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    • 7. 发明专利
    • 用於處理大面積基板之方法與設備
    • 用于处理大面积基板之方法与设备
    • TW201520538A
    • 2015-06-01
    • TW103125046
    • 2014-07-22
    • 應用材料股份有限公司APPLIED MATERIALS, INC.
    • 史奇那本伯爵 法蘭克SCHNAPPENBERGER, FRANK海幕奇 安格HELLMICH, ANKE
    • G01N21/84
    • G05B19/042
    • 一種用於處理一基板之方法及設備係說明,此方法及設備特別是用於處理一大面積基板。用於處理大面積基板之方法包括:以一傳輸速度傳輸於一實質上垂直配置狀態中之大面積基板通過用以處理大面積基板之一設備之一腔體配置;使用用以處理大面積基板之設備之一處理裝置來處理此大面積基板;使用一量測配置來監控實質上垂直配置之此大面積基板之至少一光學性質,其中實質上垂直配置之此大面積基板係以漫射光照亮;以及基於監控之此大面積基板之此至少一光學性質控制至少一製程參數。
    • 一种用于处理一基板之方法及设备系说明,此方法及设备特别是用于处理一大面积基板。用于处理大面积基板之方法包括:以一传输速度传输于一实质上垂直配置状态中之大面积基板通过用以处理大面积基板之一设备之一腔体配置;使用用以处理大面积基板之设备之一处理设备来处理此大面积基板;使用一量测配置来监控实质上垂直配置之此大面积基板之至少一光学性质,其中实质上垂直配置之此大面积基板系以漫射光照亮;以及基于监控之此大面积基板之此至少一光学性质控制至少一制程参数。
    • 9. 发明专利
    • 沉積源,真空沉積裝置,及其控制方法
    • 沉积源,真空沉积设备,及其控制方法
    • TW201706433A
    • 2017-02-16
    • TW105120404
    • 2016-06-29
    • 應用材料股份有限公司APPLIED MATERIALS, INC.
    • 史奇那本伯爵 法蘭克SCHNAPPENBERGER, FRANK德皮世奇 湯瑪士DEPPISCH, THOMAS
    • C23C14/34C23C14/54
    • H01J37/3438H01J37/3444
    • 一種用以濺射沈積之沈積源(100, 200, 201, 300)係說明。沈積源包括:一陰極(130, 230),用以提供將沈積之ㄧ靶材料;至少一陽極組件(110, 210),具有至少一第一陽極區段(111, 211)及一第二陽極區段(112, 212),第一陽極區段面對陰極之一第一部,第二陽極區段面對陰極之一第二部;以及一連接器組件(120)。連接器組件包括:一第一電連接(121),用以連接第一陽極區段(111, 211)至一第一電位(P1);一第二電連接(122),用以連接第二陽極區段(112, 212)至一第二電位(P2);以及一調整手段(150),用以調整第一電連接(121)之一第一電阻及第二電連接(122)之一第二電阻之至少一者。
    • 一种用以溅射沉积之沉积源(100, 200, 201, 300)系说明。沉积源包括:一阴极(130, 230),用以提供将沉积之ㄧ靶材料;至少一阳极组件(110, 210),具有至少一第一阳极区段(111, 211)及一第二阳极区段(112, 212),第一阳极区段面对阴极之一第一部,第二阳极区段面对阴极之一第二部;以及一连接器组件(120)。连接器组件包括:一第一电连接(121),用以连接第一阳极区段(111, 211)至一第一电位(P1);一第二电连接(122),用以连接第二阳极区段(112, 212)至一第二电位(P2);以及一调整手段(150),用以调整第一电连接(121)之一第一电阻及第二电连接(122)之一第二电阻之至少一者。