专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明专利

TWI691236B 同軸滾筒式微波材料處理腔有权
简体标题：同轴滚筒式微波材料处理腔
公开(公告)号：TWI691236B
公开(公告)日：2020-04-11
申请号：TW108107442
申请日：2019-03-06
申请人：國立清華大學 , NATIONAL TSING HUA UNIVERSITY
发明人：趙賢文 , CHAO, HSEIN-WEN , 張存續 , CHANG, TSUN-HSU , 郭奐均 , GUO, HUAN-JUN , 詹承軒 , CHAN, CHENG-HSUAN , 邱柏諺 , CHIU, PO-YEN , 張育慈 , CHANG, YU-TZU
IPC分类号： H05B6/64 , F24C7/02

2. 发明专利

TWI686105B 微波處理裝置有权
简体标题：微波处理设备
公开(公告)号：TWI686105B
公开(公告)日：2020-02-21
申请号：TW107143975
申请日：2018-12-06
申请人：國立清華大學 , NATIONAL TSING HUA UNIVERSITY
发明人：張存續 , CHANG, TSUN HSU , 趙賢文 , CHAO, HSIEN WEN , 陳勝富 , CHEN, SHEN FU
IPC分类号： H05B6/80 , B01J19/12

3. 发明专利

TW201340457A 操作於ＴＥ系列模式電磁波之多通道模式轉換器以及旋轉接頭审中-公开
简体标题：操作于ＴＥ系列模式电磁波之多信道模式转换器以及旋转接头
公开(公告)号：TW201340457A
公开(公告)日：2013-10-01
申请号：TW101110559
申请日：2012-03-27
申请人：國立清華大學 , NATIONAL TSING HUA UNIVERSITY
发明人：張存續 , CHANG, TSUN HSU , 陳乃慶 , CHEN, NAI CHING
IPC分类号： H01P5/12 , H01P1/06
CPC分类号： H01P1/161 , H01P1/069 , H01P5/103 , H01P5/12
摘要：一種操作於TE系列模式電磁波之多通道模式轉換器包含多個同軸波導套疊配置。藉由控制每一同軸波導之半徑比以及耦合孔之數量可獲得高功率以及高純度之操作模式電磁波，並抑制主要競爭模式電磁波之生成，如此可避免同軸波導之間的串音干擾。同時亦揭露一種包含上述模式轉換器之多通道旋轉接頭。
简体摘要：一种操作于TE系列模式电磁波之多信道模式转换器包含多个同轴波导套叠配置。借由控制每一同轴波导之半径比以及耦合孔之数量可获得高功率以及高纯度之操作模式电磁波，并抑制主要竞争模式电磁波之生成，如此可避免同轴波导之间的串音干扰。同时亦揭露一种包含上述模式转换器之多信道旋转接头。

4. 发明专利

TW201330701A 多槽式微波裝置及其處理系統审中-公开
简体标题：多槽式微波设备及其处理系统
公开(公告)号：TW201330701A
公开(公告)日：2013-07-16
申请号：TW101101007
申请日：2012-01-10
申请人：國立清華大學 , NATIONAL TSING HUA UNIVERSITY
发明人：張存續 , CHANG, TSUN HSU , 金重勳 , CHIN, TSUNG SHUNE , 趙賢文 , CHAO, HSIEN WEN , 方世杰 , FONG, SHIH CHIEH
IPC分类号： H05B6/64
CPC分类号： H05B6/64 , H05B6/704 , H05B6/74 , H05B6/76 , H05B6/78 , H05B6/80
摘要：本發明係揭露一種多槽式微波裝置，其包含複數個槽式微波共振單元以及至少一微波注入源。槽式微波共振單元界定為槽式共振腔。當至少一微波注入源注入微波於複數個槽式微波共振單元時，複數個槽式微波共振單元係相互共振，以產生具有一相同極化方向之一電磁場。藉此，可將注入源的微波能量大面積化，且具有良好的微波均勻化效果，以達到有效縮短作業時間及均勻高溫微波處理的目的。
简体摘要：本发明系揭露一种多槽式微波设备，其包含复数个槽式微波共振单元以及至少一微波注入源。槽式微波共振单元界定为槽式共振腔。当至少一微波注入源注入微波于复数个槽式微波共振单元时，复数个槽式微波共振单元系相互共振，以产生具有一相同极化方向之一电磁场。借此，可将注入源的微波能量大面积化，且具有良好的微波均匀化效果，以达到有效缩短作业时间及均匀高温微波处理的目的。

