专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明专利

TW201814239A 干涉儀及其成像方法审中-公开
简体标题：干涉仪及其成像方法
公开(公告)号：TW201814239A
公开(公告)日：2018-04-16
申请号：TW106127569
申请日：2017-08-15
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：張庭瑋 , CHANG, TING-WEI , 李源欽 , LEE, YUAN-CHIN , 張啟伸 , CHANG, CHI-SHEN , 江鴻志 , CHIANG, HUNG-CHIH , 陳順成 , CHEN, SHUEN-CHEN
IPC分类号： G01B9/02 , G01J9/02
摘要：具解調功能的干涉儀，適於檢測一待測樣品。該干涉儀包括：一光源，提供一光束；一分光元件，接收光源所發出的光束，並將光束分成一第一入射光及一第二入射光，其中第一入射光入射至待測樣品並反射成一第一反射光；一反射元件，接收第二入射光並反射成一第二反射光；一光偵測元件，接收第一反射光與第二反射光，以產生一干涉信號；一信號處理模組，耦接至光偵測元件，信號處理模組接收干涉信號並對干涉信號進行空間微分處理，以得到待測樣品之一解調影像。
简体摘要：具解调功能的干涉仪，适于检测一待测样品。该干涉仪包括：一光源，提供一光束；一分光组件，接收光源所发出的光束，并将光束分成一第一入射光及一第二入射光，其中第一入射光入射至待测样品并反射成一第一反射光；一反射组件，接收第二入射光并反射成一第二反射光；一光侦测组件，接收第一反射光与第二反射光，以产生一干涉信号；一信号处理模块，耦接至光侦测组件，信号处理模块接收干涉信号并对干涉信号进行空间微分处理，以得到待测样品之一解调影像。

2. 发明专利

TWI481848B 光學定址承載器有权
简体标题：光学寻址承载器
公开(公告)号：TWI481848B
公开(公告)日：2015-04-21
申请号：TW102139592
申请日：2013-10-31
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：刁國棟 , TIAO, KUO TUNG , 張勝立 , CHANG, SHENG LI , 陳榮波 , CHEN, JUNG PO , 黃俊傑 , HUANG, CHUN CHIEH , 陳治誠 , CHEN, JYH CHERN , 蔡榮源 , TSAI, RUNG YWAN , 黃戴廷 , HUANG, TAI TING , 李源欽 , LEE, YUAN CHIN , 羅豐祥 , LO, FENG HSIANG , 鍾隆斌 , CHUNG, LUNG PIN , 江鴻志 , CHIANG, HUNG CHIH , 翁國曜 , WENG, KUO YAO , 鄭志明 , CHENG, CHIH MING
IPC分类号： G01N21/01

3. 发明专利

TW201418693A 光學定址承載器审中-公开
简体标题：光学寻址承载器
公开(公告)号：TW201418693A
公开(公告)日：2014-05-16
申请号：TW102139592
申请日：2013-10-31
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：刁國棟 , TIAO, KUO TUNG , 張勝立 , CHANG, SHENG LI , 陳榮波 , CHEN, JUNG PO , 黃俊傑 , HUANG, CHUN CHIEH , 陳治誠 , CHEN, JYH CHERN , 蔡榮源 , TSAI, RUNG YWAN , 黃戴廷 , HUANG, TAI TING , 李源欽 , LEE, YUAN CHIN , 羅豐祥 , LO, FENG HSIANG , 鍾隆斌 , CHUNG, LUNG PIN , 江鴻志 , CHIANG, HUNG CHIH , 翁國曜 , WENG, KUO YAO , 鄭志明 , CHENG, CHIH MING
IPC分类号： G01N21/01
摘要：本揭露係提供一種具有光學定址功能之承載器。該承載器能夠將樣品採樣影像檢測結果定址到承載器編碼區之對應位址碼。
简体摘要：本揭露系提供一种具有光学寻址功能之承载器。该承载器能够将样品采样影像检测结果寻址到承载器编码区之对应位址码。

