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1. 发明专利

TWI374276B 用於電子元件之以模型為基礎的測試法 MODEL BASED TESTING FOR ELECTRONIC DEVICES 有权
简体标题：用于电子组件之以模型为基础的测试法 MODEL BASED TESTING FOR ELECTRONIC DEVICES
公开(公告)号：TWI374276B
公开(公告)日：2012-10-11
申请号：TW094129303
申请日：2005-08-26
申请人：愛德萬測試(新加坡)私人有限公司
发明人：赫希亞傑 , 杜菲拉洛尼可拉斯B , 傑佛森史丹利T , 巴福德里A
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/319 , G01R31/31917 , G01R31/3193
摘要：該以模型為基礎的測試法可測試產品裝置與一裝置設計之性能規格的一致性。該等產品裝置係依據該裝置設計以一製法來製成。於該方法中，一依據該裝置設計及性能規格的簡單模型會被形成導出，一用來測試該等產品裝置的刺激會被指定，且各產品裝置會被測試。該模型具有一基本函數，及該基本函數的模型參數。該等模型參數係取決於該製法，而在該各產品裝置中的值並不相同。一產品裝置係如下來測試：測量該產品裝置對該刺激的反應；使用該模型由所測得的反應與該刺激來獲取該產品裝置的模型參數值；及使用所獲取的模型參數值來檢核該產品裝置與性能規格的一致性。
简体摘要：该以模型为基础的测试法可测试产品设备与一设备设计之性能规格的一致性。该等产品设备系依据该设备设计以一制法来制成。于该方法中，一依据该设备设计及性能规格的简单模型会被形成导出，一用来测试该等产品设备的刺激会被指定，且各产品设备会被测试。该模型具有一基本函数，及该基本函数的模型参数。该等模型参数系取决于该制法，而在该各产品设备中的值并不相同。一产品设备系如下来测试：测量该产品设备对该刺激的反应；使用该模型由所测得的反应与该刺激来获取该产品设备的模型参数值；及使用所获取的模型参数值来检核该产品设备与性能规格的一致性。

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