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    • 7. 发明专利
    • 晶圓處理用之處理室及相關之方法 CHAMBER AND ASSOCIATED METHODS FOR WAFER PROCESSING
    • 晶圆处理用之处理室及相关之方法 CHAMBER AND ASSOCIATED METHODS FOR WAFER PROCESSING
    • TW200425243A
    • 2004-11-16
    • TW093107840
    • 2004-03-23
    • 蘭姆研究公司 LAM RESEARCH CORPORATION
    • 約翰 帕克斯 PARKS, JOHN
    • H01L
    • H01L21/67126B08B7/0021H01L21/67051H01L21/67109H01L21/67751H01L21/6838
    • 本發明係提供一晶圓處理室,用以使該處理室內之一流體流以及一流體壓力得以用可變動的方式來控制。該處理室使用可移動之平板,其構成可控制該處理室內之一內部容積內的流體流以及流體壓力。且,該可移動之平板亦可用來將該處理室內之內部容積與該處理室內之一外部容積分離。除此之外,本發明亦提供一用於該處理室內之晶圓夾持裝置。該晶圓夾持裝置使用一介於該晶圓之上表面及一下表面之間的壓力差來將該晶圓拉向一與該晶圓下表面相接之晶圓支承結構,藉此將該晶圓固定且維持一不可動狀態。且,本發明亦提供一高壓處理室之構成。
    • 本发明系提供一晶圆处理室,用以使该处理室内之一流体流以及一流体压力得以用可变动的方式来控制。该处理室使用可移动之平板,其构成可控制该处理室内之一内部容积内的流体流以及流体压力。且,该可移动之平板亦可用来将该处理室内之内部容积与该处理室内之一外部容积分离。除此之外,本发明亦提供一用于该处理室内之晶圆夹持设备。该晶圆夹持设备使用一介于该晶圆之上表面及一下表面之间的压力差来将该晶圆拉向一与该晶圆下表面相接之晶圆支承结构,借此将该晶圆固定且维持一不可动状态。且,本发明亦提供一高压处理室之构成。