4. 发明专利

TW201327009A 具有自動對焦功能之診斷設備审中-公开
简体标题：具有自动对焦功能之诊断设备
公开(公告)号：TW201327009A
公开(公告)日：2013-07-01
申请号：TW100149644
申请日：2011-12-29
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：李源欽 , LEE, YUAN CHIN , 蔡榮源 , TSAI, RUNG YWAN , 張啟伸 , CHANG, CHI SHEN , 黃戴廷 , HUANG, TAI TING , 陳宏岳 , CHEN, HUNG YUEH , 呂宏洲 , LYU, HONG CHOU
IPC分类号： G03B13/36 , G02B3/00 , G02B5/08 , G02F1/29
CPC分类号： A61B3/12 , A61B3/14 , G02B7/28
摘要：一種自動對焦之診斷設備，包括影像偵測裝置、第一掃描裝置、移動式光學透鏡組件、聚焦偵測裝置及第一分光元件。影像偵測裝置包括提供第一入射光之第一光源及第一光偵測器。第一入射光入射至待測物後產生為第一訊號光，第一光偵測器接收第一訊號光。第一掃描裝置調整第一入射光路徑以掃描待測物。聚焦偵測裝置包括偵測待測物反射之第二訊號光的第二光偵測器、聚焦誤差產生元件及控制單元。移動式光學透鏡組件具透鏡及承載透鏡之位移台。控制單元電性連接第二光偵測器及位移台以依據第二訊號光控制位移台移動並調整第一入射光的聚焦位置。
简体摘要：一种自动对焦之诊断设备，包括影像侦测设备、第一扫描设备、移动式光学透镜组件、聚焦侦测设备及第一分光组件。影像侦测设备包括提供第一入射光之第一光源及第一光侦测器。第一入射光入射至待测物后产生为第一信号光，第一光侦测器接收第一信号光。第一扫描设备调整第一入射光路径以扫描待测物。聚焦侦测设备包括侦测待测物反射之第二信号光的第二光侦测器、聚焦误差产生组件及控制单元。移动式光学透镜组件具透镜及承载透镜之位移台。控制单元电性连接第二光侦测器及位移台以依据第二信号光控制位移台移动并调整第一入射光的聚焦位置。

5. 发明专利

TWI652467B 生物組織光學檢測探頭有权
简体标题：生物组织光学检测探头
公开(公告)号：TWI652467B
公开(公告)日：2019-03-01
申请号：TW106131131
申请日：2017-09-12
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：王淇霖 , WANG, CHY-LIN , 李源欽 , LEE, YUAN-CHIN , 黃俊傑 , HUANG, CHUN-CHIEH , 江鴻志 , CHIANG, HUNG-CHIH , 鄭志明 , CHENG, CHIH-MING , 陳順成 , CHEN, SHUEN-CHEN
IPC分类号： G01N21/01 , G01N21/17 , G01N33/48

6. 发明专利

TWI467155B 調整針孔位置與大小之光學裝置及其方法有权
简体标题：调整针孔位置与大小之光学设备及其方法
公开(公告)号：TWI467155B
公开(公告)日：2015-01-01
申请号：TW100146338
申请日：2011-12-14
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：呂宏洲 , LYU, HONG CHOU , 李源欽 , LEE, YUAN CHIN
IPC分类号： G01N21/17 , G02F1/133
CPC分类号： G02B5/005 , G02B21/0044 , G02B21/0096 , G02F1/13

7. 发明专利

TWI408523B 記錄移動平台運動軌跡的系統與方法有权
简体标题：记录移动平台运动轨迹的系统与方法
公开(公告)号：TWI408523B
公开(公告)日：2013-09-11
申请号：TW098113685
申请日：2009-04-24
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：李源欽 , LEE, YUAN CHIN
IPC分类号： G05B19/19

