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    • 5. 发明专利
    • 發光二極體的檢測系統及其檢測方法
    • 发光二极管的检测系统及其检测方法
    • TW201447268A
    • 2014-12-16
    • TW102114717
    • 2013-04-24
    • 榮創能源科技股份有限公司ADVANCED OPTOELECTRONIC TECHNOLOGY, INC.
    • 黃哲瑄HUANG, CHE HSANG
    • G01N21/25G01R31/26
    • G06T7/001
    • 一種發光二極體的檢測系統,包括資料存儲模組、資料獲取模組以及比較模組,資料獲取模組包括影像感測模組、資料讀取模組以及計算模組,影像感測模組用以拍攝記錄待測發光二極體處發光時的光學影像,資料讀取模組用以從光學影像中讀取光學資料,計算模組依據資料讀取模組讀取到的光學資料進行計算,得到待測發光二極體的頻譜資料,比較模組將資料存儲模組中存儲的標準的或期望的頻譜資料與計算模組計算得到的頻譜資料進行比較。本發明還涉及一種發光二極體的檢測方法。
    • 一种发光二极管的检测系统,包括数据存储模块、数据获取模块以及比较模块,数据获取模块包括影像传感模块、数据读取模块以及计算模块,影像传感模块用以拍摄记录待测发光二极管处发光时的光学影像,数据读取模块用以从光学影像中读取光学数据,计算模块依据数据读取模块读取到的光学数据进行计算,得到待测发光二极管的频谱数据,比较模块将数据存储模块中存储的标准的或期望的频谱数据与计算模块计算得到的频谱数据进行比较。本发明还涉及一种发光二极管的检测方法。