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1. 发明专利

TW201837471A 具有差異下壓力之電子元件壓接裝置审中-公开
简体标题：具有差异下压力之电子组件压接设备
公开(公告)号：TW201837471A
公开(公告)日：2018-10-16
申请号：TW106111558
申请日：2017-04-06
申请人：致茂電子股份有限公司
发明人：吳基誠 , 呂孟恭 , 鄭允睿 , 陳建名
IPC分类号： G01R1/02
摘要：本發明係有關於一種具有差異下壓力之電子元件壓接裝置，主要包括第一下壓力產生裝置、下壓頭、第二下壓力產生裝置及下壓桿；其中，第一下壓力產生裝置促使下壓頭施加第一下壓力於測試座或電子元件之局部，第二下壓力產生裝置促使下壓桿下壓並施加第二下壓力於電子元件之另一局部，以使電子元件電性接觸測試座之複數探針。據此，本發明設置了至少二下壓力產生裝置，藉此可單獨對電子裝置或同時對電子裝置及檢測設備提供至少二種具差異之下壓力，可因應精密電子元件之特殊下壓力需求。
简体摘要：本发明系有关于一种具有差异下压力之电子组件压接设备，主要包括第一下压力产生设备、下压头、第二下压力产生设备及下压杆；其中，第一下压力产生设备促使下压头施加第一下压力于测试座或电子组件之局部，第二下压力产生设备促使下压杆下压并施加第二下压力于电子组件之另一局部，以使电子组件电性接触测试座之复数探针。据此，本发明设置了至少二下压力产生设备，借此可单独对电子设备或同时对电子设备及检测设备提供至少二种具差异之下压力，可因应精密电子组件之特殊下压力需求。

2. 发明专利

TWI633311B 具屏蔽功能之電子元件檢測模組有权
简体标题：具屏蔽功能之电子组件检测模块
公开(公告)号：TWI633311B
公开(公告)日：2018-08-21
申请号：TW106142343
申请日：2017-12-04
申请人：致茂電子股份有限公司
发明人：鄭允睿 , 吳基誠 , 陳建名
IPC分类号： G01R1/18

3. 发明专利

TW201716789A 指紋感測器之全域檢測方法及其檢測設備审中-公开
简体标题：指纹传感器之全域检测方法及其检测设备
公开(公告)号：TW201716789A
公开(公告)日：2017-05-16
申请号：TW104136997
申请日：2015-11-10
申请人：致茂電子股份有限公司
发明人：陳建名
IPC分类号： G01R31/01 , G06K9/00
摘要：本發明係有關於一種指紋感測器之全域檢測方法及其檢測設備，主要藉由控制器控制取放裝置將指紋感測器置入測試座，並控制測試臂趨近測試座使導電元件接觸測試座上的指紋感測器以進行檢測，且控制器控制取放裝置自測試座取出已經檢測完畢之指紋感測器。據此，本發明利用控制器來控制整個檢測的進行，並藉由取放裝置和測試臂來取代人工手動搬運和手動檢測的習知檢測方式。
简体摘要：本发明系有关于一种指纹传感器之全域检测方法及其检测设备，主要借由控制器控制取放设备将指纹传感器置入测试座，并控制测试臂趋近测试座使导电组件接触测试座上的指纹传感器以进行检测，且控制器控制取放设备自测试座取出已经检测完毕之指纹传感器。据此，本发明利用控制器来控制整个检测的进行，并借由取放设备和测试臂来取代人工手动搬运和手动检测的习知检测方式。

4. 发明专利

TWI475631B 具有旋動式測試手臂之半導體元件測試系統有权
简体标题：具有旋动式测试手臂之半导体组件测试系统
公开(公告)号：TWI475631B
公开(公告)日：2015-03-01
申请号：TW101137524
申请日：2012-10-11
申请人：致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
发明人：陳建名 , 蔡譯慶 , 歐陽勤一
IPC分类号： H01L21/677
CPC分类号： G01R31/2601 , G01R31/2887 , G01R31/2893

