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1. 发明专利

TW201322960A 擴散式光學斷層掃描裝置及擴散式光學斷層掃描方法审中-公开
简体标题：扩散式光学断层扫描设备及扩散式光学断层扫描方法
公开(公告)号：TW201322960A
公开(公告)日：2013-06-16
申请号：TW100146128
申请日：2011-12-14
申请人：國立交通大學 , NATIONAL CHIAO TUNG UNIVERSITY
发明人：方偉騏 , FANG, WAI CHI , 陳殿河 , CHEN, TIEN HO , 康適 , KANG, SHIH , 吳世揚 , WU, SHIH YANG , 鄭敬儒 , CHENG, CHING JU
IPC分类号： A61B8/13
CPC分类号： A61B5/0073 , G01N21/4795
摘要：一種擴散式光學斷層掃描裝置及擴散式光學斷層掃描方法，該裝置包括具有複數個光源和偵測器之感測電路以及具有控制單元、運算單元和影像重建單元之光學斷層掃描元件。首先，運算單元根據所設定之一待測物的光學參數建立該待測物的影像模型，並對該影像模型進行分解，接著，控制單元令複數個光源分別對該待測物發射光線，以接收該待測物與光線反應所產生之複數個光訊號，最後，令影像重建單元結合該複數個光訊號和該經分解的影像模型，以根據該複數個光訊號和該經分解的影像模型之結合，重建出待測物的影像。
简体摘要：一种扩散式光学断层扫描设备及扩散式光学断层扫描方法，该设备包括具有复数个光源和侦测器之传感电路以及具有控制单元、运算单元和影像重建单元之光学断层扫描组件。首先，运算单元根据所设置之一待测物的光学参数创建该待测物的影像模型，并对该影像模型进行分解，接着，控制单元令复数个光源分别对该待测物发射光线，以接收该待测物与光线反应所产生之复数个光信号，最后，令影像重建单元结合该复数个光信号和该经分解的影像模型，以根据该复数个光信号和该经分解的影像模型之结合，重建出待测物的影像。

2. 发明专利

TW201113718A 擴散光學斷層掃描之影像重建方法、裝置及電腦程式產品审中-公开
简体标题：扩散光学断层扫描之影像重建方法、设备及电脑进程产品
公开(公告)号：TW201113718A
公开(公告)日：2011-04-16
申请号：TW098133815
申请日：2009-10-06
申请人：國立交通大學
发明人：徐源煌 , 方偉騏 , 桑梓賢
IPC分类号： G06F
CPC分类号： G06T11/006 , A61B5/0042 , A61B5/0073 , G01N21/4795 , G01N21/49
摘要：一種擴散光學斷層掃描之影像重建方法,包含下述步驟:(a)利用一前算模型求得一權重矩陣;(b)利用奇異分解法得到該權重矩陣的逆矩陣;(c)利用待測物的一子區域取得的接收光線訊號計算一光線强度矩陣,並將光線强度矩陣與權重矩陣之逆矩陣相乘得到組織吸收係數矩陣;(d)運算構成一全區域的各子區域之組織吸收係數矩陣;及(e)整合各子區域的組織吸收係數矩陣並對應不同顏色以得到全區域的擴散光學斷層掃描影像。本發明之功效在於使用子區域用來縮小矩陣而可減少運算量,並使用奇異分解法用於逆求解運算,有利於硬體設計以及可攜式裝置的應用。
简体摘要：一种扩散光学断层扫描之影像重建方法,包含下述步骤:(a)利用一前算模型求得一权重矩阵;(b)利用奇异分解法得到该权重矩阵的逆矩阵;(c)利用待测物的一子区域取得的接收光线信号计算一光线强度矩阵,并将光线强度矩阵与权重矩阵之逆矩阵相乘得到组织吸收系数矩阵;(d)运算构成一全区域的各子区域之组织吸收系数矩阵;及(e)集成各子区域的组织吸收系数矩阵并对应不同颜色以得到全区域的扩散光学断层扫描影像。本发明之功效在于使用子区域用来缩小矩阵而可减少运算量,并使用奇异分解法用于逆求解运算,有利于硬件设计以及可携式设备的应用。

3. 发明专利

TW201034626A 延伸範圍成像 EXTENDED RANGE IMAGING 审中-公开
简体标题：延伸范围成像 EXTENDED RANGE IMAGING
公开(公告)号：TW201034626A
公开(公告)日：2010-10-01
申请号：TW098124643
申请日：2009-07-21
申请人：歐普特謬有限公司
发明人：寇東尼H , 趙永華 , 黃大衛
IPC分类号： A61B
CPC分类号： A61B3/102 , A61B3/0025 , A61B5/0066 , A61B5/0073 , A61B5/7257 , G01B9/02004 , G01B9/0201 , G01B9/02021 , G01B9/02028 , G01B9/02044 , G01B9/02091
摘要：本發明提出一種影像器，其可提供對應於一樣本中之不同深度的分離影像。按照本發明之一些實施例，一影像器可包含一光源；一採樣臂，其從該光源接收光，引導該光到一樣本以及捕獲從該樣本返回之光；一調變源，其提供對應於該樣本中之不同成像深度之不同調變；一偵測器系統，其用於接收從具有該等不同調變之該樣本捕獲之該光；及一處理器，其從該偵測器系統接收信號，並且分離與該樣本中之該等不同影像深度相對應的複數個影像。
简体摘要：本发明提出一种影像器，其可提供对应于一样本中之不同深度的分离影像。按照本发明之一些实施例，一影像器可包含一光源；一采样臂，其从该光源接收光，引导该光到一样本以及捕获从该样本返回之光；一调制源，其提供对应于该样本中之不同成像深度之不同调制；一侦测器系统，其用于接收从具有该等不同调制之该样本捕获之该光；及一处理器，其从该侦测器系统接收信号，并且分离与该样本中之该等不同影像深度相对应的复数个影像。

