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    • 1. 发明专利
    • 切割材料塊的方法及薄膜形成技術
    • 切割材料块的方法及薄膜形成技术
    • TW505962B
    • 2002-10-11
    • TW090116949
    • 2001-07-11
    • 原子能委原會
    • 柏納德 亞斯派克里斯泰爾 拉加葉
    • H01L
    • H01L21/76254B81C1/0038B81C2201/0191B81C2201/0192H01L21/2007Y10T156/1153Y10T156/1158Y10T156/1184Y10T156/1911Y10T156/1967
    • 一種方法,係用於切割材料塊(10),其係包括以下的階段:
      (a)在材料塊中形成埋藏區(12),藉由至少一離子引入
      的階段加以脆化,埋藏區定出材料塊之至少一表面
      部分(14),
      (b)藉由使用分離之第一方法於至少一分離引發劑(30,
      36)之脆化區的位置形成,該等方法係可由以下加以
      選擇:嵌入一工具、注射一種流體、熱處理及/或注
      入離子(係與前階段中所引入之離子的本質不同)及
      (c)在材料塊之表面部分(14)的脆化區位置自其餘之部
      分(16)(所謂的質量部分)分離,藉由使用第二方法自
      分離引發劑(30,36)分離,該方法係與第一分離方
      法不同,係可由以下加以選擇:熱處理及/或施加機
      械力作用在表面部分與脆化區之間。
      此應用係用在製造供微電子學、光學電子學或微機械所用之元件。
    • 一种方法,系用于切割材料块(10),其系包括以下的阶段: (a)在材料块中形成埋藏区(12),借由至少一离子引入 的阶段加以脆化,埋藏区定出材料块之至少一表面 部分(14), (b)借由使用分离之第一方法于至少一分离引发剂(30, 36)之脆化区的位置形成,该等方法系可由以下加以 选择:嵌入一工具、注射一种流体、热处理及/或注 入离子(系与前阶段中所引入之离子的本质不同)及 (c)在材料块之表面部分(14)的脆化区位置自其余之部 分(16)(所谓的质量部分)分离,借由使用第二方法自 分离引发剂(30,36)分离,该方法系与第一分离方 法不同,系可由以下加以选择:热处理及/或施加机 械力作用在表面部分与脆化区之间。 此应用系用在制造供微电子学、光学电子学或微机械所用之组件。