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1. 发明专利

TWI309715B X光檢查裝置 X-RAY INSPECTION DEVICE 有权
简体标题： X光检查设备 X-RAY INSPECTION DEVICE
公开(公告)号：TWI309715B
公开(公告)日：2009-05-11
申请号：TW095126905
申请日：2006-07-24
申请人：島津製作所股份有限公司 SHIMADZU CORPORATION
发明人：櫛引敬嗣 KUSHIBIKI, TAKASHI
IPC分类号： G01N
摘要：一種X光檢查裝置,可判斷平臺移動時被測定物與X光測定光學系統的碰撞危險性,並設法防止碰撞。該X光檢查裝置包括:平臺(14),用以載置被測定物,使被測定物位於X光源(11)與X光檢測器(12)之間;平臺驅動機構(15),與平臺並進及旋轉;光學相機(16),對載置於平臺(14)上的被測定物進行拍攝;碰撞危險區域設定部(32),根據一邊旋轉平臺(14)一邊利用光學相機(16)拍攝被測定物時,圖像數據中所包含的被測定物的軌跡數據,而設定被測定物與X光測定光學系統的碰撞危險區域;以及碰撞判定部(33),根據所設定的碰撞危險區域,判定平臺移動時的碰撞危險性。
简体摘要：一种X光检查设备,可判断平台移动时被测定物与X光测定光学系统的碰撞危险性,并设法防止碰撞。该X光检查设备包括:平台(14),用以载置被测定物,使被测定物位于X光源(11)与X光检测器(12)之间;平台驱动机构(15),与平台并进及旋转;光学相机(16),对载置于平台(14)上的被测定物进行拍摄;碰撞危险区域设置部(32),根据一边旋转平台(14)一边利用光学相机(16)拍摄被测定物时,图像数据中所包含的被测定物的轨迹数据,而设置被测定物与X光测定光学系统的碰撞危险区域;以及碰撞判定部(33),根据所设置的碰撞危险区域,判定平台移动时的碰撞危险性。

2. 发明专利

TW200710384A X光檢查裝置 X-RAY INSPECTION DEVICE 审中-公开
简体标题： X光检查设备 X-RAY INSPECTION DEVICE
公开(公告)号：TW200710384A
公开(公告)日：2007-03-16
申请号：TW095126905
申请日：2006-07-24
申请人：島津製作所股份有限公司 SHIMADZU CORPORATION
发明人：櫛引敬嗣 KUSHIBIKI, TAKASHI
IPC分类号： G01N
摘要：一種X光檢查裝置,可判斷平臺移動時被測定物與X光測定光學系統的碰撞危險性,並設法防止碰撞。該X光檢查裝置包括:平臺(14),用以載置被測定物,使被測定物位於X光源(11)與X光檢測器(12)之間;平臺驅動機構(15),其平臺並進及旋轉;光學相機(16),對載置於平臺(14)上的被測定物進行拍攝;碰撞危險區域設定部(32),根據一邊旋轉平臺(14)一邊利用光學相機(16)拍攝被測定物時,圖像數據中所包含的被測定物的軌跡數據,而設定被測定物與X光測定光學系統的碰撞危險區域;以及碰撞判定部(33),根據所設定的碰撞危險區域,判定平臺移動時的碰撞危險性。
简体摘要：一种X光检查设备,可判断平台移动时被测定物与X光测定光学系统的碰撞危险性,并设法防止碰撞。该X光检查设备包括:平台(14),用以载置被测定物,使被测定物位于X光源(11)与X光检测器(12)之间;平台驱动机构(15),其平台并进及旋转;光学相机(16),对载置于平台(14)上的被测定物进行拍摄;碰撞危险区域设置部(32),根据一边旋转平台(14)一边利用光学相机(16)拍摄被测定物时,图像数据中所包含的被测定物的轨迹数据,而设置被测定物与X光测定光学系统的碰撞危险区域;以及碰撞判定部(33),根据所设置的碰撞危险区域,判定平台移动时的碰撞危险性。

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