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    • 3. 发明专利
    • 改善帶狀離子束之均一性的技術 TECHNIQUE FOR IMPROVING UNIFORMITY OF A RIBBON BEAM
    • 改善带状离子束之均一性的技术 TECHNIQUE FOR IMPROVING UNIFORMITY OF A RIBBON BEAM
    • TWI344322B
    • 2011-06-21
    • TW096102033
    • 2007-01-19
    • 瓦里安半導體設備公司
    • 波什 肯尼士H古普塔 阿塔爾
    • H05HH01L
    • H01J37/147H01J37/3007H01J2237/1501H01J2237/152H01J2237/30477H01J2237/31701
    • 本發明揭露一種用於改善帶狀離子束之均一性的技術。在一特定例示性實施例中,裝置可包含第一修正器條總成以及第二修正器條總成,其中第二修正器條總成位於距第一修正器條總成一段預定距離處。第一修正器條總成中之第一多個線圈中之每一個可經個別地激勵以使帶狀離子束中之至少一細離子束偏轉,藉此使細離子束以所要空間擴展來到達第二修正器條總成。第二修正器條總成中之第二多個線圈中之每一個可經個別地激勵以使帶狀離子束中之一或多個細離子束進一步偏轉,藉此使細離子束以所要角度離開第二修正器條總成。
    • 本发明揭露一种用于改善带状离子束之均一性的技术。在一特定例示性实施例中,设备可包含第一修正器条总成以及第二修正器条总成,其中第二修正器条总成位于距第一修正器条总成一段预定距离处。第一修正器条总成中之第一多个线圈中之每一个可经个别地激励以使带状离子束中之至少一细离子束偏转,借此使细离子束以所要空间扩展来到达第二修正器条总成。第二修正器条总成中之第二多个线圈中之每一个可经个别地激励以使带状离子束中之一或多个细离子束进一步偏转,借此使细离子束以所要角度离开第二修正器条总成。