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1. 发明专利

TW201546988A 半導體封裝件的製造方法及半導體封裝件审中-公开
简体标题：半导体封装件的制造方法及半导体封装件
公开(公告)号：TW201546988A
公开(公告)日：2015-12-16
申请号：TW104111083
申请日：2015-04-07
申请人：三菱電機股份有限公司 , MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION
发明人：二村政範 , NIMURA, MASANORI , 竹田滋紀 , TAKEDA, SHIGENORI , 立井芳直 , TATEI, YOSHINAO , 杉浦勢 , SUGIURA, IKIO
IPC分类号： H01L23/498
CPC分类号： H01L21/4817 , H01L21/288 , H01L21/4803 , H01L21/4857 , H01L21/486 , H01L23/055 , H01L23/08 , H01L23/13 , H01L23/49805 , H01L23/49822 , H01L23/49827 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
摘要：本發明的半導體封裝件的製造方法，係於對半導體封裝件的貫通孔30形成鍍覆層40時，以將形成在第1及第2積層體10、20的第1及第2凹穴15a、15b(、25a、25b)設為內側之方式重疊第1及第2積層體10、20而於周緣區域R0使用接著劑接合，使第1及第2積層體10、20的凹穴形成為密閉空間，接著以殘留包含有第1及第2積層體10、20的接合面在內的一部分之方式形成貫通孔30。接著，藉由對貫通孔30進行通孔鍍覆而形成鍍覆層40，周緣區域R0係作為切除部分亦即切除區域而切除，並且沿切割線DL分斷成複數單體，而形成半導體封裝件。
简体摘要：本发明的半导体封装件的制造方法，系于对半导体封装件的贯通孔30形成镀覆层40时，以将形成在第1及第2积层体10、20的第1及第2凹穴15a、15b(、25a、25b)设为内侧之方式重叠第1及第2积层体10、20而于周缘区域R0使用接着剂接合，使第1及第2积层体10、20的凹穴形成为密闭空间，接着以残留包含有第1及第2积层体10、20的接合面在内的一部分之方式形成贯通孔30。接着，借由对贯通孔30进行通孔镀覆而形成镀覆层40，周缘区域R0系作为切除部分亦即切除区域而切除，并且沿切割线DL分断成复数单体，而形成半导体封装件。

2. 发明专利

TWI621835B 旋轉檢測裝置及旋轉檢測裝置之製造方法有权
简体标题：旋转检测设备及旋转检测设备之制造方法
公开(公告)号：TWI621835B
公开(公告)日：2018-04-21
申请号：TW105112409
申请日：2016-04-21
申请人：三菱電機股份有限公司 , MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION
发明人：武舎武史 , MUSHA, TAKESHI , 立井芳直 , TATEI, YOSHINAO , 渡邊佳正 , WATANABE, YOSHIMASA
IPC分类号： G01D5/245
CPC分类号： G01D5/2006 , G01P3/4815 , G01R33/0052

3. 发明专利

TW201349234A 光學式絕對值編碼器审中-公开
简体标题：光学式绝对值编码器
公开(公告)号：TW201349234A
公开(公告)日：2013-12-01
申请号：TW101139041
申请日：2012-10-23
申请人：三菱電機股份有限公司 , MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION
发明人：二村政範 , NIMURA, MASANORI , 立井芳直 , TATEI, YOSHINAO , 岡室貴士 , OKAMURO, TAKASHI , 竹田滋紀 , TAKEDA, SHIGENORI
IPC分类号： G11B7/007 , G01D5/34
CPC分类号： G01D5/2497 , G01D5/3473 , G01D5/34792
摘要：本發明之光學式絕對值編碼器係包括：光源；碼圓板，係以同心圓狀之方式具有旋轉角檢測用軌道以及光量監視器軌道；第1受光部，係接收由前述光源所產生並穿透前述旋轉角檢測用軌道之光；第2受光部，係接收由前述光源所產生並穿透前述光量監視器軌道之光；以及處理部，係以對應於前述第2受光部所接收之光之信號為基準來處理對應於由前述第1受光部所接收之光之信號，而求取前述碼圓板的旋轉次數；前述旋轉角檢測用軌道之第1遮光部及第1光穿透部係交互地反覆配置，前述光量監視器軌道之第2遮光部及第2光穿透部係交互地反覆配置，且前述第1遮光部的製造偏差與前述第2遮光部的製造偏差係互相對應。
简体摘要：本发明之光学式绝对值编码器系包括：光源；码圆板，系以同心圆状之方式具有旋转角检测用轨道以及光量监视器轨道；第1受光部，系接收由前述光源所产生并穿透前述旋转角检测用轨道之光；第2受光部，系接收由前述光源所产生并穿透前述光量监视器轨道之光；以及处理部，系以对应于前述第2受光部所接收之光之信号为基准来处理对应于由前述第1受光部所接收之光之信号，而求取前述码圆板的旋转次数；前述旋转角检测用轨道之第1遮光部及第1光穿透部系交互地反复配置，前述光量监视器轨道之第2遮光部及第2光穿透部系交互地反复配置，且前述第1遮光部的制造偏差与前述第2遮光部的制造偏差系互相对应。

