会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 2. 发明专利
    • 在III-V族半導體之閘極結構形成中的原子層沈積 ATOMIC LAYER DEPOSITION IN THE FORMATION OF GATE STRUCTURES FOR III-V SEMICONDUCTOR
    • 在III-V族半导体之闸极结构形成中的原子层沉积 ATOMIC LAYER DEPOSITION IN THE FORMATION OF GATE STRUCTURES FOR III-V SEMICONDUCTOR
    • TW200832697A
    • 2008-08-01
    • TW096140090
    • 2007-10-25
    • 雷森公司 RAYTHEON COMPANY
    • 肯默 泰巴塔拜 TABATABAIE, KAMAL羅伯特 霍洛克 HALLOCK, ROBERT B.
    • H01L
    • H01L21/28587H01L29/66462
    • 一種具有凹部及電介質膜之半導體結構係配置於半導體上且與該半導體相接觸。該電介質膜具有一孔徑於其中,該電介質膜的部分係配置相鄰於該孔徑且突出於該凹部之底層部分。一電接點具有其第一部分配置於該電介質膜之該相鄰部分上,第二部分配置於該凹部之該底層部分上,連同該電介質膜的部分係配置在該電接點的該第一部分與該電接點的該等第二部分之間,以及該電接點的第三部分係配置於該半導體結構中之該凹部的底部部分上且和該半導體結構中之該凹部的該底部部分相接觸。該電接點係藉由將導電材料原子層沈積於該電介質膜之上,並且經過在該電介質膜中的該孔徑來予以形成。
    • 一种具有凹部及电介质膜之半导体结构系配置于半导体上且与该半导体相接触。该电介质膜具有一孔径于其中,该电介质膜的部分系配置相邻于该孔径且突出于该凹部之底层部分。一电接点具有其第一部分配置于该电介质膜之该相邻部分上,第二部分配置于该凹部之该底层部分上,连同该电介质膜的部分系配置在该电接点的该第一部分与该电接点的该等第二部分之间,以及该电接点的第三部分系配置于该半导体结构中之该凹部的底部部分上且和该半导体结构中之该凹部的该底部部分相接触。该电接点系借由将导电材料原子层沉积于该电介质膜之上,并且经过在该电介质膜中的该孔径来予以形成。
    • 4. 发明专利
    • 具有改良場極板的半導體裝置 SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING IMPROVED FIELD PLATES
    • 具有改良场极板的半导体设备 SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING IMPROVED FIELD PLATES
    • TW200727475A
    • 2007-07-16
    • TW095105652
    • 2006-02-20
    • 雷森公司 RAYTHEON COMPANY
    • 黃丘卓 HWANG, KIUCHUL愛爾莎 童 TONG, ELSA K.
    • H01L
    • H01L29/812H01L29/1608H01L29/2003H01L29/402H01L29/42316
    • 本發明揭示一種場效電晶體及其方法,此裝置具有源極和汲極電極以歐姆接觸一半導體。一閘極電極-場極板結構是配置於該源極與汲極電極之間。該閘極電極-場極板結構包括一介電質;一第一金屬以肖特基(Schottky)接觸該半導體;以及一第二金屬。該第二金屬具有一第一部分,配置於該第一金屬之一部分上方,並與其電連接;以及一第二部分,藉該介電質之一部分與該第一金屬之第二部分隔開,並且延伸越過該第一金屬的一邊緣至該第二金屬的一邊緣。該第一金屬的該邊緣是進一步來自該汲極電極,而不是該第二金屬的該邊緣,以提供一場極板於該場效電晶體。