4. 发明专利

TWI418774B 大區域光學檢測裝置及其運作方法有权
简体标题：大区域光学检测设备及其运作方法
公开(公告)号：TWI418774B
公开(公告)日：2013-12-11
申请号：TW099126315
申请日：2010-08-06
申请人：明達醫學科技股份有限公司
发明人：王威 , WANG, WILLIAM , 周忠誠 , CHOU, CHUNG CHENG , 蔡哲良 , TSAI, CHE LIANG
IPC分类号： G01N21/17
CPC分类号： G01N21/4795 , A61B5/0066 , A61B5/0073 , G01B9/02019 , G01B9/02027 , G01B9/02091 , G01B2290/45

5. 发明专利

TW201322961A 用於擴散式光學斷層掃描之控制感測系統及其運作方法审中-公开
简体标题：用于扩散式光学断层扫描之控制传感系统及其运作方法
公开(公告)号：TW201322961A
公开(公告)日：2013-06-16
申请号：TW100146129
申请日：2011-12-14
申请人：國立交通大學 , NATIONAL CHIAO TUNG UNIVERSITY
发明人：方偉騏 , FANG, WAI CHI , 陳殿河 , CHEN, TIEN HO , 康適 , KANG, SHIH , 吳世揚 , WU, SHIH YANG , 鄭敬儒 , CHENG, CHING JU
IPC分类号： A61B8/13
CPC分类号： A61B5/0073 , A61B2562/046 , G01N21/4795
摘要：一種用於擴散式光學斷層掃描之控制感測系統及其運作方法，該控制感測系統包括控制單元及具有複數個光源和偵測器的感測電路，其中，每一光源的周圍係配設有對應的預定數量個偵測器，且複數個光源彼此的相對位置、複數個偵測器彼此的相對位置、各偵測器與各光源的相對位置係具有預定的距離。控制單元令複數個光源分別對一待測物發射光線，使待測物與光線反應以產生複數個光訊號，並令對應各該光源的預定數量個偵測器分別接收該些光訊號，並將該些光訊號傳輸至控制單元。藉此降低控制感測系統的複雜度，並達到微型化及低成本之功效。
简体摘要：一种用于扩散式光学断层扫描之控制传感系统及其运作方法，该控制传感系统包括控制单元及具有复数个光源和侦测器的传感电路，其中，每一光源的周围系配设有对应的预定数量个侦测器，且复数个光源彼此的相对位置、复数个侦测器彼此的相对位置、各侦测器与各光源的相对位置系具有预定的距离。控制单元令复数个光源分别对一待测物发射光线，使待测物与光线反应以产生复数个光信号，并令对应各该光源的预定数量个侦测器分别接收该些光信号，并将该些光信号传输至控制单元。借此降低控制传感系统的复杂度，并达到微型化及低成本之功效。

6. 发明专利

TWI223719B 次微米解析度光學同調斷層攝影技術 SUB-MICROMETER-RESOLUTION OPTICAL COHERENT TOMOGRAPHY 失效
简体标题：次微米分辨率光学同调断层摄影技术 SUB-MICROMETER-RESOLUTION OPTICAL COHERENT TOMOGRAPHY
公开(公告)号：TWI223719B
公开(公告)日：2004-11-11
申请号：TW092114694
申请日：2003-05-30
申请人：財團法人工業技術研究院 INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：孫啓光 SUN, CHI-KUANG
IPC分类号： G02B
CPC分类号： A61B5/0073 , A61B5/0066 , G01B9/02091
摘要：一種次微米解析度光學同調斷層攝影技術，包括發射短波長的光線並經過螢光粉而產生具有寬頻譜之第一光線的光源，將來自該光源的第一光線分成第二光線與第三光線的干涉儀，反射該第二光線而成為參考光線的反射鏡，而待測物反射上述之第三光線所產生的第四光線與該參考光線在上述之干涉儀中產生干涉；該發射寬頻譜光線之光源可為一發射白光的發光二極體，而該發射白光的發光二極體可由發射藍光或紫外光的發光二極體與適當之螢光粉所構成。
简体摘要：一种次微米分辨率光学同调断层摄影技术，包括发射短波长的光线并经过萤光粉而产生具有宽带谱之第一光线的光源，将来自该光源的第一光线分成第二光线与第三光线的干涉仪，反射该第二光线而成为参考光线的反射镜，而待测物反射上述之第三光线所产生的第四光线与该参考光线在上述之干涉仪中产生干涉；该发射宽带谱光线之光源可为一发射白光的发光二极管，而该发射白光的发光二极管可由发射蓝光或紫外光的发光二极管与适当之萤光粉所构成。

