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    • 10. 发明专利
    • 最大可能性偵測器與偵測方法
    • 最大可能性侦测器与侦测方法
    • TW201810961A
    • 2018-03-16
    • TW105113636
    • 2016-05-02
    • 瑞昱半導體股份有限公司REALTEK SEMICONDUCTOR CORPORATION
    • 張仲堯CHANG, CHUNG-YAO林專湖LIN, CHUAN-HU楊易洵YANG, YI-SYUN
    • H03M13/39H03M13/41H04L27/06
    • H04L1/0054H04L5/0048H04L27/265H04L27/2695H04L27/34
    • 本發明揭露一種最大可能性偵測器,其包含一搜尋值選擇電路與一最大可能性偵測電路。該搜尋值選擇電路用來決定一第一層搜尋值。該最大可能性偵測電路用來執行至少下列步驟:依據一接收訊號或其衍生訊號、一通道估測訊號或其衍生訊號、以及該第一層搜尋值來選定K個第一層候選訊號值;依據該K個第一層候選訊號值計算K個第二層候選訊號值;依據該K個第二層候選訊號值判斷是否增加P個第二層補充候選訊號值,並據以產生一判斷結果;當該判斷結果為是,增加該P個第二層補充候選訊號值,依據該P個第二層補充候選訊號值選定P個第一層補充候選訊號值,並依據該K個第一層候選訊號值、該K個第二層候選訊號值、該P個第一層補充候選訊號值以及該P個第二層補充候選訊號值來計算對數概似比;以及當該判斷結果為否,依據該K個第一層候選訊號值與該K個第二層候選訊號值計算對數概似比。
    • 本发明揭露一种最大可能性侦测器,其包含一搜索值选择电路与一最大可能性侦测电路。该搜索值选择电路用来决定一第一层搜索值。该最大可能性侦测电路用来运行至少下列步骤:依据一接收信号或其衍生信号、一信道估测信号或其衍生信号、以及该第一层搜索值来选定K个第一层候选信号值;依据该K个第一层候选信号值计算K个第二层候选信号值;依据该K个第二层候选信号值判断是否增加P个第二层补充候选信号值,并据以产生一判断结果;当该判断结果为是,增加该P个第二层补充候选信号值,依据该P个第二层补充候选信号值选定P个第一层补充候选信号值,并依据该K个第一层候选信号值、该K个第二层候选信号值、该P个第一层补充候选信号值以及该P个第二层补充候选信号值来计算对数概似比;以及当该判断结果为否,依据该K个第一层候选信号值与该K个第二层候选信号值计算对数概似比。