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1. 发明专利

TW201629505A 通道測試方法及其系統审中-公开
简体标题：信道测试方法及其系统
公开(公告)号：TW201629505A
公开(公告)日：2016-08-16
申请号：TW104104545
申请日：2015-02-11
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORP.
发明人：王士瑋 , WANG, SHIH WEI , 黃亮維 , HUANG, LIANG WEI , 蘇敬堯 , SU, CHING YAO , 莊勝富 , CHUANG, SHENG FU
IPC分类号： G01R31/08 , G01R31/11 , H04L12/26
CPC分类号： H04B3/237 , H04B3/231 , H04B3/493
摘要：本發明提供一種適用於通訊裝置的回音消除器(Echo Canceller)之通道測試方法，包括以下步驟。首先，發射第一測試訊號至耦接通訊裝置的通道之一端。接著，透過回音消除器依序由通道之該端接收對應第一測試訊號之反射訊號的複數個估測值(Tap)。其後，依序將反射訊號的各估測值與各別對應的參考值進行比較，以判斷各估測值是否大於或等於估測值對應的參考值。當估測值被判斷為大於或等於估測值對應的參考值時，紀錄估測值以及估測值之位置。
简体摘要：本发明提供一种适用于通信设备的回音消除器(Echo Canceller)之信道测试方法，包括以下步骤。首先，发射第一测试信号至耦接通信设备的信道之一端。接着，透过回音消除器依序由信道之该端接收对应第一测试信号之反射信号的复数个估测值(Tap)。其后，依序将反射信号的各估测值与各别对应的参考值进行比较，以判断各估测值是否大于或等于估测值对应的参考值。当估测值被判断为大于或等于估测值对应的参考值时，纪录估测值以及估测值之位置。

2. 发明专利

TW201507402A 乙太網路系統之線長估測方法及其接收器审中-公开
简体标题：以太网系统之线长估测方法及其接收器
公开(公告)号：TW201507402A
公开(公告)日：2015-02-16
申请号：TW102129205
申请日：2013-08-14
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORP.
发明人：王士瑋 , WANG, SHIH WEI , 黃亮維 , HUANG, LIANG WEI , 蘇敬堯 , SU, CHING YAO , 莊勝富 , CHUANG, SHENG FU
IPC分类号： H04L12/26
CPC分类号： G01B7/026 , G06F11/22
摘要：一種乙太網路系統之線長估測方法及其接收器，應用於一乙太網路系統。此線長估測方法包括從乙太網路系統中之一回授等化器的通道資訊中取得一通道樣本以及根據通道樣本、一第一係數以及一常數估算一線長。
简体摘要：一种以太网系统之线长估测方法及其接收器，应用于一以太网系统。此线长估测方法包括从以太网系统中之一回授等化器的信道信息中取得一信道样本以及根据信道样本、一第一系数以及一常数估算一线长。

3. 发明专利

TW201507378A 用於通訊裝置的阻抗匹配調整方法、延遲電容調整方法以及阻抗匹配調整裝置、延遲電容調整裝置审中-公开
简体标题：用于通信设备的阻抗匹配调整方法、延迟电容调整方法以及阻抗匹配调整设备、延迟电容调整设备
公开(公告)号：TW201507378A
公开(公告)日：2015-02-16
申请号：TW102129309
申请日：2013-08-15
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORP.
发明人：蘇敬堯 , SU, CHING YAO , 黃亮維 , HUANG, LIANG WEI , 王士瑋 , WANG, SHIH WEI , 何軒廷 , HO, HSUAN TING
IPC分类号： H04B3/20
CPC分类号： H04B3/20 , H03H7/40 , H04L25/03885
摘要：一種用於一通訊裝置的阻抗匹配調整方法，其中該通訊裝置具有複數條阻抗路徑可供選擇。該方法包含有：選取一初始阻抗路徑；以及從該初始阻抗路徑開始，利用一預定演算法來檢查該複數條阻抗路徑中的一部份阻抗路徑以選擇該通訊裝置之一最佳阻抗路徑。一種用於一通訊裝置的延遲電容調整方法，其中該通訊裝置具有複數條延遲電容路徑可供選擇。該方法包含有：選取一初始延遲電容路徑；以及從該初始延遲電容路徑開始，利用一預定演算法來檢查該複數條延遲電容路徑中的一部份延遲電容路徑以選擇該通訊裝置之一最佳延遲電容路徑。
简体摘要：一种用于一通信设备的阻抗匹配调整方法，其中该通信设备具有复数条阻抗路径可供选择。该方法包含有：选取一初始阻抗路径；以及从该初始阻抗路径开始，利用一预定算法来检查该复数条阻抗路径中的一部份阻抗路径以选择该通信设备之一最佳阻抗路径。一种用于一通信设备的延迟电容调整方法，其中该通信设备具有复数条延迟电容路径可供选择。该方法包含有：选取一初始延迟电容路径；以及从该初始延迟电容路径开始，利用一预定算法来检查该复数条延迟电容路径中的一部份延迟电容路径以选择该通信设备之一最佳延迟电容路径。