4. 发明专利

TW201706573A 旋轉檢測裝置及旋轉檢測裝置之製造方法审中-公开
简体标题：旋转检测设备及旋转检测设备之制造方法
公开(公告)号：TW201706573A
公开(公告)日：2017-02-16
申请号：TW105112409
申请日：2016-04-21
申请人：三菱電機股份有限公司 , MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION
发明人：武舎武史 , MUSHA, TAKESHI , 立井芳直 , TATEI, YOSHINAO , 渡邊佳正 , WATANABE, YOSHIMASA
IPC分类号： G01D5/245
CPC分类号： G01D5/2006 , G01P3/4815 , G01R33/0052
摘要：本發明具備：安裝在以旋轉軸X0為中心旋轉之旋轉軸心100之檢測用磁鐵200；以及與檢測用磁鐵200相對配置，以檢測旋轉軸心100的旋轉之檢測部300。該檢測部300係包含：多層的電路基板301；設置在電路基板301的中間層320內，且在旋轉軸X0之延長線上具有中心並與旋轉軸X0呈垂直之凹溝；內藏在凹溝之具有大巴克豪森效應之複合磁線；以及由電路基板301上之配線導體與填充在通孔TH之導體所形成，且包圍複合磁線之拾波線圈360。
简体摘要：本发明具备：安装在以旋转轴X0为中心旋转之旋转轴心100之检测用磁铁200；以及与检测用磁铁200相对配置，以检测旋转轴心100的旋转之检测部300。该检测部300系包含：多层的电路基板301；设置在电路基板301的中间层320内，且在旋转轴X0之延长在线具有中心并与旋转轴X0呈垂直之凹沟；内藏在凹沟之具有大巴克豪森效应之复合磁线；以及由电路基板301上之配线导体与填充在通孔TH之导体所形成，且包围复合磁线之十波线圈360。

5. 发明专利

TWI498529B 光學式編碼器有权
简体标题：光学式编码器
公开(公告)号：TWI498529B
公开(公告)日：2015-09-01
申请号：TW101104878
申请日：2012-02-15
申请人：三菱電機股份有限公司 , MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION
发明人：野口琢也 , NOGUCHI, TAKUYA , 仲山鳥一 , NAKAJIMA, HAJIME , 武舍武史 , MUSHA, TAKESHI , 立井芳直 , TATEI, YOSHINAO , 平位隆史 , HIRAI, TAKASHI
IPC分类号： G01D5/36
CPC分类号： G01D5/3473 , G01D5/34784

6. 外观设计

TWD200409S 伺服放大器之部分有权
公开(公告)号：TWD200409S
公开(公告)日：2019-10-21
申请号：TW108303295
申请日：2019-06-04
申请人：日商三菱電機股份有限公司 , MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION
设计人：加藤伸一 , KATO, SHINICHI , 青木貴志 , AOKI, TAKASHI , 立井芳直 , TATEI, YOSHINAO , 赤塚慧 , AKATSUKA, SATOSHI , 大平聡 , OHDAIRA, SATOSHI , 奥田哲也 , OKUDA, TETSUYA , 宮坂崇 , MIYASAKA, TAKASHI

7. 发明专利

TWI567909B 半導體封裝件的製造方法有权
简体标题：半导体封装件的制造方法
公开(公告)号：TWI567909B
公开(公告)日：2017-01-21
申请号：TW104111083
申请日：2015-04-07
申请人：三菱電機股份有限公司 , MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION
发明人：二村政範 , NIMURA, MASANORI , 竹田滋紀 , TAKEDA, SHIGENORI , 立井芳直 , TATEI, YOSHINAO , 杉浦勢 , SUGIURA, IKIO
IPC分类号： H01L23/498
CPC分类号： H01L21/4817 , H01L21/288 , H01L21/4803 , H01L21/4857 , H01L21/486 , H01L23/055 , H01L23/08 , H01L23/13 , H01L23/49805 , H01L23/49822 , H01L23/49827 , H01L2924/0002 , H01L2924/00

