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1. 发明专利

TWI310839B 積體電路測試器(一) IC TESTER 失效
简体标题：集成电路测试器(一) IC TESTER
公开(公告)号：TWI310839B
公开(公告)日：2009-06-11
申请号：TW095142055
申请日：2006-11-14
申请人：橫河電機股份有限公司 YOKOGAWA ELECTRIC CORPORATION
发明人：永沼英樹 NAGANUMA, HIDEKI
IPC分类号： G01R
摘要：本發明之目的在於實現一種積體電路測試器,用於不須採測試程式以設定偏移電壓,即可供應適當的偏移電壓,而能夠抑制超過範圍的情形。本發明係對於將受測試對象之輸出減去偏移電壓以進行測定的積體電路測試器加以改良。本裝置的特徵為具備電壓測定部,以測定受測試對象之輸出;以及電壓產生部,以根據該電壓測定部之測定結果而產生偏移電壓。
简体摘要：本发明之目的在于实现一种集成电路测试器,用于不须采测试进程以设置偏移电压,即可供应适当的偏移电压,而能够抑制超过范围的情形。本发明系对于将受测试对象之输出减去偏移电压以进行测定的集成电路测试器加以改良。本设备的特征为具备电压测定部,以测定受测试对象之输出;以及电压产生部,以根据该电压测定部之测定结果而产生偏移电压。

2. 发明专利

TW200923954A 半導體測試裝置 SEMICONDUCTOR TEST APPARATUS 审中-公开
简体标题：半导体测试设备 SEMICONDUCTOR TEST APPARATUS
公开(公告)号：TW200923954A
公开(公告)日：2009-06-01
申请号：TW097129665
申请日：2008-08-05
申请人：橫河電機股份有限公司 YOKOGAWA ELECTRIC CORPORATION
发明人：村田和彥 MURATA, KAZUHIKO
IPC分类号： G11C
CPC分类号： G11C29/56 , G01R31/31922 , G11C29/56012
摘要：本發明之目的在於提供運用上之便利性高、能有效率地進行時滯調整之半導體測試裝置。本發明半導體測試裝置係對於半導體裝置施加測試訊號並依據得到之訊號進行前述半導體裝置之測試,具備驅動器接腳區塊,包含:多數驅動器,產生前述測試訊號;至少一調整用比較器,用於進行與前述驅動器之輸出端連接之前述驅動器之時序調整用;基準訊號輸入端,輸入用以進行前述調整用比較器之時序調整的基準訊號。
简体摘要：本发明之目的在于提供运用上之便利性高、能有效率地进行时滞调整之半导体测试设备。本发明半导体测试设备系对于半导体设备施加测试信号并依据得到之信号进行前述半导体设备之测试,具备驱动器接脚区块,包含:多数驱动器,产生前述测试信号;至少一调整用比较器,用于进行与前述驱动器之输出端连接之前述驱动器之时序调整用;基准信号输入端,输入用以进行前述调整用比较器之时序调整的基准信号。

3. 发明专利

TWI308339B 記憶體檢查裝置 MEMORY TESTING EQUIPMENT 有权
简体标题：内存检查设备 MEMORY TESTING EQUIPMENT
公开(公告)号：TWI308339B
公开(公告)日：2009-04-01
申请号：TW095141887
申请日：2006-11-13
申请人：橫河電機股份有限公司 YOKOGAWA ELECTRIC CORPORATION
发明人：木村隆尋 KIMURA, TAKAHIRO
IPC分类号： G11C
摘要：本發明係提供一種記憶體檢查裝置,其無須使用軟體處理,即可在資料寬度不同的檢查模式中,進行檢查結果的位址之重疊處理。本發明解決上述問題之記憶體檢查裝置,係因應於資料寬度不同之檢查模式,檢查位址與資料之讀取構造相異之DUT,其特徵在於:設置有資料存放控制裝置,用以因應於賦予DUT的位址與檢查模式指定訊號,可將失效資料任意配置於失效記憶體之存放位置而加以控制;且該資料存放控制裝置更包含:位址排列順序改變裝置,用以因應DUT之檢查模式,改變位址之排列順序;以及位址選擇裝置,由改變排列順序之位址,依DUT的檢查模式別,在DUT之每個區域決定失效資料之存放分配。
简体摘要：本发明系提供一种内存检查设备,其无须使用软件处理,即可在数据宽度不同的检查模式中,进行检查结果的位址之重叠处理。本发明解决上述问题之内存检查设备,系因应于数据宽度不同之检查模式,检查位址与数据之读取构造相异之DUT,其特征在于:设置有数据存放控制设备,用以因应于赋予DUT的位址与检查模式指定信号,可将失效数据任意配置于失效内存之存放位置而加以控制;且该数据存放控制设备更包含:位址排列顺序改变设备,用以因应DUT之检查模式,改变位址之排列顺序;以及位址选择设备,由改变排列顺序之位址,依DUT的检查模式别,在DUT之每个区域决定失效数据之存放分配。

