自动对焦可动部反射的反射光，根据光接收强度对自动对焦可动部的光轴方向的位置进行检测。与自动对焦可动部一并进行位移的构件的一部分作为使自位置检测部射出的光反射的反射板而发挥作用。

4. 发明专利

TWI528066B 致動器及具有該致動器之相機模組有权
简体标题：致动器及具有该致动器之相机模块
公开(公告)号：TWI528066B
公开(公告)日：2016-04-01
申请号：TW100142495
申请日：2011-11-21
申请人：鴻海精密工業股份有限公司 , HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.
发明人：吳松青 , WU, SUNG CHING
IPC分类号： G02B7/08
CPC分类号： G02B7/023 , G02B7/08 , G02B7/28 , G03B3/10

5. 发明专利

TW201527735A 具有用於開迴路或閉迴路控制之濾波器之對焦系統审中-公开
简体标题：具有用于开回路或闭回路控制之滤波器之对焦系统
公开(公告)号：TW201527735A
公开(公告)日：2015-07-16
申请号：TW103140506
申请日：2014-11-21
申请人：耐諾股份有限公司 , NANOMETRICS INCORPORATED
发明人：沙雀夫阿密特 , SHACHAF, AMIT
IPC分类号： G01N21/21
CPC分类号： G01N21/211 , G02B7/28
摘要：一種光學度量衡裝置，諸如一橢圓偏光計，包含一對焦系統，該對焦系統在樣本上之量測部位之移動期間(例如)使用閉迴路控制即時調整該度量衡裝置之焦點位置使得可維持對焦。一經濾波之對焦信號可用於在移動至一量測部位時調整該焦點位置。此外，該對焦信號可經粗略濾波及精細濾波，其中一粗略濾波之對焦信號係用於在移動至一量測部位時調整焦點位置，且一精細濾波之對焦信號係用於在處於該量測部位時調整焦點位置。可使用一開迴路控制，其中一旦處於該量測部位，在一經濾波之對焦信號相對於對焦信號無偏移時該經濾波之對焦信號即用於調整焦點位置。
简体摘要：一种光学度量衡设备，诸如一椭圆偏光计，包含一对焦系统，该对焦系统在样本上之量测部位之移动期间(例如)使用闭回路控制实时调整该度量衡设备之焦点位置使得可维持对焦。一经滤波之对焦信号可用于在移动至一量测部位时调整该焦点位置。此外，该对焦信号可经粗略滤波及精细滤波，其中一粗略滤波之对焦信号系用于在移动至一量测部位时调整焦点位置，且一精细滤波之对焦信号系用于在处于该量测部位时调整焦点位置。可使用一开回路控制，其中一旦处于该量测部位，在一经滤波之对焦信号相对于对焦信号无偏移时该经滤波之对焦信号即用于调整焦点位置。

6. 发明专利

TW201421101A 能夠即時對特定可移動物件進行自動對焦的方法、具有自動對焦功能的攝影裝置、以及儲存用來執行即時對特定可移動物件進行自動對焦之電腦程式的電腦可讀式儲存媒體审中-公开
简体标题：能够实时对特定可移动对象进行自动对焦的方法、具有自动对焦功能的摄影设备、以及存储用来运行实时对特定可移动对象进行自动对焦之电脑进程的电脑可读式存储媒体
公开(公告)号：TW201421101A
公开(公告)日：2014-06-01
申请号：TW101143673
申请日：2012-11-22
申请人：原相科技股份有限公司 , PIXART IMAGING INC.
发明人：張彥閔 , CHANG, YEN MIN
IPC分类号： G02B7/28 , H04N5/232 , G06K9/46
CPC分类号： G03B13/36 , G02B7/28 , H04N5/23212
摘要：本發明提供一種能夠即時對一特定可移動物件進行自動對焦的方法，適用於具有自動對焦功能的攝影裝置。該方法包括：通過鏡頭，擷取鏡頭之視野範圍內的即時影像；比較即時影像之複數影像區域的影像與特定可移動物件的特徵影像，以識別出特定可移動物件的特徵影像所對應的影像區域；以及以辨識出的影像區域為目標，對影像區域進行自動對焦。
简体摘要：本发明提供一种能够实时对一特定可移动对象进行自动对焦的方法，适用于具有自动对焦功能的摄影设备。该方法包括：通过镜头，截取镜头之视野范围内的实时影像；比较实时影像之复数影像区域的影像与特定可移动对象的特征影像，以识别出特定可移动对象的特征影像所对应的影像区域；以及以辨识出的影像区域为目标，对影像区域进行自动对焦。