8. 发明专利

TWI494545B 旋轉數檢測器有权
简体标题：旋转数检测器
公开(公告)号：TWI494545B
公开(公告)日：2015-08-01
申请号：TW102128227
申请日：2013-08-07
申请人：三菱電機股份有限公司 , MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION
发明人：立井芳直 , TATEI, YOSHINAO , 武舍武史 , MUSHA, TAKESHI , 仲嶋一 , NAKAJIMA, HAJIME , 岡室貴士 , OKAMURO, TAKASHI , 二村政範 , NIMURA, MASANORI
IPC分类号： G01D5/245 , G01P3/481
CPC分类号： G01D5/244 , G01D5/145 , G01D5/2006 , G01P3/4815

9. 发明专利

TW201433778A 旋轉數檢測器审中-公开
简体标题：旋转数检测器
公开(公告)号：TW201433778A
公开(公告)日：2014-09-01
申请号：TW102128227
申请日：2013-08-07
申请人：三菱電機股份有限公司 , MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION
发明人：立井芳直 , TATEI, YOSHINAO , 武舍武史 , MUSHA, TAKESHI , 仲嶋一 , NAKAJIMA, HAJIME , 岡室貴士 , OKAMURO, TAKASHI , 二村政範 , NIMURA, MASANORI
IPC分类号： G01D5/245 , G01P3/481
CPC分类号： G01D5/244 , G01D5/145 , G01D5/2006 , G01P3/4815
摘要：本發明提供一種旋轉數檢測器，實施形態的旋轉數檢測器，係藉由發電部檢測安裝於旋轉體之磁鐵的旋轉數者；其中，前述發電部具備N個(N為1以上之自然數)發電元件，該發電元件具備有藉由大巴克豪生效應而磁化反轉的磁線、以及捲繞該磁線的拾訊器線圈；該磁線係在前述發電元件之前述磁線的延伸方向較前述拾訊器線圈的捲繞部分長，且前述磁線係配置在前述磁鐵之旋轉中心的上方。
简体摘要：本发明提供一种旋转数检测器，实施形态的旋转数检测器，系借由发电部检测安装于旋转体之磁铁的旋转数者；其中，前述发电部具备N个(N为1以上之自然数)发电组件，该发电组件具备有借由大巴克豪生效应而磁化反转的磁线、以及卷绕该磁线的十讯器线圈；该磁线系在前述发电组件之前述磁线的延伸方向较前述十讯器线圈的卷绕部分长，且前述磁线系配置在前述磁铁之旋转中心的上方。

10. 发明专利

TW201245669A 光學式編碼器 OPTICAL ENCODER 审中-公开
简体标题：光学式编码器 OPTICAL ENCODER
公开(公告)号：TW201245669A
公开(公告)日：2012-11-16
申请号：TW101104878
申请日：2012-02-15
申请人：三菱電機股份有限公司
发明人：野口琢也 , 仲山鳥一 , 武舍武史 , 立井芳直 , 平位隆史
IPC分类号： G01D
CPC分类号： G01D5/3473 , G01D5/34784
摘要：本發明提供一種光學式編碼器，該光學式編碼器係具備：光學式刻度，係具有周期性光學圖案，且能夠相對性角位移；投光部，係用以朝向光學式刻度照射光線；受光部，係用以接受來自光學式刻度之光線；以及計算部，係用以根據來自受光部之信號，計算光學式刻度的絕對旋轉角度θ。光學圖案係含有交互地配置之複數個遮光部以及複數個穿透部，且將沿著預定之圓周方向之第n號遮光部的節距設為Pn、將第n號遮光部的寬度設為Wn，則與第n號之遮光部的角度θn相對應的穿透率T(θn)以及遮光部的節距Pn係滿足預定的計算式，且光學圖案之遮光部的寬度Wn係以遮光部之節距Pn的函數進行變化。第n號之遮光部6a的節距Pn以及寬度Wn係宜為反比之關係。藉由以上構成，即可達成與習知者相比高精確度且高解析力的光學式編碼器。
简体摘要：本发明提供一种光学式编码器，该光学式编码器系具备：光学式刻度，系具有周期性光学图案，且能够相对性角位移；投光部，系用以朝向光学式刻度照射光线；受光部，系用以接受来自光学式刻度之光线；以及计算部，系用以根据来自受光部之信号，计算光学式刻度的绝对旋转角度θ。光学图案系含有交互地配置之复数个遮光部以及复数个穿透部，且将沿着预定之圆周方向之第n号遮光部的节距设为Pn、将第n号遮光部的宽度设为Wn，则与第n号之遮光部的角度θn相对应的穿透率T(θn)以及遮光部的节距Pn系满足预定的计算式，且光学图案之遮光部的宽度Wn系以遮光部之节距Pn的函数进行变化。第n号之遮光部6a的节距Pn以及宽度Wn系宜为反比之关系。借由以上构成，即可达成与习知者相比高精确度且高解析力的光学式编码器。

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