5. 发明专利

TWI456220B 具有乾燥環境之測試機台有权
简体标题：具有干燥环境之测试机台
公开(公告)号：TWI456220B
公开(公告)日：2014-10-11
申请号：TW101150472
申请日：2012-12-27
申请人：致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
发明人：吳信毅 , WU, HSIN YI , 沈軒任 , SHEN, HSUAN JEN , 陳建名 , CHEN, CHIEN MING , 歐陽勤一 , OU YANG, CHIN YI
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/2877 , G01N1/42 , G01R31/2865

6. 发明专利

TWI442506B 自動化料盤移運機台有权
简体标题：自动化料盘移运机台
公开(公告)号：TWI442506B
公开(公告)日：2014-06-21
申请号：TW101121185
申请日：2012-06-13
申请人：致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
发明人：陳建名 , CHEN, CHIEN MING
IPC分类号： H01L21/677 , B65G49/07

7. 发明专利

TWI362085B 具有複數吸嘴之吸附裝置有权
简体标题：具有复数吸嘴之吸附设备
公开(公告)号：TWI362085B
公开(公告)日：2012-04-11
申请号：TW097101281
申请日：2008-01-14
申请人：致茂電子股份有限公司
发明人：王銘輝 , 王嘉村 , 陳建名
IPC分类号： H01L
摘要：本發明揭露一種具有複數吸嘴之吸附裝置，係供連通至氣壓變換裝置，並供吸取形成有複數分別供承載電路元件之容置槽的承載盤中之所有電路元件，吸附裝置包含：一組形成有至少一個供連通至氣壓變換裝置之通氣孔、及一個自通氣孔延伸之氣道的基座；及複數組對應於承載盤中容置槽數目、形成於基座下方、具有一個形成有吸氣孔的吸附面、及形成有一組連貫吸氣孔與氣道的分流道之吸嘴。藉由本發明，可批次同時攜行整個承載盤之電路元件，且提供電路元件適當之吸附與釋放機制。
简体摘要：本发明揭露一种具有复数吸嘴之吸附设备，系供连通至气压变换设备，并供吸取形成有复数分别供承载电路组件之容置槽的承载盘中之所有电路组件，吸附设备包含：一组形成有至少一个供连通至气压变换设备之通气孔、及一个自通气孔延伸之气道的基座；及复数组对应于承载盘中容置槽数目、形成于基座下方、具有一个形成有吸气孔的吸附面、及形成有一组连贯吸气孔与气道的分流道之吸嘴。借由本发明，可批次同时携行整个承载盘之电路组件，且提供电路组件适当之吸附与释放机制。

8. 发明专利

TWI347921B 電路元件承載盤供輸／堆疊系統有权
简体标题：电路组件承载盘供输／堆栈系统
公开(公告)号：TWI347921B
公开(公告)日：2011-09-01
申请号：TW097106780
申请日：2008-02-27
申请人：致茂電子股份有限公司
发明人：陳建名
IPC分类号： B65G
摘要：本發明揭露一種電路元件承載盤供輸/堆疊系統，係配合機台設置，並供複數分別供容置複數電路元件之承載盤堆疊置放，包含：一組導引複數承載盤堆疊方向之堆疊輔助裝置；一組將複數對應堆疊輔助裝置堆疊之承載盤沿堆疊之方向升降的升降裝置；及一組對應堆疊輔助裝置之特定位置設置，並供沿與堆疊方向夾一角度方向夾持複數堆疊承載盤最上層之該承載盤的攜行裝置。藉此，提供承載盤進出以供應電路元件予機台更有效且合理化之運送模式，即便變更供料流程，中途取放供料承載盤，亦不影響機台既定作業。
简体摘要：本发明揭露一种电路组件承载盘供输/堆栈系统，系配合机台设置，并供复数分别供容置复数电路组件之承载盘堆栈置放，包含：一组导引复数承载盘堆栈方向之堆栈辅助设备；一组将复数对应堆栈辅助设备堆栈之承载盘沿堆栈之方向升降的升降设备；及一组对应堆栈辅助设备之特定位置设置，并供沿与堆栈方向夹一角度方向夹持复数堆栈承载盘最上层之该承载盘的携行设备。借此，提供承载盘进出以供应电路组件予机台更有效且合理化之运送模式，即便变更供料流程，中途取放供料承载盘，亦不影响机台既定作业。

