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    • 1. 发明专利
    • 用於磁阻隨機存取記憶體之磁通量集中層之製造方法
    • 用于磁阻随机存取内存之磁通量集中层之制造方法
    • TW492156B
    • 2002-06-21
    • TW090106479
    • 2001-03-20
    • 摩托羅拉公司
    • 馬克 都蘭尤金 尤郡 陳塞伊德N 泰拉尼約翰 麥克 史勞特葛羅麗亞 克茲耶克瓦斯基凱利 威尼 凱勒
    • H01L
    • H01L27/222B82Y10/00
    • 一種用於磁性記憶裝置之磁通量集中器的製造方法,包括的步驟有:提供至少一個磁性記憶位元(10),及形成幾近記憶位元之一定義一包括一磁通量集中層(52)之銅(Cu)鑲嵌位元線(56)之材料堆疊。該方法包括的步驟有:沉積一下介電層(32)、一選項之蝕刻停止層(34)、及一上介電層(36)幾近該磁性記憶位元(10)。一淺槽(38)被蝕刻於該上介電層(36)與該下介電層(32)中。一第一障蔽層(42)沉積於該淺槽(38)中。接著,一金屬系統(29)沉積於該第一障蔽層(42)的表面上。該金屬系統(29)包括一銅(Cu)種子材料(44)、及一電鍍銅(Cu)材料(46)、一第一外障蔽層(50)、一磁通量集中層(52)、及一第二外障蔽層(54)。該金屬系統(29)被圖案化並蝕刻,以定義一銅(Cu)鑲嵌位元線(56)。
    • 一种用于磁性记忆设备之磁通量集中器的制造方法,包括的步骤有:提供至少一个磁性记忆比特(10),及形成几近记忆比特之一定义一包括一磁通量集中层(52)之铜(Cu)镶嵌比特线(56)之材料堆栈。该方法包括的步骤有:沉积一下介电层(32)、一选项之蚀刻停止层(34)、及一上介电层(36)几近该磁性记忆比特(10)。一浅槽(38)被蚀刻于该上介电层(36)与该下介电层(32)中。一第一障蔽层(42)沉积于该浅槽(38)中。接着,一金属系统(29)沉积于该第一障蔽层(42)的表面上。该金属系统(29)包括一铜(Cu)种子材料(44)、及一电镀铜(Cu)材料(46)、一第一外障蔽层(50)、一磁通量集中层(52)、及一第二外障蔽层(54)。该金属系统(29)被图案化并蚀刻,以定义一铜(Cu)镶嵌比特线(56)。