5. 发明专利

TWI607227B 材料電磁特性量測裝置以及其量測方法有权
简体标题：材料电磁特性量测设备以及其量测方法
公开(公告)号：TWI607227B
公开(公告)日：2017-12-01
申请号：TW105135703
申请日：2016-11-03
申请人：國立清華大學 , NATIONAL TSING HUA UNIVERSITY
发明人：張存續 , CHANG, TSUN-HSU , 翁唯軒 , WONG, WEI-SYUAN , 陳彥任 , CHEN, YAN-REN , 趙賢文 , CHAO, HSIEN-WEN
IPC分类号： G01R33/12 , G01R31/12
CPC分类号： G01R33/1223

6. 发明专利

TWI546543B 量測介電常數之系統及方法有权
简体标题：量测介电常数之系统及方法
公开(公告)号：TWI546543B
公开(公告)日：2016-08-21
申请号：TW103141048
申请日：2014-11-26
申请人：國立清華大學 , NATIONAL TSING HUA UNIVERSITY
发明人：張存續 , CHANG, TSUN-HSU , 趙賢文 , CHAO, HSEIN-WEN , 翁唯軒 , WONG, WEI SYUAN
IPC分类号： G01R27/26
CPC分类号： G01N22/00 , G01N27/04

7. 发明专利

TWI420099B 微波繞射系統有权
简体标题：微波绕射系统
公开(公告)号：TWI420099B
公开(公告)日：2013-12-21
申请号：TW099128235
申请日：2010-08-24
申请人：國立清華大學 , NATIONAL TSING HUA UNIVERSITY
发明人：張存續 , CHANG, TSUN HSU , 袁景濱 , YUAN, CHING PIN
IPC分类号： G01N22/00
CPC分类号： G09B23/18

8. 发明专利

TW200723586A 成比例配置分流裝置之高次模電磁波耦合器及耦合方法失效
简体标题：成比例配置分流设备之高次模电磁波耦合器及耦合方法
公开(公告)号：TW200723586A
公开(公告)日：2007-06-16
申请号：TW094143928
申请日：2005-12-12
申请人：國立清華大學 NATIONAL TSING HUA UNIVERSITY
发明人：張存續 , 余青芳 YU, CHING FANG
IPC分类号： H01P
摘要：本發明係提供一種成比例配置分流裝置之高次模電磁波耦合器及耦合方法,原理為利用分流結構--Y形結構波導管呈一階次(含)以上之分流設計,將標的電磁波呈相對比例配置地分流成對稱等份之電磁波,由波導結構將各等份電磁波分別注入一主體波導管中,使導入的電磁波在主體波導管內轉化成極化的高次模,以此原理實做的例子為從標準矩形波導TE10#樸模轉換至圓形波導TE01模,而所發展方法更可衍伸至其他高次模式及其他微波管形狀的模式轉換運用;即本耦合器之耦合方法,是由電磁波分流階段、模式轉換階段組成,且其中利用成相對比例配置地分流裝置與方式,將電磁波分流階段最終呈對稱等份分流,再經模式轉換裝置轉化成極化的高次模,而使此耦合器及耦合方法具有高轉換效率、高模式純度、寬頻寬及易加工等特性。
简体摘要：本发明系提供一种成比例配置分流设备之高次模电磁波耦合器及耦合方法,原理为利用分流结构--Y形结构波导管呈一阶次(含)以上之分流设计,将标的电磁波呈相对比例配置地分流成对称等份之电磁波,由波导结构将各等份电磁波分别注入一主体波导管中,使导入的电磁波在主体波导管内转化成极化的高次模,以此原理实做的例子为从标准矩形波导TE10#朴模转换至圆形波导TE01模,而所发展方法更可衍伸至其他高次模式及其他微波管形状的模式转换运用;即本耦合器之耦合方法,是由电磁波分流阶段、模式转换阶段组成,且其中利用成相对比例配置地分流设备与方式,将电磁波分流阶段最终呈对称等份分流,再经模式转换设备转化成极化的高次模,而使此耦合器及耦合方法具有高转换效率、高模式纯度、宽带宽及易加工等特性。

