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    • 6. 发明专利
    • 薄型晶圓的製造方法
    • 薄型晶圆的制造方法
    • TW202027155A
    • 2020-07-16
    • TW108131592
    • 2019-09-03
    • 日商信越化學工業股份有限公司SHIN-ETSU CHEMICAL CO., LTD.
    • 安田浩之YASUDA, HIROYUKI菅生道博SUGO, MICHIHIRO
    • H01L21/304C09J183/00
    • 本發明提供一種薄型晶圓的製造方法,其為自支持體的晶圓之剝離為容易,且不會污染晶圓下可除去樹脂,亦可提高薄型晶圓之生產性。 本發明的解決手段為一種薄型晶圓的製造方法,其為含有:藉由由具備支持體、形成於該支持體上的接著劑層,與層合成於該接著劑層具有迴路面的表面為對向的晶圓之晶圓層合體的支持體側,照射光而自層合體使支持體剝離的步驟,及前述步驟後,將殘存於晶圓的樹脂層藉由表層剝離而自晶圓除去的步驟者;前述接著劑層為自前述支持體側以以下順序僅含有:具有遮光性的樹脂層A、與含有熱硬化性聚矽氧樹脂或非聚矽氧系熱塑性樹脂之樹脂層B。
    • 本发明提供一种薄型晶圆的制造方法,其为自支持体的晶圆之剥离为容易,且不会污染晶圆下可除去树脂,亦可提高薄型晶圆之生产性。 本发明的解决手段为一种薄型晶圆的制造方法,其为含有:借由由具备支持体、形成于该支持体上的接着剂层,与层合成于该接着剂层具有回路面的表面为对向的晶圆之晶圆层合体的支持体侧,照射光而自层合体使支持体剥离的步骤,及前述步骤后,将残存于晶圆的树脂层借由表层剥离而自晶圆除去的步骤者;前述接着剂层为自前述支持体侧以以下顺序仅含有:具有遮光性的树脂层A、与含有热硬化性聚硅氧树脂或非聚硅氧系热塑性树脂之树脂层B。
    • 7. 发明专利
    • 半導體裝置及其製造方法及層合體
    • 半导体设备及其制造方法及层合体
    • TW201903095A
    • 2019-01-16
    • TW107110228
    • 2018-03-26
    • 日商信越化學工業股份有限公司SHIN-ETSU CHEMICAL CO., LTD.
    • 安田浩之YASUDA, HIROYUKI菅生道博SUGO, MICHIHIRO加藤英人KATO, HIDETO近藤和紀KONDO, KAZUNORI
    • C09J7/30C09J161/06H01L21/56H01L23/31
    • 本發明係提供製造容易,熱製程(process)耐性優異,支撐體之剝離也容易,可提高半導體封裝之生產性之半導體裝置及其製造方法及適於該半導體裝置製造的層合體。   本發明係一種半導體裝置,其係具備支撐體、形成於該支撐體上之由二層所成之接著劑樹脂層、形成於該接著劑樹脂層上之絕緣層及再配線層、晶片層及模壓樹脂層的半導體裝置,前述接著劑樹脂層為自前述支撐體側依序由包含藉由光之照射可分解之樹脂的樹脂層A與包含非聚矽氧系熱塑性樹脂的樹脂層B所構成,前述藉由光之照射可分解之樹脂係於主鏈包含縮合環的樹脂,前述樹脂層B係在25℃下之儲存彈性模數E’為1~500MPa及拉伸斷裂強度為5~50MPa。
    • 本发明系提供制造容易,热制程(process)耐性优异,支撑体之剥离也容易,可提高半导体封装之生产性之半导体设备及其制造方法及适于该半导体设备制造的层合体。   本发明系一种半导体设备,其系具备支撑体、形成于该支撑体上之由二层所成之接着剂树脂层、形成于该接着剂树脂层上之绝缘层及再配线层、芯片层及模压树脂层的半导体设备,前述接着剂树脂层为自前述支撑体侧依序由包含借由光之照射可分解之树脂的树脂层A与包含非聚硅氧系热塑性树脂的树脂层B所构成,前述借由光之照射可分解之树脂系于主链包含缩合环的树脂,前述树脂层B系在25℃下之存储弹性模数E’为1~500MPa及拉伸断裂强度为5~50MPa。