专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明专利

TWI592142B 取得分類歸納邊界之方法及其應用之自動辨識方法與系統有权
简体标题：取得分类归纳边界之方法及其应用之自动辨识方法与系统
公开(公告)号：TWI592142B
公开(公告)日：2017-07-21
申请号：TW105113957
申请日：2016-05-05
申请人：國立陽明大學 , NATIONAL YANG MING UNIVERSIT
发明人：郭文娟 , KUO, WEN CHUAN , 丁乾坤 , TING, CHIEN KUN , 高孟群 , KAO, MENG CHUN
IPC分类号： A61B8/13 , G06K9/62
CPC分类号： A61M5/46 , A61B1/3135 , A61B5/0066 , A61B5/407 , A61B5/6848 , A61B2505/05 , G06T7/12 , G06T7/143 , G06T11/003 , G06T2207/10101 , G06T2207/30088

2. 发明专利

TW201701836A 取得分類歸納邊界之方法及其應用之自動辨識方法與系統审中-公开
简体标题：取得分类归纳边界之方法及其应用之自动辨识方法与系统
公开(公告)号：TW201701836A
公开(公告)日：2017-01-16
申请号：TW105113957
申请日：2016-05-05
申请人：國立陽明大學 , NATIONAL YANG MING UNIVERSIT
发明人：郭文娟 , KUO, WEN CHUAN , 丁乾坤 , TING, CHIEN KUN , 高孟群 , KAO, MENG CHUN
IPC分类号： A61B8/13 , G06K9/62
CPC分类号： A61M5/46 , A61B1/3135 , A61B5/0066 , A61B5/407 , A61B5/6848 , A61B2505/05 , G06T7/12 , G06T7/143 , G06T11/003 , G06T2207/10101 , G06T2207/30088
摘要：本發明提供一種取得分類歸納邊界的方法，用以提供穿刺進行軸向深度的限制。其包含下列步驟：首先，取得一組織軸向深度上之複數個斷層影像。接著，於斷層影像中取得複數個特徵訊號值。最後，利用支持向量機分類法將該些特徵訊號值於一圖表表示，並由此圖表之分佈得出一分類歸納邊界以界定該組織之一特定區間。另外，應用上述方法之自動辨識方法及其系統亦揭露於本發明中。
简体摘要：本发明提供一种取得分类归纳边界的方法，用以提供穿刺进行轴向深度的限制。其包含下列步骤：首先，取得一组织轴向深度上之复数个断层影像。接着，于断层影像中取得复数个特征信号值。最后，利用支持矢量机分类法将该些特征信号值于一图表表示，并由此图表之分布得出一分类归纳边界以界定该组织之一特定区间。另外，应用上述方法之自动辨识方法及其系统亦揭露于本发明中。

3. 发明专利

TWI632893B 偵測與分析消化道黏膜組織之方法及系統有权
简体标题：侦测与分析消化道黏膜组织之方法及系统
公开(公告)号：TWI632893B
公开(公告)日：2018-08-21
申请号：TW106116102
申请日：2017-05-16
申请人：國立陽明大學 , NATIONAL YANG-MING UNIVERSITY
发明人：郭文娟 , KUO, WEN CHUAN , 陳炳憲 , CHEN, PING HSIEN , 吳建賢 , WU, CHIEN HSIEN
IPC分类号： A61B1/273

4. 发明专利

TWI465686B 平衡偵測光譜域光學同調斷層掃描系統有权
简体标题：平衡侦测光谱域光学同调断层扫描系统
公开(公告)号：TWI465686B
公开(公告)日：2014-12-21
申请号：TW102101752
申请日：2013-01-17
申请人：國立陽明大學 , NATIONAL YANG-MING UNIVERSITY
发明人：郭文娟 , KUO, WEN CHUAN
IPC分类号： G01B9/02 , G01N21/17
CPC分类号： G01B9/02091 , G01B9/02056

5. 发明专利

TW201430314A 平衡偵測光譜域光學同調斷層掃描系統审中-公开
简体标题：平衡侦测光谱域光学同调断层扫描系统
公开(公告)号：TW201430314A
公开(公告)日：2014-08-01
申请号：TW102101752
申请日：2013-01-17
申请人：國立陽明大學 , NATIONAL YANG-MING UNIVERSITY
发明人：郭文娟 , KUO, WEN CHUAN
IPC分类号： G01B9/02 , G01N21/17
CPC分类号： G01B9/02091 , G01B9/02056
摘要：本發明揭示一種平衡偵測光譜域光學同調斷層掃描系統，光源模組發射出之光線L依序經過第二分光鏡、第一分光鏡、接物鏡，而至樣品，光線L係依序通過第二分光鏡、第一分光鏡而分別至反射鏡及樣品，再同時反射至第一分光鏡而分別透過第一分光鏡及第二分光鏡而折射出光線L1及L2而至第一準直儀及第二準直儀，光線L1與L2具有180°之相位差；藉此，當第一準直儀及第二準直儀將光線L1與光線L2分別傳輸至光譜儀接收並相減後，可提供更有效率的背景雜訊抑制，包括直流雜訊以及在樣品內每一反射面間之光線間干涉所造成的低頻雜訊，並得到兩倍訊號的提升。
简体摘要：本发明揭示一种平衡侦测光谱域光学同调断层扫描系统，光源模块发射出之光线L依序经过第二分光镜、第一分光镜、接物镜，而至样品，光线L系依序通过第二分光镜、第一分光镜而分别至反射镜及样品，再同时反射至第一分光镜而分别透过第一分光镜及第二分光镜而折射出光线L1及L2而至第一准直仪及第二准直仪，光线L1与L2具有180°之相位差；借此，当第一准直仪及第二准直仪将光线L1与光线L2分别传输至光谱仪接收并相减后，可提供更有效率的背景噪声抑制，包括直流噪声以及在样品内每一反射面间之光线间干涉所造成的低频噪声，并得到两倍信号的提升。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式