    • 本发明揭示一种场效应管及其方法,此设备具有源极和汲极电极以欧姆接触一半导体。一闸极电极-场极板结构是配置于该源极与汲极电极之间。该闸极电极-场极板结构包括一介电质;一第一金属以肖特基(Schottky)接触该半导体;以及一第二金属。该第二金属具有一第一部分,配置于该第一金属之一部分上方,并与其电连接;以及一第二部分,藉该介电质之一部分与该第一金属之第二部分隔开,并且延伸越过该第一金属的一边缘至该第二金属的一边缘。该第一金属的该边缘是进一步来自该汲极电极,而不是该第二金属的该边缘,以提供一场极板于该场效应管。
    • 6. 发明专利
    • 場效電晶體 FIELD EFFECT TRANSISTOR
    • 场效应管 FIELD EFFECT TRANSISTOR
    • TW200625640A
    • 2006-07-16
    • TW094117102
    • 2005-05-25
    • 雷森公司 RAYTHEON COMPANY
    • 黃丘卓 HWANG, KIUCHUL
    • H01L
    • H01L21/8252H01L27/095
    • 一種半導體結構,具有增強模式電晶體裝置設置於第一區域中以及空乏模式電晶體裝置設置於結構橫向配置之第二區域中。增強模式電晶體裝置InGaP止蝕刻/肖特基接觸層設置於通道層上;與InGaP不同之第一層設置於InGaP層上;空乏模式電晶體裝置止蝕刻層係設置於該第一層上;以及第二層設置於該空乏模式電晶體裝置止蝕刻層上。該空乏模式電晶體裝置具有閘極凹處,通過第二層以及空乏模式電晶體裝置止蝕刻層以及終止於第一層中。該增強模式電晶體裝置具有閘極凹處,通過該第二層、該空乏模式電晶體裝置止蝕刻層、該第一層以及終止於該InGaP層中。
    • 一种半导体结构,具有增强模式晶体管设备设置于第一区域中以及空乏模式晶体管设备设置于结构横向配置之第二区域中。增强模式晶体管设备InGaP止蚀刻/肖特基接触层设置于信道层上;与InGaP不同之第一层设置于InGaP层上;空乏模式晶体管设备止蚀刻层系设置于该第一层上;以及第二层设置于该空乏模式晶体管设备止蚀刻层上。该空乏模式晶体管设备具有闸极凹处,通过第二层以及空乏模式晶体管设备止蚀刻层以及终止于第一层中。该增强模式晶体管设备具有闸极凹处,通过该第二层、该空乏模式晶体管设备止蚀刻层、该第一层以及终止于该InGaP层中。
    • 9. 发明专利
    • 總合增量調變器 SIGMA DELTA MODULATOR
    • 总合增量调制器 SIGMA DELTA MODULATOR
    • TW200405669A
    • 2004-04-01
    • TW092118895
    • 2003-07-10
    • 雷森公司 RAYTHEON COMPANY
    • 喬治 歐羅斯 OLLOS, GEORGE賴瑞 戴胡夫 DAYHUFF, LARRY W.
    • H03M
    • H03M3/324H03M3/43H03M3/438
    • 一種總合增量調變器,具有積分器,積分器具有耦合類比訊號的第一輸入及耦合參考電壓的第二輸入。比較器具有耦合至積分器的輸出的第一輸入及耦合至參考電壓的第二輸入。比較器根據其第一及第二輸入處的訊號之相對量值而產生具有邏輯狀態的訊號。在佇鎖脈沖的佇鎖轉換期間,邏輯狀態會佇鎖在比較器的輸出。在饋送給量化器的時計脈沖之取樣轉換時,一位元量化器儲存比較器輸出處的邏輯狀態。時計脈沖與佇鎖脈沖會彼此同步。每一件鎖轉換會於對應的取樣轉換之前發生。
    • 一种总合增量调制器,具有积分器,积分器具有耦合模拟信号的第一输入及耦合参考电压的第二输入。比较器具有耦合至积分器的输出的第一输入及耦合至参考电压的第二输入。比较器根据其第一及第二输入处的信号之相对量值而产生具有逻辑状态的信号。在伫锁脉冲的伫锁转换期间,逻辑状态会伫锁在比较器的输出。在馈送给量化器的时计脉冲之采样转换时,一比特量化器存储比较器输出处的逻辑状态。时计脉冲与伫锁脉冲会彼此同步。每一件锁转换会于对应的采样转换之前发生。