4. 发明专利

TW200905220A 半導體測試系統 SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM 审中-公开
简体标题：半导体测试系统 SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM
公开(公告)号：TW200905220A
公开(公告)日：2009-02-01
申请号：TW097119473
申请日：2008-05-27
申请人：橫河電機股份有限公司 YOKOGAWA ELECTRIC CORPORATION
发明人：齊藤文宏 SAITO, FUMIHIRO , 宮崎直樹 MIYAZAKI, NAOKI
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G06F11/2733
摘要：一種半導體測試系統包含:腳位電子(pin electronics;PE)卡,各可操作:a)施加測試圖樣至各連接到該PE卡之被測試裝置(device under test;DUT);b)獲得反應於來自該DUT之測試圖樣之輸出之圖樣;c)比較該等圖樣與期望値圖樣;以及d)判定是否該等圖樣符合期望値圖樣,以及失敗控制卡可操作以:e)聚集每一個DUT關於經由PE卡輸入該DUT之失敗資訊;以及f)轉換該失敗資訊至PE卡。
简体摘要：一种半导体测试系统包含:脚位电子(pin electronics;PE)卡,各可操作:a)施加测试图样至各连接到该PE卡之被测试设备(device under test;DUT);b)获得反应于来自该DUT之测试图样之输出之图样;c)比较该等图样与期望値图样;以及d)判定是否该等图样符合期望値图样,以及失败控制卡可操作以:e)聚集每一个DUT关于经由PE卡输入该DUT之失败信息;以及f)转换该失败信息至PE卡。

5. 发明专利

TW200837371A 自動處理機 AUTO HANDLER 审中-公开
简体标题：自动处理机 AUTO HANDLER
公开(公告)号：TW200837371A
公开(公告)日：2008-09-16
申请号：TW097108030
申请日：2008-03-07
申请人：橫河電機股份有限公司 YOKOGAWA ELECTRIC CORPORATION
发明人：平尾左知子 HIRAO, SACHIKO , 古田光弘 FURUTA, MITSUHIRO
IPC分类号： G01R , H01L
摘要：本發明提供一種自動處理機,即使在膠帶較薄的情況下而藉由推壓板(pusher plate)及膠帶夾壓構件夾住膠帶時,膠帶仍然不會撓曲。於本發明的自動處理機中,將安裝於元件封裝膠帶之IC元件輸送到測定部。於測定部中,以藉由推壓板及膠帶夾壓構件而夾住該IC元件的狀態,採用接觸推壓件(contact pusher)將IC元件推壓到探針而進行測定,再將經測定的該IC元件送出。又,該測定部設有吸附機構,用以將該元件封裝膠帶吸附到該推壓板。
简体摘要：本发明提供一种自动处理机,即使在胶带较薄的情况下而借由推压板(pusher plate)及胶带夹压构件夹住胶带时,胶带仍然不会挠曲。于本发明的自动处理机中,将安装于组件封装胶带之IC组件输送到测定部。于测定部中,以借由推压板及胶带夹压构件而夹住该IC组件的状态,采用接触推压件(contact pusher)将IC组件推压到探针而进行测定,再将经测定的该IC组件送出。又,该测定部设有吸附机构,用以将该组件封装胶带吸附到该推压板。

