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1. 发明专利

TW201910940A 結構光照明數位全像之方法與裝置审中-公开
简体标题：结构光照明数码全像之方法与设备
公开(公告)号：TW201910940A
公开(公告)日：2019-03-16
申请号：TW106126787
申请日：2017-08-08
申请人：國立臺灣師範大學 , NATIONAL TAIWAN NORMAL UNIVERSITY
发明人：鄭超仁 , CHENG, CHAU JERN , 賴信吉 , LAI, XIN JI
IPC分类号： G03H1/22 , G02B21/06 , G02B27/58
摘要：一種結構光照明數位全像之方法，包括：(a)提供一結構光產生單元與二值化亂數編碼單元，以產生編碼的結構光圖紋；(b)取樣至少二張具相位移圖紋，並合成為單一張帶有編碼的結構光圖紋；(c)形成單一張數位全像片，並進行該單一張數位全像之波前重建；(d)藉由一壓縮感測方法以復原至少二張具相位移圖紋的物體光波；以及(e)進行重疊頻譜分離之重建方法，以獲得具有不同的高頻與低頻帶通頻譜涵蓋範圍之影像。
简体摘要：一种结构光照明数码全像之方法，包括：(a)提供一结构光产生单元与二值化乱数编码单元，以产生编码的结构光图纹；(b)采样至少二张具相位移图纹，并合成为单一张带有编码的结构光图纹；(c)形成单一张数码全像片，并进行该单一张数码全像之波前重建；(d)借由一压缩传感方法以复原至少二张具相位移图纹的物体光波；以及(e)进行重叠频谱分离之重建方法，以获得具有不同的高频与低频带通频谱涵盖范围之影像。

2. 发明专利

TW201638880A 影像處理方法审中-公开
简体标题：影像处理方法
公开(公告)号：TW201638880A
公开(公告)日：2016-11-01
申请号：TW104113746
申请日：2015-04-29
申请人：國立臺灣師範大學 , NATIONAL TAIWAN NORMAL UNIVERSITY
发明人：鄭超仁 , 林昱志 , 賴信吉
IPC分类号： G06T5/50 , H04N1/00 , G06F17/14 , G02B27/58
CPC分类号： G03H1/0443 , G03H1/0866 , G03H1/265 , G03H2001/0825
摘要：一種影像處理方法用於處理複數個相關於一個物件的全像影像，且該等全像影像是由合成孔徑的技術所產生。該影像處理方法是藉由一個影像處理裝置將該等全像影像分別作傅立葉轉換以產生複數個對應的頻譜，再根據該等頻譜及一個相關於該等頻譜在頻域上的分佈的權重函數，產生一合成頻譜，再將該合成頻譜作反傅立葉轉換，以產生一具有更佳的空間解析度及相位靈敏度的重建全像影像。
简体摘要：一种影像处理方法用于处理复数个相关于一个对象的全像影像，且该等全像影像是由合成孔径的技术所产生。该影像处理方法是借由一个影像处理设备将该等全像影像分别作傅里叶转换以产生复数个对应的频谱，再根据该等频谱及一个相关于该等频谱在频域上的分布的权重函数，产生一合成频谱，再将该合成频谱作反傅里叶转换，以产生一具有更佳的空间分辨率及相位灵敏度的重建全像影像。

3. 发明专利

TWI537876B 影像處理方法有权
简体标题：影像处理方法
公开(公告)号：TWI537876B
公开(公告)日：2016-06-11
申请号：TW104113746
申请日：2015-04-29
申请人：國立臺灣師範大學 , NATIONAL TAIWAN NORMAL UNIVERSITY
发明人：鄭超仁 , 林昱志 , 賴信吉
IPC分类号： G06T5/50 , H04N1/00 , G06F17/14 , G02B27/58
CPC分类号： G03H1/0443 , G03H1/0866 , G03H1/265 , G03H2001/0825

4. 发明专利

TW201825890A 透明基板之瑕疵檢測方法與裝置审中-公开
简体标题：透明基板之瑕疵检测方法与设备
公开(公告)号：TW201825890A
公开(公告)日：2018-07-16
申请号：TW106100291
申请日：2017-01-05
申请人：國立臺灣師範大學 , NATIONAL TAIWAN NORMAL UNIVERSITY
发明人：鄭超仁 , CHENG, CHAU JERN , 劉晉宇 , LIU, CHIN YU , 賴信吉 , LAI, XIN JI
IPC分类号： G01N21/958 , G01N21/896
摘要：一種透明基板之瑕疵檢測方法，包括：(a)提供一光學系統，以將經過待測透明基板產生之物體光波進行繞射；(b)將該物體繞射光波與參考光波干涉與波前記錄，以重建待測透明基板之瑕疵複數影像；(c)將該待測透明基板的瑕疵複數影像進行特性分析、特徵分類與篩選；以及(d)將該瑕疵複數影像建立瑕疵複數影像資料庫，以作為該待測透明基板之瑕疵複數影像比對與檢測。
简体摘要：一种透明基板之瑕疵检测方法，包括：(a)提供一光学系统，以将经过待测透明基板产生之物体光波进行绕射；(b)将该物体绕射光波与参考光波干涉与波前记录，以重建待测透明基板之瑕疵复数影像；(c)将该待测透明基板的瑕疵复数影像进行特性分析、特征分类与筛选；以及(d)将该瑕疵复数影像创建瑕疵复数影像数据库，以作为该待测透明基板之瑕疵复数影像比对与检测。