7. 发明专利

TW201250227A 橢圓儀對焦系統 ELLIPSOMETER FOCUSING SYSTEM 审中-公开
简体标题：椭圆仪对焦系统 ELLIPSOMETER FOCUSING SYSTEM
公开(公告)号：TW201250227A
公开(公告)日：2012-12-16
申请号：TW101112335
申请日：2012-04-06
申请人：耐諾股份有限公司
发明人：布磊森漢姆貝瑞J , 沙雀夫阿密特
IPC分类号： G01N
CPC分类号： G01N21/211 , G02B7/28
摘要：本發明揭示一種橢圓儀，其包括具有在樣本與橢圓儀偵測器之間的一分束器之一整合式對焦系統。該分束器將輻射之一部分提供至一透鏡系統，該透鏡系統將與一最佳對焦位置之任何偏差放大至少2倍。該對焦系統包括一2D感測器，其中對焦於該感測器上之光點係該感測器之50%或更小。該對焦系統可進一步包括一補償器以校正由該分束器所致的光學像差。一處理器接收一影像信號且找到該光點之位置，可根據該光點之該位置判定對焦誤差且使用該光對焦誤差來校正該橢圓儀之焦點位置。該處理器補償由旋轉光學器件所致的該光點之移動。另外，可使用一比例-積分-微分控制器來控制相機之曝光時間及/或增益。
简体摘要：本发明揭示一种椭圆仪，其包括具有在样本与椭圆仪侦测器之间的一分束器之一集成式对焦系统。该分束器将辐射之一部分提供至一透镜系统，该透镜系统将与一最佳对焦位置之任何偏差放大至少2倍。该对焦系统包括一2D传感器，其中对焦于该传感器上之光点系该传感器之50%或更小。该对焦系统可进一步包括一补偿器以校正由该分束器所致的光学像差。一处理器接收一影像信号且找到该光点之位置，可根据该光点之该位置判定对焦误差且使用该光对焦误差来校正该椭圆仪之焦点位置。该处理器补偿由旋转光学器件所致的该光点之移动。另外，可使用一比例-积分-微分控制器来控制相机之曝光时间及/或增益。

8. 发明专利

TWI374664B 對焦裝置及方法 FOCUSING APPARATUS AND METHOD 有权
简体标题：对焦设备及方法 FOCUSING APPARATUS AND METHOD
公开(公告)号：TWI374664B
公开(公告)日：2012-10-11
申请号：TW096146229
申请日：2007-12-05
申请人：廣達電腦股份有限公司
发明人：鄭昇弘 , 陳信宇
IPC分类号： H04N , G03B
CPC分类号： G03B13/36 , G02B7/28 , G02B7/365 , G02B27/0075
摘要：本發明揭露一種對焦裝置，其係應用於一影像記錄系統，並且該對焦裝置包含一評價單元以及一控制模組。該評價單元能根據一感測元件所感測之一影像產生關於該影像之複數個評價值。而該控制模組能根據該等評價值計算一加權評價值，並且該控制模組根據該加權評價值以及一聚焦深度表選擇性地產生一控制訊號，以控制一鏡頭移動。
简体摘要：本发明揭露一种对焦设备，其系应用于一影像记录系统，并且该对焦设备包含一评价单元以及一控制模块。该评价单元能根据一传感组件所传感之一影像产生关于该影像之复数个评价值。而该控制模块能根据该等评价值计算一加权评价值，并且该控制模块根据该加权评价值以及一聚焦深度表选择性地产生一控制信号，以控制一镜头移动。

9. 发明专利

TWI573999B 具有用於開迴路或閉迴路控制之濾波器之對焦系統有权
简体标题：具有用于开回路或闭回路控制之滤波器之对焦系统
公开(公告)号：TWI573999B
公开(公告)日：2017-03-11
申请号：TW103140506
申请日：2014-11-21
申请人：耐諾股份有限公司 , NANOMETRICS INCORPORATED
发明人：沙雀夫阿密特 , SHACHAF, AMIT
IPC分类号： G01N21/21
CPC分类号： G01N21/211 , G02B7/28

10. 发明专利

TW201443412A 光學系統中焦點及其他特徵之量測审中-公开
简体标题：光学系统中焦点及其他特征之量测
公开(公告)号：TW201443412A
公开(公告)日：2014-11-16
申请号：TW103106549
申请日：2014-02-26
申请人：海特根微光學公司 , HEPTAGON MICRO OPTICS PTE. LTD.
发明人：馬路克瑪蒂阿斯 , MALUCK, MATTHIAS , 羅恩根彼德 , ROENTGEN, PETER
IPC分类号： G01M11/00
CPC分类号： G01M11/0235 , G01J3/0208 , G01J3/0237 , G01J3/28 , G01M11/0207 , G02B7/02 , G02B7/04 , G02B7/28 , G02B21/0064
摘要：在某些實施方案中，識別一光學系統之一焦點之一位置包含：使用一感測器系統來偵測通過該光學系統之光；及基於實質上匹配該光學系統之一焦點之一位置之該感測器系統之一焦點之一位置判定該光學系統之該焦點之該位置。
简体摘要：在某些实施方案中，识别一光学系统之一焦点之一位置包含：使用一传感器系统来侦测通过该光学系统之光；及基于实质上匹配该光学系统之一焦点之一位置之该传感器系统之一焦点之一位置判定该光学系统之该焦点之该位置。

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