专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明专利

TW424144B 氣體中微量不純物之分析裝置失效
简体标题：气体中微量不纯物之分析设备
公开(公告)号：TW424144B
公开(公告)日：2001-03-01
申请号：TW088105578
申请日：1999-04-08
申请人：日本氧氣股份有限公司
发明人：西名明 , 菊地勉 , 田中誠 , 吉田秀俊 , 君島哲也
IPC分类号： G01N
CPC分类号： H01J49/0422 , G01N30/7206 , G01N33/0022 , G01N33/0032
摘要：本發明之目的，在於提供一種將可有效測定各種高純度氣體中之ppb~低ppb水準之微量不純物之大氣壓離子化質量分析計與氣體色譜儀結合成為一體之結果，可以高效率測定各種高純度氣體中之各種微量不純物之氣中微量不純物之分析裝置者。本發明之裝置為具備有氣體色譜儀8，及大氣壓離子化質量分析計6，設有將試料氣體導入源所導入之試料氣體，直接導入於大氣壓離子化質量分析計6之系統10，以及藉前述氣體色譜儀8而導入於大氣壓離子化質量分析計6之系統14a,14b之同時，設有將試料氣體之流路，轉換成為前述兩系統中之任何一方用之流路轉換裝置11,13,15者。
简体摘要：本发明之目的，在于提供一种将可有效测定各种高纯度气体中之ppb~低ppb水准之微量不纯物之大气压离子化质量分析计与气体色谱仪结合成为一体之结果，可以高效率测定各种高纯度气体中之各种微量不纯物之气中微量不纯物之分析设备者。本发明之设备为具备有气体色谱仪8，及大气压离子化质量分析计6，设有将试料气体导入源所导入之试料气体，直接导入于大气压离子化质量分析计6之系统10，以及藉前述气体色谱仪8而导入于大气压离子化质量分析计6之系统14a,14b之同时，设有将试料气体之流路，转换成为前述两系统中之任何一方用之流路转换设备11,13,15者。

2. 发明专利

TW405039B 氣體分析裝置及方法失效
简体标题：气体分析设备及方法
公开(公告)号：TW405039B
公开(公告)日：2000-09-11
申请号：TW088105575
申请日：1999-04-08
申请人：日本氧氣股份有限公司
发明人：西名明 , 菊地勉 , 田中誠 , 吉田秀俊 , 君島哲也
IPC分类号： G01N
CPC分类号： H01J49/0422 , G01N1/26
摘要：本發明係關於提供一種可在短時間內，確實地檢測出有無發生洩漏，可以穩定的狀態，連續地，安全且精確地實行分析之氣體分析裝置及方法者。本發明之裝置係包含有將複數種類之試料氣體予以轉換而導入之試料氣體導入系統(1~5)及分析計(6,10,14)，對該分析計，設有當轉換試料氣體而導入之際，監視在轉換前所導入過之試料氣體成分之濃度變化之手段(9)者。
简体摘要：本发明系关于提供一种可在短时间内，确实地检测出有无发生泄漏，可以稳定的状态，连续地，安全且精确地实行分析之气体分析设备及方法者。本发明之设备系包含有将复数种类之试料气体予以转换而导入之试料气体导入系统(1~5)及分析计(6,10,14)，对该分析计，设有当转换试料气体而导入之际，监视在转换前所导入过之试料气体成分之浓度变化之手段(9)者。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式