9. 发明专利

TW201818093A 材料電磁特性量測裝置以及其量測方法审中-公开
简体标题：材料电磁特性量测设备以及其量测方法
公开(公告)号：TW201818093A
公开(公告)日：2018-05-16
申请号：TW105135703
申请日：2016-11-03
申请人：國立清華大學 , NATIONAL TSING HUA UNIVERSITY
发明人：張存續 , CHANG, TSUN-HSU , 翁唯軒 , WONG, WEI-SYUAN , 陳彥任 , CHEN, YAN-REN , 趙賢文 , CHAO, HSIEN-WEN
IPC分类号： G01R33/12 , G01R31/12
摘要：一種材料電磁特性量測裝置，包括:一腔體與一特定結構物件。該腔體在內部有一空腔，且腔體有一電磁波通口端與該空腔連通，用以接收一輸入電磁波與輸出一共振電磁波。該特定結構物件對應電磁波通口端設置在該空腔內，用以在該空腔內產生以一區域。該區域是由磁場成份主要佔據，該區域用以置放一待測物件。
简体摘要：一种材料电磁特性量测设备，包括:一腔体与一特定结构对象。该腔体在内部有一空腔，且腔体有一电磁波通口端与该空腔连通，用以接收一输入电磁波与输出一共振电磁波。该特定结构对象对应电磁波通口端设置在该空腔内，用以在该空腔内产生以一区域。该区域是由磁场成份主要占据，该区域用以置放一待测对象。

10. 发明专利

TW201619618A 量測介電常數之系統及方法审中-公开
简体标题：量测介电常数之系统及方法
公开(公告)号：TW201619618A
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：TW103141048
申请日：2014-11-26
申请人：國立清華大學 , NATIONAL TSING HUA UNIVERSITY
发明人：張存續 , CHANG, TSUN-HSU , 趙賢文 , CHAO, HSEIN-WEN , 翁唯軒 , WONG, WEI SYUAN
IPC分类号： G01R27/26
CPC分类号： G01N22/00 , G01N27/04
摘要：一種量測介電常數之系統包含一共振腔體、一導電探針、一平台、一柱腳、一偵測器以及一運算模組。共振腔體具有一空腔。導電探針用以導入一微波至共振腔體之空腔。平台用以承載一待測物。柱腳設置於平台以及腔壁之間，使平台突出於腔壁。偵測器用以偵測微波於空腔發生共振時之一共振頻率。運算模組依據一共振頻率及介電常數對應關係，以所量測之共振頻率計算出相對應之一介電常數。上述量測介電常數之系統之量測步驟簡便、準確度高且可量測之介電常數範圍廣。同時亦揭露一種量測介電常數之方法。
简体摘要：一种量测介电常数之系统包含一共振腔体、一导电探针、一平台、一柱脚、一侦测器以及一运算模块。共振腔体具有一空腔。导电探针用以导入一微波至共振腔体之空腔。平台用以承载一待测物。柱脚设置于平台以及腔壁之间，使平台突出于腔壁。侦测器用以侦测微波于空腔发生共振时之一共振频率。运算模块依据一共振频率及介电常数对应关系，以所量测之共振频率计算出相对应之一介电常数。上述量测介电常数之系统之量测步骤简便、准确度高且可量测之介电常数范围广。同时亦揭露一种量测介电常数之方法。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式