6. 发明专利

TW200831930A 時間測定電路及利用此電路之積體電路檢查裝置 TIME MEASUREMENT CIRCUIT AND IC TESTER EMPLOYING THE SAME 审中-公开
简体标题：时间测定电路及利用此电路之集成电路检查设备 TIME MEASUREMENT CIRCUIT AND IC TESTER EMPLOYING THE SAME
公开(公告)号：TW200831930A
公开(公告)日：2008-08-01
申请号：TW096134173
申请日：2007-09-13
申请人：橫河電機股份有限公司 YOKOGAWA ELECTRIC CORPORATION
发明人：永沼英樹 NAGANUMA, HIDEKI
IPC分类号： G01R , G11C
摘要：本發明將電壓信號與基準電壓以比較電路進行比較,將此比較電路之輸出以短週期保存在記憶體,並偵測此經保存之値變化之位置,而測定上升時間。所以,解決了需要大容量之記憶體且難使時間解析能力提高的問題。將電壓信號與基準電壓以比較電路進行比較,於此比較電路之輸出反轉之時序,使計數時脈之計數器之計數値保存在記憶體。需要的記憶體容量少且能提高時間解析能力。
简体摘要：本发明将电压信号与基准电压以比较电路进行比较,将此比较电路之输出以短周期保存在内存,并侦测此经保存之値变化之位置,而测定上升时间。所以,解决了需要大容量之内存且难使时间解析能力提高的问题。将电压信号与基准电压以比较电路进行比较,于此比较电路之输出反转之时序,使计数时脉之计数器之计数値保存在内存。需要的内存容量少且能提高时间解析能力。

7. 发明专利

TW200802150A 能量管理系統 ENERGY MANAGEMENT SYSTEM 审中-公开
简体标题：能量管理系统 ENERGY MANAGEMENT SYSTEM
公开(公告)号：TW200802150A
公开(公告)日：2008-01-01
申请号：TW096110547
申请日：2007-03-27
申请人：橫河電機股份有限公司 YOKOGAWA ELECTRIC CORPORATION
发明人：安部裕人 ABE, HIROTO , 久家賢治 KUGA, KENJI , 淺尾玲 ASAO, REI , 川崎信幸 KAWASAKI, NOBUYUKI
IPC分类号： G06Q , G05B
CPC分类号： Y02P80/10 , Y02P80/114 , Y02P90/02 , Y02P90/30 , Y02P90/82
摘要：一種能量管理系統,將製造能量數據、生產系及設施系之消耗能量數據,以各能量種類別進行即時搜集,施行依照搜集得到之資訊之能量單價管理,而能實現高精度、節能之成本降低管理。此一能量管理系統包含:原動力系能量管理裝置,用以搜集製造能量之原動力系之能量製造數據;設施系能量管理裝置,用以搜集接受上述能量供給之設施系之能量消耗數據;生產系能量管理裝置,用以搜集接受上述能量供給之生產系之能量消耗數據;及能量統合管理裝置,用以取得上述原動力系之能量製造數據、上述設施系之能量消耗數據、上述生產系之能量消耗數據,以算出工廠能量之單價。
简体摘要：一种能量管理系统,将制造能量数据、生产系及设施系之消耗能量数据,以各能量种类别进行实时搜集,施行依照搜集得到之信息之能量单价管理,而能实现高精度、节能之成本降低管理。此一能量管理系统包含:原动力系能量管理设备,用以搜集制造能量之原动力系之能量制造数据;设施系能量管理设备,用以搜集接受上述能量供给之设施系之能量消耗数据;生产系能量管理设备,用以搜集接受上述能量供给之生产系之能量消耗数据;及能量统合管理设备,用以取得上述原动力系之能量制造数据、上述设施系之能量消耗数据、上述生产系之能量消耗数据,以算出工厂能量之单价。