9. 发明专利

TW200842092A 具循序排列進料區、測試區及出料區之多測試座測試機台审中-公开
简体标题：具循序排列进料区、测试区及出料区之多测试座测试机台
公开(公告)号：TW200842092A
公开(公告)日：2008-11-01
申请号：TW096113864
申请日：2007-04-20
申请人：致茂電子股份有限公司 CHROMA ATE INC.
发明人：陳建名
IPC分类号： B65G , G01R
摘要：本發明係將進料區、測試區及出料區三者沿第一方向排列,承載移動裝置、撿取裝置則彼此相對沿第二方向配置,並沿第一方向在上述三區間相對移動,藉兩者交錯的動向設計,由承載移動裝置吸取進料區之待測元件,將待測元件搬移至測試區之測試座中,由驅動裝置驅動各測試座依序經過如平整測試、電性測試、效能測試等單元後,再由撿取裝置將完測元件搬移至出料區之出料承載盤放置。藉此,批次進行大量檢測,並讓進料與出料分列於測試區兩端,使機台配置集積化,運送及測試之效率提高,更減少待測物搬移次數,避免無謂劣化而降低良率。
简体摘要：本发明系将进料区、测试区及出料区三者沿第一方向排列,承载移动设备、捡取设备则彼此相对沿第二方向配置,并沿第一方向在上述三区间相对移动,藉两者交错的动向设计,由承载移动设备吸取进料区之待测组件,将待测组件搬移至测试区之测试座中,由驱动设备驱动各测试座依序经过如平整测试、电性测试、性能测试等单元后,再由捡取设备将完测组件搬移至出料区之出料承载盘放置。借此,批次进行大量检测,并让进料与出料分列于测试区两端,使机台配置集积化,运送及测试之效率提高,更减少待测物搬移次数,避免无谓劣化而降低良率。

10. 实用新型

TWM306388U 設有具風道散熱裝置之半導體構件測試機台失效
简体标题：设有具风道散热设备之半导体构件测试机台
公开(公告)号：TWM306388U
公开(公告)日：2007-02-11
申请号：TW095211436
申请日：2006-06-30
申请人：致茂電子股份有限公司 CHROMA ATE INC.
发明人：曾一士 , 陳建名 , 陳瑞雄
IPC分类号： H01L
摘要：一種設有具風道散熱裝置之半導體構件測試機台，藉由風道、及具風道散熱裝置底面與半導體元件頂面之間隔設計，強制來自供氣裝置之散熱氣流吹過該間隔，而具風道散熱裝置係受到一致動裝置之驅動而可相對載台移動，並自動將受測半導體構件抵緊於連接器，讓測試過程完全自動化。更由於間隔之大小遠小於半導體元件之尺寸，使得具風道散熱裝置底面與半導體元件頂面之溫差梯度相較於習用技術被明顯增大，從而讓散熱效果獲得大幅提升，有效解決自動檢測過程中之散熱問題；尤其可進一步藉由控制間隔大小，精確提供不同程度之降溫環境，更讓測試之精密度大幅提升。
简体摘要：一种设有具风道散热设备之半导体构件测试机台，借由风道、及具风道散热设备底面与半导体组件顶面之间隔设计，强制来自供气设备之散热气流吹过该间隔，而具风道散热设备系受到一致动设备之驱动而可相对载台移动，并自动将受测半导体构件抵紧于连接器，让测试过程完全自动化。更由于间隔之大小远小于半导体组件之尺寸，使得具风道散热设备底面与半导体组件顶面之温差梯度相较于习用技术被明显增大，从而让散热效果获得大幅提升，有效解决自动检测过程中之散热问题；尤其可进一步借由控制间隔大小，精确提供不同程度之降温环境，更让测试之精密度大幅提升。

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