8. 发明专利

TW201009525A 雷射刻錄方法及系統 LASER MARKING METHOD AND LASER MARKING SYSTEM 审中-公开
简体标题：激光刻录方法及系统 LASER MARKING METHOD AND LASER MARKING SYSTEM
公开(公告)号：TW201009525A
公开(公告)日：2010-03-01
申请号：TW097131475
申请日：2008-08-18
申请人：財團法人工業技術研究院
发明人：柯朝元 , 黃俊傑 , 李源欽 , 鄭坤銓
IPC分类号： G05D
CPC分类号： B23K26/0673 , B23K26/0087 , B23K26/046 , B23K26/0853 , B23K26/40 , B23K2201/35
摘要：一種雷射刻錄方法及系統。雷射刻錄方法包括以下步驟：提供一基板，基板已刻錄至少M條刻錄線，M係為大於或等於1的整數。提供一雷射光束。將雷射光束分為至少兩道子雷射光束，此些子雷射光束包含一第一子雷射光束及一第二子雷射光束。將第二子雷射光束對準於第N-M條刻錄線，並以第一子雷射光束刻錄一第N條刻錄線，N為大於或等於M的整數。
简体摘要：一种激光刻录方法及系统。激光刻录方法包括以下步骤：提供一基板，基板已刻录至少M条刻录线，M系为大于或等于1的整数。提供一激光光束。将激光光束分为至少两道子激光光束，此些子激光光束包含一第一子激光光束及一第二子激光光束。将第二子激光光束对准于第N-M条刻录线，并以第一子激光光束刻录一第N条刻录线，N为大于或等于M的整数。

9. 发明专利

TW424237B 可讀寫之光學頭失效
简体标题：可读写之光学头
公开(公告)号：TW424237B
公开(公告)日：2001-03-01
申请号：TW088105835
申请日：1999-04-13
申请人：財團法人工業技術研究院
发明人：李源欽 , 喬作文
IPC分类号： G11B
CPC分类号： G11B7/1359
摘要：本發明為一種可讀寫之光學頭，其中揭露了一種可令光學頭使用最少元件的技術，根據本發明所揭露的技術，包括了：在光學頭之光學路徑中配置一種雙折射三角稜鏡，以及一1/4波板(1/4 λplate),其中的雙折射三角稜鏡是由雙折射材料製成，利用雙折射材料具有二種不同折射率(對不同偏極性)的特性，將來自光源之雷射光整形，並且將偏極性(Polarization)彼此不同的雷射光源與回程光束分別分離至不同的輸出光路及回程光路，因此僅利用單一個雙折射三角稜鏡，就能具備整形雷射光源、以及分離雷射光源與回程光束的功能，致使光學頭的使用元件降低，構造更精簡。
简体摘要：本发明为一种可读写之光学头，其中揭露了一种可令光学头使用最少组件的技术，根据本发明所揭露的技术，包括了：在光学头之光学路径中配置一种双折射三角棱镜，以及一1/4波板(1/4 λplate),其中的双折射三角棱镜是由双折射材料制成，利用双折射材料具有二种不同折射率(对不同偏极性)的特性，将来自光源之激光光整形，并且将偏极性(Polarization)彼此不同的激光光源与回程光束分别分离至不同的输出光路及回程光路，因此仅利用单一个双折射三角棱镜，就能具备整形激光光源、以及分离激光光源与回程光束的功能，致使光学头的使用组件降低，构造更精简。

10. 发明专利

TWI466112B 光學設備及光學定址方法有权
简体标题：光学设备及光学寻址方法
公开(公告)号：TWI466112B
公开(公告)日：2014-12-21
申请号：TW101121171
申请日：2012-06-13
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：刁國棟 , TIAO, KUO TUNG , 朱朝居 , JU, JAU JIU , 吳國瑞 , WU, GUO ZUA , 黃戴廷 , HUANG, TAI TING , 李源欽 , LEE, YUAN CHIN , 蔡榮源 , TSAI, RUNG YWAN
IPC分类号： G11B7/12 , G11B15/08 , G11B20/12 , G01M11/02

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式