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1. 发明专利

TW200602619A 表面變形的測量裝置 Surface Strain Measuring Device 审中-公开
简体标题：表面变形的测量设备 Surface Strain Measuring Device
公开(公告)号：TW200602619A
公开(公告)日：2006-01-16
申请号：TW094116999
申请日：2005-05-25
申请人：英席狄克斯公司 INSIDIX
发明人：洋克勞德勒孔特 LECOMTE, JEAN-CLAUDE , 羅曼法悠勒 FAYOLLE, ROMAIN
IPC分类号： G01B
CPC分类号： G01B11/162
摘要：根據本發明的裝置係使得一個樣本(2)之至少一個表面(1)的應變可以對於溫度而被測量出來。在垂直於一個預定平面、例如是該表面(1)的平面、之一個方向中的應變係藉著複合的影像被測量。在前述平面中的應變係藉著影像互相關係而被測量。藉著影像互相關係的測量以及藉著複合影像的測量係使用一個共同的可見光檢測攝影機(3)。該樣本(2)係被配置在一個封閉件(6)之中，該封閉件對於可見光(L)來說至少為局部地可穿透的。至少一個紅外線發射器(9)係使得一種紅外線可以在一個光譜波段中被產生，用於沒有被該攝影機(3)所檢測到的一個較大部份。
简体摘要：根据本发明的设备系使得一个样本(2)之至少一个表面(1)的应变可以对于温度而被测量出来。在垂直于一个预定平面、例如是该表面(1)的平面、之一个方向中的应变系借着复合的影像被测量。在前述平面中的应变系借着影像互相关系而被测量。借着影像互相关系的测量以及借着复合影像的测量系使用一个共同的可见光检测摄影机(3)。该样本(2)系被配置在一个封闭件(6)之中，该封闭件对于可见光(L)来说至少为局部地可穿透的。至少一个红外线发射器(9)系使得一种红外线可以在一个光谱波段中被产生，用于没有被该摄影机(3)所检测到的一个较大部份。

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