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热词
    • 2. 发明专利
    • 卸膜裝置及其應用之作業設備
    • 卸膜设备及其应用之作业设备
    • TW202030814A
    • 2020-08-16
    • TW108103771
    • 2019-01-31
    • 鴻勁精密股份有限公司
    • 陳炅煜
    • H01L21/67
    • 一種卸膜裝置,包含承置機構及卸膜機構,該承置機構係於基座設有至少一承置部件,以承置一具膠膜之載框模組,該卸膜機構係於承置機構之上方設有架置器,並於架置器裝配至少一卸膜驅動源,以驅動具至少一卸膜部件之卸膜具作第一方向位移,使得卸膜具之卸膜部件沖壓該載框模組之膠膜脫離框架 ,進而自動化卸除載框模組之膠膜,達到提升卸膜便利性及生產效能之實用效益。
    • 一种卸膜设备,包含承置机构及卸膜机构,该承置机构系于基座设有至少一承置部件,以承置一具胶膜之载框模块,该卸膜机构系于承置机构之上方设有架置器,并于架置器装配至少一卸膜驱动源,以驱动具至少一卸膜部件之卸膜具作第一方向位移,使得卸膜具之卸膜部件冲压该载框模块之胶膜脱离框架 ,进而自动化卸除载框模块之胶膜,达到提升卸膜便利性及生产性能之实用效益。
    • 6. 发明专利
    • 電子元件測試裝置及其應用之測試分類設備
    • 电子组件测试设备及其应用之测试分类设备
    • TW202007993A
    • 2020-02-16
    • TW107126187
    • 2018-07-27
    • 鴻勁精密股份有限公司
    • 陳麒宏陳炅煜
    • G01R31/02G01R31/26B65G49/05B07C5/34
    • 一種電子元件測試裝置,其測試機構係於架置具之第一通孔上方裝配至少一電性連接測試機之測試器,載送機構係於架置具之下方設有具至少一第一承置部件之轉盤,該轉盤旋轉帶動第一承置部件及其承置之具發光體的電子元件載送至第一通孔下方,電傳機構係於測試機構之第一通孔下方設有帶動電傳器位移之載具,以令電傳器之傳輸件電性接觸電子元件之接點,使電子元件之發光體朝向測試器投射光線,測試器於接收光線後係傳輸一訊號至測試機,以判別電子元件之發光品質,達到自動化測試而提高生產效能之實用效益。
    • 一种电子组件测试设备,其测试机构系于架置具之第一通孔上方装配至少一电性连接测试机之测试器,载送机构系于架置具之下方设有具至少一第一承置部件之转盘,该转盘旋转带动第一承置部件及其承置之具发光体的电子组件载送至第一通孔下方,电传机构系于测试机构之第一通孔下方设有带动电传器位移之载具,以令电传器之传输件电性接触电子组件之接点,使电子组件之发光体朝向测试器投射光线,测试器于接收光线后系传输一信号至测试机,以判别电子组件之发光品质,达到自动化测试而提高生产性能之实用效益。
    • 7. 发明专利
    • 電子元件移載裝置及其應用之作業分類設備
    • 电子组件移载设备及其应用之作业分类设备
    • TW201843760A
    • 2018-12-16
    • TW106115027
    • 2017-05-05
    • 鴻勁精密股份有限公司
    • 陳炅煜陳威志
    • H01L21/677B65G47/04B65G47/22
    • 一種電子元件移載裝置,其承載器係作至少一方向位移,並設有可承置電子元件之容置部,該容置部之側方係設有可折射取像電子元件側面之菱鏡,另於承載器之容置部設有作至少一方向位移之拾取器,於承載器之容置部導引置入於內之電子元件擺置正確後,該拾取器即帶動電子元件位移至菱鏡側方之待檢知位置,該承載器帶動電子元件位移至一取像器之取像區域,以供取像器利用承載器上之菱鏡對電子元件進行外觀檢知作業,進而減少移載電子元件之作動時序及路徑,達到節省作業時間及提高生產效能之實用效益。
    • 一种电子组件移载设备,其承载器系作至少一方向位移,并设有可承置电子组件之容置部,该容置部之侧方系设有可折射取像电子组件侧面之菱镜,另于承载器之容置部设有作至少一方向位移之十取器,于承载器之容置部导引置入于内之电子组件摆置正确后,该十取器即带动电子组件位移至菱镜侧方之待检知位置,该承载器带动电子组件位移至一取像器之取像区域,以供取像器利用承载器上之菱镜对电子组件进行外观检知作业,进而减少移载电子组件之作动时序及路径,达到节省作业时间及提高生产性能之实用效益。