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    • 6. 发明专利
    • 連接墊結構、晶片接合結構與檢測晶片接合狀態之方法 BONDING PAD STRUCTURE, CHIP BONDING STRUCTURE AND METHOD OF EXAMINING CHIP BONDING CONDITION
    • 连接垫结构、芯片接合结构与检测芯片接合状态之方法 BONDING PAD STRUCTURE, CHIP BONDING STRUCTURE AND METHOD OF EXAMINING CHIP BONDING CONDITION
    • TW201033624A
    • 2010-09-16
    • TW098108019
    • 2009-03-12
    • 友達光電股份有限公司
    • 黃柏輔周詩頻陳盈成石崇甫
    • G01R
    • 一種晶片接合結構,包括透光基板、不透光導電層、絕緣層、透光導電層、晶片,以及非導電性膠。不透光導電層設置於透光基板上,且不透光導電層包括至少一孔洞區。絕緣層覆蓋於不透光導電層上,且絕緣層包括一開口,大體上對應不透光導電層之孔洞區。透光導電層設置於絕緣層上並經由絕緣層之開口與不透光導電層電性連接,其中透光導電層、絕緣層與不透光導電層於孔洞區形成一透光區。晶片包括至少一導電凸塊,導電凸塊與透光導電層接觸且電性連接,其中透光區使導電凸塊之部分表面形成一可視區。非導電性膠將晶片黏著於透光導電層上。
    • 一种芯片接合结构,包括透光基板、不透光导电层、绝缘层、透光导电层、芯片,以及非导电性胶。不透光导电层设置于透光基板上,且不透光导电层包括至少一孔洞区。绝缘层覆盖于不透光导电层上,且绝缘层包括一开口,大体上对应不透光导电层之孔洞区。透光导电层设置于绝缘层上并经由绝缘层之开口与不透光导电层电性连接,其中透光导电层、绝缘层与不透光导电层于孔洞区形成一透光区。芯片包括至少一导电凸块,导电凸块与透光导电层接触且电性连接,其中透光区使导电凸块之部分表面形成一可视区。非导电性胶将芯片黏着于透光导电层上。