会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 3. 发明专利
    • 表面輪廓量測裝置及其量測方法
    • 表面轮廓量测设备及其量测方法
    • TW201122413A
    • 2011-07-01
    • TW098146248
    • 2009-12-31
    • 財團法人金屬工業研究發展中心
    • 侯博勳陳嘉昌陳進明
    • G01B
    • 本發明之表面輪廓量測裝置及其量測方法,表面輪廓量測裝置包含一分光結構、一感測器、一反射裝置與一白光光源,利用感測器擷取工件之一第一干涉影像,第一干涉影像具有零階條紋之一第一位置;移動該工件後在擷取該工件之一第二干涉影像,第二干涉影像具有零階條紋之一第二位置,如此以計算第一位置與第二位置之第一距離,在計算工件所移動之第二距離,最後描繪第一距離與第二距離。本發明藉由白光光源可對於表面輪廓變化小於光波長甚多之工件進行量測,並以非接觸式之量測方式以描繪出工件表面輪廓,以避免工件於描繪表面輪廓時刮傷。
    • 本发明之表面轮廓量测设备及其量测方法,表面轮廓量测设备包含一分光结构、一传感器、一反射设备与一白光光源,利用传感器截取工件之一第一干涉影像,第一干涉影像具有零阶条纹之一第一位置;移动该工件后在截取该工件之一第二干涉影像,第二干涉影像具有零阶条纹之一第二位置,如此以计算第一位置与第二位置之第一距离,在计算工件所移动之第二距离,最后描绘第一距离与第二距离。本发明借由白光光源可对于表面轮廓变化小于光波长甚多之工件进行量测,并以非接触式之量测方式以描绘出工件表面轮廓,以避免工件于描绘表面轮廓时刮伤。