7. 发明专利

TWI549654B 大腦體積量測系統有权
简体标题：大脑体积量测系统
公开(公告)号：TWI549654B
公开(公告)日：2016-09-21
申请号：TW101135269
申请日：2012-09-26
申请人：國立陽明大學 , NATIONAL YANG MING UNIVERSITY
发明人：孫家偉 , SUN, CHIA WEI , 莊競程 , CHUANG, CHING CHENG , 謝曜聲 , HSIEH, YAO SHENG
IPC分类号： A61B5/103
CPC分类号： A61B5/0073 , A61B5/055 , A61B5/1075 , A61B5/4064 , A61B2562/046 , A61B2576/026 , G06T7/0012 , G06T2200/04 , G06T2207/10088 , G06T2207/20076 , G06T2207/30016

8. 发明专利

TW201630564A 光偵測裝置及使用該光偵測裝置之影像重建方法审中-公开
简体标题：光侦测设备及使用该光侦测设备之影像重建方法
公开(公告)号：TW201630564A
公开(公告)日：2016-09-01
申请号：TW104106003
申请日：2015-02-25
申请人：國立交通大學 , NATIONAL CHIAO TUNG UNIVERSITY
发明人：方偉騏 , FANG, WAI CHI , 侯翔文 , HOU, HSIANG WEN , 孫浩然 , SUN, HAO JAN
IPC分类号： A61B5/00 , G01N21/47
CPC分类号： A61B5/0073 , A61B2562/046 , G01N21/4795 , G01N2201/0626 , H04N5/33
摘要：一種光偵測裝置及使用該光偵測裝置之影像重建方法。光偵測裝置含有偵測模組與控制模組，該偵測模組具有複數光偵測單元以構成六邊形或蜂巢狀之陣列結構，且各光偵測單元具有發光元件與感光元件，而該控制模組具有選擇器與多工器，選擇器係選擇至少一發光元件以產生光源而發射複數光子至待測物體中，俾由多工器選擇至少一感光元件以偵測擴散於待測物體中之光子之光訊號。藉此，本發明可自待測物體中取得較多的光訊號，以利重建待測物體之影像。
简体摘要：一种光侦测设备及使用该光侦测设备之影像重建方法。光侦测设备含有侦测模块与控制模块，该侦测模块具有复数光侦测单元以构成六边形或蜂嵌套之数组结构，且各光侦测单元具有发光组件与感光组件，而该控制模块具有选择器与多任务器，选择器系选择至少一发光组件以产生光源而发射复数光子至待测物体中，俾由多任务器选择至少一感光组件以侦测扩散于待测物体中之光子之光信号。借此，本发明可自待测物体中取得较多的光信号，以利重建待测物体之影像。

9. 发明专利

TWI480513B 光學同調斷層檢測裝置及其運作方法有权
简体标题：光学同调断层检测设备及其运作方法
公开(公告)号：TWI480513B
公开(公告)日：2015-04-11
申请号：TW098141537
申请日：2009-12-04
申请人：瑞鼎科技股份有限公司 , RAYDIUM SEMICONDUCTOR CORPORATION , 明達醫學科技股份有限公司 , CRYSTALVUE MEDICAL CORPORATION
发明人：周忠誠 , CHOU, CHUNG CHENG , 王威 , WANG, WILLIAM
IPC分类号： G01B9/02 , A61B6/02
CPC分类号： G01B9/02091 , A61B5/0066 , A61B5/0073 , G01B2290/40

10. 发明专利

TW200804794A 光聲分析成像方法 PHOTOACOUSTIC IMAGING METHOD 审中-公开
简体标题：光声分析成像方法 PHOTOACOUSTIC IMAGING METHOD
公开(公告)号：TW200804794A
公开(公告)日：2008-01-16
申请号：TW096118240
申请日：2007-05-22
申请人：皇家飛利浦電子股份有限公司 KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.
发明人：漢斯宙 ZOU, HANS , 萊迪斯雷夫真寇維克 JANKOVIC, LADISLAV
IPC分类号： G01N , A61B
CPC分类号： A61B5/0073 , A61B5/0095 , G01N21/1702
摘要：本發明揭示了一種定位、識別及表徵一複雜環境中之一光聲源之方法。該方法藉由光譜分析及濾波使個別聲回應與干擾分離並藉由將波束成形應用於所分解之聲回應來定位主聲源。可使用主源參數構造一組織之光子吸收結構。
简体摘要：本发明揭示了一种定位、识别及表征一复杂环境中之一光声源之方法。该方法借由光谱分析及滤波使个别声回应与干扰分离并借由将波束成形应用于所分解之声回应来定位主声源。可使用主源参数构造一组织之光子吸收结构。

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