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    • 5. 发明专利
    • 微磁場感測器,微磁場感測器裝置及微磁場檢出方法 MIKRO-MAGNETFELDSENSOR, MIKRO-MAGNETFELDSENSORVORRICHTUNG SOWIE VERFAHREN
    • 微磁场传感器,微磁场传感器设备及微磁场检出方法 MIKRO-MAGNETFELDSENSOR, MIKRO-MAGNETFELDSENSORVORRICHTUNG SOWIE VERFAHREN
    • TW201237447A
    • 2012-09-16
    • TW100142473
    • 2011-11-21
    • 羅伯特博斯奇股份有限公司
    • 萊賢巴哈 法蘭克夏茲 法蘭克法伯 保羅懷斯 史堤方帕塔克 克里斯堤安尼蒙其 斐德列克 尼坎
    • G01R
    • G01R33/0005G01R33/0206
    • 一種微磁場感測器,用於將一磁場作三維式的檢出,包含至少三個感測器元件(1a)(1b)(1c)(1d),各用於測量該磁場的至少一方向,其中至少二個感測器元件(1a)(1b)(1c)(1d)設在一第一平面中,且其中至少一第三感測器元件(1a)(1b)(1c)(1d)設在一第二平面中,第二平面與第一平面垂直,且其中至少有一感測器元件(1a)(1b)(1c)(1d)設成對一第三平面成一銳角(100)或一鈍角(101),該第三平面對第一及第二平面成垂直。此外關於,一種微磁場感測器裝置,用於將一磁場作三維式的檢出,包含:至少一個依申請專利範圍第1~第5項至少一項的微磁場感測器,以及分析手段(4),該分析手段與至少一分析感測器配合,以將該至少一微機械式感測器的測量信號分析。此外還包含,一種將一磁場作三維式檢出的方法,包含以下步驟:(S1):利用各至少一感測器元件(1a)(1b)(1c)(1d)檢出一磁場的各至少一方向,其中至少二個感測器元件(1a)(1b)(1c)(1d)設在一第一平面中,且其中至少第三感測器元件(1a)(1b)(1c)(1d)設在一第二平面中,該第二平面垂直於第一平面,其中至少一感測器元件(1a)(1b)(1c)(1d)設成對一第三平面成一銳角或鈍度(100)(101),該第三平面垂直於該第一及第二平面設置;(S2):將所檢出之磁場方向呈測量之感測器元件(1a)(1b)(1c)(1d)的測量資料形式送到至少一分析手段(4);及(S3):利用該分析手段將測量資料分析,以將磁場作三維式檢出。(圖2a)
    • 一种微磁场传感器,用于将一磁场作三维式的检出,包含至少三个传感器组件(1a)(1b)(1c)(1d),各用于测量该磁场的至少一方向,其中至少二个传感器组件(1a)(1b)(1c)(1d)设在一第一平面中,且其中至少一第三传感器组件(1a)(1b)(1c)(1d)设在一第二平面中,第二平面与第一平面垂直,且其中至少有一传感器组件(1a)(1b)(1c)(1d)设成对一第三平面成一锐角(100)或一钝角(101),该第三平面对第一及第二平面成垂直。此外关于,一种微磁场传感器设备,用于将一磁场作三维式的检出,包含:至少一个依申请专利范围第1~第5项至少一项的微磁场传感器,以及分析手段(4),该分析手段与至少一分析传感器配合,以将该至少一微机械式传感器的测量信号分析。此外还包含,一种将一磁场作三维式检出的方法,包含以下步骤:(S1):利用各至少一传感器组件(1a)(1b)(1c)(1d)检出一磁场的各至少一方向,其中至少二个传感器组件(1a)(1b)(1c)(1d)设在一第一平面中,且其中至少第三传感器组件(1a)(1b)(1c)(1d)设在一第二平面中,该第二平面垂直于第一平面,其中至少一传感器组件(1a)(1b)(1c)(1d)设成对一第三平面成一锐角或钝度(100)(101),该第三平面垂直于该第一及第二平面设置;(S2):将所检出之磁场方向呈测量之传感器组件(1a)(1b)(1c)(1d)的测量数据形式送到至少一分析手段(4);及(S3):利用该分析手段将测量数据分析,以将磁场作三维式检出。(图2a)