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1. 发明专利

TW584728B 接觸器裝置失效
简体标题：接触器设备
公开(公告)号：TW584728B
公开(公告)日：2004-04-21
申请号：TW091105546
申请日：2002-03-22
申请人：木本軍生 KIMOTO GUNSEI
发明人：木本軍生 KIMOTO GUNSEI , 高井新吉 TAKAI SHINKICHI
IPC分类号： G01R , H05K
CPC分类号： G01R1/07357 , G01R1/06727 , G01R1/06738 , G01R1/07314
摘要：受測晶片上之空間為與該受測晶片對應之接觸器的占有空間，且接觸器並不會侵入其他受測晶片上的空間。因此本發明具備：橫向並列接觸器群，其包含多個第1垂直型接觸器；以及縱向並列接觸器群，其包含多個第2垂直型接觸器。上述橫向並列接觸器群、縱向並列接觸器群在受測晶片之平面區域上占有不同之變形空間，且被收束於受測晶片之平面區域內。五、(一)、本案代表圖為：第六圖
(二)、本案代表圖之元件代表符號簡單說明：
112：第1垂直型接觸器 212：第2垂直型接觸器
120：電極墊 121：橫向並列接觸器群
122：縱向並列接觸器群 13：輸入部
19：晶圓 20：電路網
简体摘要：受测芯片上之空间为与该受测芯片对应之接触器的占有空间，且接触器并不会侵入其他受测芯片上的空间。因此本发明具备：横向并列接触器群，其包含多个第1垂直型接触器；以及纵向并列接触器群，其包含多个第2垂直型接触器。上述横向并列接触器群、纵向并列接触器群在受测芯片之平面区域上占有不同之变形空间，且被收束于受测芯片之平面区域内。五、(一)、本案代表图为：第六图 (二)、本案代表图之组件代表符号简单说明： 112：第1垂直型接触器 212：第2垂直型接触器 120：电极垫 121：横向并列接触器群 122：纵向并列接触器群 13：输入部 19：晶圆 20：电路网

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