5. 发明专利

TWI645269B 共光程螺旋相位數位全像系統及其方法有权
简体标题：共光程螺旋相位数码全像系统及其方法
公开(公告)号：TWI645269B
公开(公告)日：2018-12-21
申请号：TW106114552
申请日：2017-05-02
申请人：國立臺灣師範大學 , NATIONAL TAIWAN NORMAL UNIVERSITY
发明人：鄭超仁 , CHENG, CHAU-JERN , 杜翰艷 , TU, HAN-YEN , 蕭瑋仁 , HSIAO, WEI-JEN , 賴信吉 , LAI, XIN-JI
IPC分类号： G03H1/16 , G03H1/26

6. 发明专利

TW201843543A 共光程螺旋相位數位全像系統及其方法审中-公开
简体标题：共光程螺旋相位数码全像系统及其方法
公开(公告)号：TW201843543A
公开(公告)日：2018-12-16
申请号：TW106114552
申请日：2017-05-02
申请人：國立臺灣師範大學 , NATIONAL TAIWAN NORMAL UNIVERSITY
发明人：鄭超仁 , CHENG, CHAU-JERN , 杜翰艷 , TU, HAN-YEN , 蕭瑋仁 , HSIAO, WEI-JEN , 賴信吉 , LAI, XIN-JI
IPC分类号： G03H1/16 , G03H1/26
摘要：本發明係關於一種共光程螺旋相位數位全像方法，其包括下列步驟順序：(a)將一發射光源入射至一待測物體(50)形成一物體光波；(b)該物體光波經共光程螺旋相位光學裝置(20)之一透鏡(220)作光學傅立葉轉換後產生一物體空間頻譜，並藉由螺旋相位產生器(210)以分別形成，外圍為高頻繞射項之一經編碼的物體頻譜，及在中心為低頻直流項之一具孔徑參考光波的頻譜，經該共光程螺旋相位光學裝置(20)之另一透鏡(221)作光學反傅立葉轉換後達成干涉作用，形成一第一螺旋相位全像影像；(c)重複藉由該螺旋相位產生器(210)將該經編碼的物體頻譜作複數次相位移後，形成複數個相位移的螺旋相位全像影像；(d)將該第一螺旋相位全像影像及該複數個相位移的螺旋相位全像影像，藉由一影像裝置(30)擷取並經影像重建演算法後，形成一第一重建物體影像；及(e)藉由旋轉一光束轉折器(120)，使另一角度之該發射光源傾斜入射至該物體(50)形成另一角度的物體光波，重複上述步驟(b)、(c)及(d)後，形成另一角度的重建物體影像，接著將該第一重建物體影像與該另一角度的重建物體影像經過數值傅立葉轉換後將二者頻譜作疊加，再透過數值反傅立葉轉換形成一合成孔徑的重建物體影像。本發明又關於一種結合合成孔徑成像方式的共光程螺旋相位數位全像系統。藉由本發明之系統及方法，可降低數位全像裝置對於環境振動的影響，並可提升重建物體影像的空間解析度及相位準確度。
简体摘要：本发明系关于一种共光程螺旋相位数码全像方法，其包括下列步骤顺序：(a)将一发射光源入射至一待测物体(50)形成一物体光波；(b)该物体光波经共光程螺旋相位光学设备(20)之一透镜(220)作光学傅里叶转换后产生一物体空间频谱，并借由螺旋相位产生器(210)以分别形成，外围为高频绕射项之一经编码的物体频谱，及在中心为低频直流项之一具孔径参考光波的频谱，经该共光程螺旋相位光学设备(20)之另一透镜(221)作光学反傅里叶转换后达成干涉作用，形成一第一螺旋相位全像影像；(c)重复借由该螺旋相位产生器(210)将该经编码的物体频谱作复数次相位移后，形成复数个相位移的螺旋相位全像影像；(d)将该第一螺旋相位全像影像及该复数个相位移的螺旋相位全像影像，借由一影像设备(30)截取并经影像重建算法后，形成一第一重建物体影像；及(e)借由旋转一光束转折器(120)，使另一角度之该发射光源倾斜入射至该物体(50)形成另一角度的物体光波，重复上述步骤(b)、(c)及(d)后，形成另一角度的重建物体影像，接着将该第一重建物体影像与该另一角度的重建物体影像经过数值傅里叶转换后将二者频谱作叠加，再透过数值反傅里叶转换形成一合成孔径的重建物体影像。本发明又关于一种结合合成孔径成像方式的共光程螺旋相位数码全像系统。借由本发明之系统及方法，可降低数码全像设备对于环境振动的影响，并可提升重建物体影像的空间分辨率及相位准确度。

7. 发明专利

TWI644098B 透明基板之瑕疵檢測方法與裝置有权
简体标题：透明基板之瑕疵检测方法与设备
公开(公告)号：TWI644098B
公开(公告)日：2018-12-11
申请号：TW106100291
申请日：2017-01-05
申请人：國立臺灣師範大學 , NATIONAL TAIWAN NORMAL UNIVERSITY
发明人：鄭超仁 , CHENG, CHAU JERN , 劉晉宇 , LIU, CHIN YU , 賴信吉 , LAI, XIN JI
IPC分类号： G01N21/958 , G01N21/896

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