4. 发明专利

TWI524076B 通道測試方法及其系統有权
简体标题：信道测试方法及其系统
公开(公告)号：TWI524076B
公开(公告)日：2016-03-01
申请号：TW104104545
申请日：2015-02-11
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORP.
发明人：王士瑋 , WANG, SHIH WEI , 黃亮維 , HUANG, LIANG WEI , 蘇敬堯 , SU, CHING YAO , 莊勝富 , CHUANG, SHENG FU
IPC分类号： G01R31/08 , G01R31/11 , H04L12/26
CPC分类号： H04B3/237 , H04B3/231 , H04B3/493

5. 发明专利

TWI524696B 乙太網路系統之線長估測方法及其接收器有权
简体标题：以太网系统之线长估测方法及其接收器
公开(公告)号：TWI524696B
公开(公告)日：2016-03-01
申请号：TW102129205
申请日：2013-08-14
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORP.
发明人：王士瑋 , WANG, SHIH WEI , 黃亮維 , HUANG, LIANG WEI , 蘇敬堯 , SU, CHING YAO , 莊勝富 , CHUANG, SHENG FU
IPC分类号： H04L12/26
CPC分类号： G01B7/026 , G06F11/22

6. 发明专利

TWI508476B 用於通訊裝置的阻抗匹配調整方法、延遲電容調整方法以及阻抗匹配調整裝置、延遲電容調整裝置有权
简体标题：用于通信设备的阻抗匹配调整方法、延迟电容调整方法以及阻抗匹配调整设备、延迟电容调整设备
公开(公告)号：TWI508476B
公开(公告)日：2015-11-11
申请号：TW102129309
申请日：2013-08-15
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORP.
发明人：蘇敬堯 , SU, CHING YAO , 黃亮維 , HUANG, LIANG WEI , 王士瑋 , WANG, SHIH WEI , 何軒廷 , HO, HSUAN TING
IPC分类号： H04B3/20
CPC分类号： H04B3/20 , H03H7/40 , H04L25/03885

