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    • 1. 发明专利
    • 化學增强型正光阻組合物和及鹽 CHEMICAL AMPLIFYING TYPE POSITIVE RESIST COMPOSITION AND SULFONIUM SALT
    • 化学增强型正光阻组合物和及盐 CHEMICAL AMPLIFYING TYPE POSITIVE RESIST COMPOSITION AND SULFONIUM SALT
    • TWI286664B
    • 2007-09-11
    • TW090114376
    • 2001-06-14
    • 住友化學工業股份有限公司 SUMITOMO CHEMICAL COMPANY LTD.
    • 上谷保則 UETANI, YASUNORI大橋賢治釜淵明 AKIRA KAMABUCHI
    • G03FC07CC07D
    • G03F7/039C07C381/00C07D333/46G03F7/0045G03F7/0392G03F7/0395G03F7/0397Y10S430/106Y10S430/115Y10S430/122
    • 本發明揭露一種化學增強型正光阻組合物,其可提供顯著改善線邊緣粗糙度的光阻圖案,並且其各種光阻性能如耐乾蝕刻性、靈敏度和解析度均優良,此組合物包括:(A)一種酸發生劑,其含有(a)由下式(I)表示的鹽,
      其中每一個Q1和Q2表示烷基或環烷基,或Q1和Q2與相鄰的硫原子一起形成雜環基;Q3表示氫原子,Q4表示烷基或環烷基,或Q3和Q4與其相鄰的CHC(O)基一起形成2-氧代環烷基;Q5SO3-表示有機磺酸根離子;和
      (b)至少一種鹽,選自由下式(IIa)表示的三苯基鹽和由下式(IIb)表示的二苯基碘鹽:
      其中P1-P5各自獨立表示氫原子、羥基、烷基或烷氧基,P6SO3-和P7SO3-各自表示有機磺酸根離子;以及(B)一種樹脂,該樹脂包括具有對酸不穩定的基團的聚合單元,並且其本身不溶或微溶於鹼,但透過酸的作用變為可溶於鹼。
    • 本发明揭露一种化学增强型正光阻组合物,其可提供显着改善线边缘粗糙度的光阻图案,并且其各种光阻性能如耐干蚀刻性、灵敏度和分辨率均优良,此组合物包括:(A)一种酸发生剂,其含有(a)由下式(I)表示的盐, 其中每一个Q1和Q2表示烷基或环烷基,或Q1和Q2与相邻的硫原子一起形成杂环基;Q3表示氢原子,Q4表示烷基或环烷基,或Q3和Q4与其相邻的CHC(O)基一起形成2-氧代环烷基;Q5SO3-表示有机磺酸根离子;和 (b)至少一种盐,选自由下式(IIa)表示的三苯基盐和由下式(IIb)表示的二苯基碘盐: 其中P1-P5各自独立表示氢原子、羟基、烷基或烷氧基,P6SO3-和P7SO3-各自表示有机磺酸根离子;以及(B)一种树脂,该树脂包括具有对酸不稳定的基团的聚合单元,并且其本身不溶或微溶于碱,但透过酸的作用变为可溶于碱。