8. 发明专利

TW200702685A 電壓施加裝置 VOLTAGE SOURCE DEVICE 审中-公开
简体标题：电压施加设备 VOLTAGE SOURCE DEVICE
公开(公告)号：TW200702685A
公开(公告)日：2007-01-16
申请号：TW095114323
申请日：2006-04-21
申请人：橫河電機股份有限公司 YOKOGAWA ELECTRIC CORPORATION
发明人：大芝宏之 OSHIBA, HIROYUKI , 野口正俊 NOGUCHI, MASATOSHI , 小林陽介 KOBAYASHI, YOSUKE
IPC分类号： G01R
摘要：本發明目的為提供一種能形成近乎直線狀增大之上升電壓波形的電壓施加裝置。本發明係對於依據設定電壓與回饋之輸出電壓電壓差來控制輸出電壓之電壓施加裝置加以改良。本裝置包含:一電壓產生部,其輸出於每一定階躍時間產生固定階躍電壓幅度變化之梯級狀電壓;一分壓電阻,其輸出該電壓產生部輸出之設定電壓與該輸出電壓的電壓差;一差動放大器,其將該分壓電阻的電壓差輸入到反轉輸入端子,將非反轉輸入端子接地,並輸出該輸出電壓;及電容器,設於該差動放大器的反轉輸入端子與輸出端子之間設置電容器。
简体摘要：本发明目的为提供一种能形成近乎直线状增大之上升电压波形的电压施加设备。本发明系对于依据设置电压与回馈之输出电压电压差来控制输出电压之电压施加设备加以改良。本设备包含:一电压产生部,其输出于每一定阶跃时间产生固定阶跃电压幅度变化之梯级状电压;一分压电阻,其输出该电压产生部输出之设置电压与该输出电压的电压差;一差动放大器,其将该分压电阻的电压差输入到反转输入端子,将非反转输入端子接地,并输出该输出电压;及电容器,设于该差动放大器的反转输入端子与输出端子之间设置电容器。

9. 发明专利

TW200634324A 測試系統 TEST SYSTEM 失效
简体标题：测试系统 TEST SYSTEM
公开(公告)号：TW200634324A
公开(公告)日：2006-10-01
申请号：TW094145829
申请日：2005-12-22
申请人：橫河電機股份有限公司 YOKOGAWA ELECTRIC CORPORATION
发明人：森田慎吾 MORITA, SHINGO
IPC分类号： G01R
摘要：本發明之目的在實現一種可以高精密度進行測定的測試系統。本發明係對於測試系統加以改良，且此種測試系統係對進行電流輸出的被測試對象進行測試。本裝置之特徵在於具備：電流測定部，用以測定該被測試對象的輸出；以及電流產生部，設置於該電流測定部與該被測試對象的通道之間，並賦予基於該被測試對象的輸出之期望值之反向電流。
简体摘要：本发明之目的在实现一种可以高精密度进行测定的测试系统。本发明系对于测试系统加以改良，且此种测试系统系对进行电流输出的被测试对象进行测试。本设备之特征在于具备：电流测定部，用以测定该被测试对象的输出；以及电流产生部，设置于该电流测定部与该被测试对象的信道之间，并赋予基于该被测试对象的输出之期望值之反向电流。

10. 发明专利

TW200632704A 測試機模擬系統及使用該系統之測試機模擬方法 TESTER SIMULATION SYSTEM AND TESTER SIMULATION METHOD USING SAME 审中-公开
简体标题：测试机仿真系统及使用该系统之测试机仿真方法 TESTER SIMULATION SYSTEM AND TESTER SIMULATION METHOD USING SAME
公开(公告)号：TW200632704A
公开(公告)日：2006-09-16
申请号：TW095100100
申请日：2006-01-02
申请人：橫河電機股份有限公司 YOKOGAWA ELECTRIC CORPORATION
发明人：安齊定樹 ANZAI, SADAKI
IPC分类号： G06F , G01R
CPC分类号： G01R31/31903 , G01R31/31901
摘要：本發明之一目的在實行一種能在短時間內檢驗輸入圖案之時序邊界之測試機模擬系統，及使用該系統之測試機模擬方法。本發明即在改良一使用測試機作為一待測元件並依據測試圖案進行模擬測試之測試機模擬系統。該測試機模擬系統包括一待測元件模型和一測試機模型，在輸出至待測元件模型之前將一希望週期之未知值加至一測試圖案之輸入圖案的邊緣，並且比較該行測元件模型之輸出與該測試圖案之期待值圖案，藉此判斷該待測元件模型之輸出是否位於與期待值不同之位準，或是代表「失誤」之未知值。
简体摘要：本发明之一目的在实行一种能在短时间内检验输入图案之时序边界之测试机仿真系统，及使用该系统之测试机仿真方法。本发明即在改良一使用测试机作为一待测组件并依据测试图案进行仿真测试之测试机仿真系统。该测试机仿真系统包括一待测组件模型和一测试机模型，在输出至待测组件模型之前将一希望周期之未知值加至一测试图案之输入图案的边缘，并且比较该行测组件模型之输出与该测试图案之期待值图案，借此判断该待测组件模型之输出是否位于与期待值不同之位准，或是代表“失误”之未知值。

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