7. 发明专利

TW201525424A 溫度不敏感之測試裝置與方法审中-公开
简体标题：温度不敏感之测试设备与方法
公开(公告)号：TW201525424A
公开(公告)日：2015-07-01
申请号：TW102148910
申请日：2013-12-27
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORPORATION
发明人：蘇敬堯 , SU, CHING YAO , 黃亮維 , HUANG, LIANG WEI , 王士瑋 , WANG, SHIH WEI , 莊勝富 , CHUANG, SHENG FU
IPC分类号： G01D3/028
CPC分类号： G01R31/2837 , G01R31/2841 , H04L1/243
摘要：本發明揭露了一種溫度不敏感之測試裝置與方法，能夠經由一傳輸線輸出一測試訊號並產生一測試結果。所述裝置之一實施例包含：一傳送端測試序列產生電路，用來產生一測試序列；一傳送電路，用來依據一傳送時脈處理該測試序列以產生一測試訊號；一接收電路，用來依據一接收時脈處理該測試訊號之一回音訊號以產生一數位回音訊號；一關聯值產生電路，用來依據該測試序列以及該數位回音訊號執行一關聯運算以產生複數個關聯值，其中該複數個關聯值包含一最大關聯值；以及一判斷電路，用來判斷該最大關聯值與至少一門檻值之關係是否滿足至少一預設條件，據以產生一判斷結果。上述傳送時脈之頻率被限制小於一預設頻率，藉此使上述最大關聯值的變化於傳輸線之一溫度變化範圍內小於一預設範圍。
简体摘要：本发明揭露了一种温度不敏感之测试设备与方法，能够经由一传输线输出一测试信号并产生一测试结果。所述设备之一实施例包含：一发送端测试串行产生电路，用来产生一测试串行；一发送电路，用来依据一发送时脉处理该测试串行以产生一测试信号；一接收电路，用来依据一接收时脉处理该测试信号之一回音频号以产生一数码回音频号；一关联值产生电路，用来依据该测试串行以及该数码回音频号运行一关联运算以产生复数个关联值，其中该复数个关联值包含一最大关联值；以及一判断电路，用来判断该最大关联值与至少一门槛值之关系是否满足至少一默认条件，据以产生一判断结果。上述发送时脉之频率被限制小于一默认频率，借此使上述最大关联值的变化于传输线之一温度变化范围内小于一默认范围。

8. 发明专利

TWI477746B 溫度不敏感之測試裝置與方法有权
简体标题：温度不敏感之测试设备与方法
公开(公告)号：TWI477746B
公开(公告)日：2015-03-21
申请号：TW102148910
申请日：2013-12-27
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORPORATION
发明人：蘇敬堯 , SU, CHING YAO , 黃亮維 , HUANG, LIANG WEI , 王士瑋 , WANG, SHIH WEI , 莊勝富 , CHUANG, SHENG FU
IPC分类号： G01D3/028
CPC分类号： G01R31/2837 , G01R31/2841 , H04L1/243

9. 发明专利

TWI514167B 參數產生裝置與方法有权
简体标题：参数产生设备与方法
公开(公告)号：TWI514167B
公开(公告)日：2015-12-21
申请号：TW102129069
申请日：2013-08-13
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORPORATION
发明人：蘇敬堯 , SU, CHING YAO , 黃亮維 , HUANG, LIANG WEI , 王士瑋 , WANG, SHIH WEI , 黃琬珺 , HUANG, WAN CHUN
IPC分类号： G06F17/10 , G06F7/494
CPC分类号： G06F17/10

10. 发明专利

TW201506646A 參數產生裝置與方法审中-公开
简体标题：参数产生设备与方法
公开(公告)号：TW201506646A
公开(公告)日：2015-02-16
申请号：TW102129069
申请日：2013-08-13
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORPORATION
发明人：蘇敬堯 , SU, CHING YAO , 黃亮維 , HUANG, LIANG WEI , 王士瑋 , WANG, SHIH WEI , 黃琬珺 , HUANG, WAN CHUN
IPC分类号： G06F17/10 , G06F7/494
CPC分类号： G06F17/10
摘要：本發明揭露了參數產生裝置與方法，用來產生一參數以供電路運作，其中該參數對應一特性曲線之N次多項式，且該N為正整數。所述參數產生裝置包含：一儲存電路，用來儲存至少N+1個初始值，該N+1個初始值對應一基準值以及一單位變化量；以及一參數計算電路，耦接該儲存電路，用來於一倍數K為正值時執行至少[(K-1)×N+1]次加法作業或於該倍數K為負值時執行至少-K×N次減法作業，以產生該參數，其中該倍數K等於一當前值減去該基準值之差除以該單位變化量。
简体摘要：本发明揭露了参数产生设备与方法，用来产生一参数以供电路运作，其中该参数对应一特性曲线之N次多项式，且该N为正整数。所述参数产生设备包含：一存储电路，用来存储至少N+1个初始值，该N+1个初始值对应一基准值以及一单位变化量；以及一参数计算电路，耦接该存储电路，用来于一倍数K为正值时运行至少[(K-1)×N+1]次加法作业或于该倍数K为负值时运行至少-K×N次减法作业，以产生该参数，其中该倍数K等于一当前值减去该基准值之差除以该单位变化量。

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