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1. 发明专利

TW511096B 半導體記憶裝置及其控制方法失效
简体标题：半导体记忆设备及其控制方法
公开(公告)号：TW511096B
公开(公告)日：2002-11-21
申请号：TW090112890
申请日：2001-05-29
申请人：三菱電機股份有限公司
发明人：山內忠昭 , 小猿邦彥
IPC分类号： G11C
CPC分类号： G11C7/1006 , G06F12/0223 , G06F2212/206 , G11C7/24
摘要：本發明係關於一種半導體記憶裝置及其控制方法，其解決手段為，一介面部2，係在位址信號ADD.所指定的區域為邏輯電路控制區域的情況，就進行與暫存器6間的資料授受，以替代授受與DRAM4間的資料。當時之資料信號 DATA，係為暫存器6所保持之邏輯電路8的控制命令或邏輯電路中用以處理的輸入資料。邏輯電路8，係按照暫存器之保持內容，以執行例如密碼處理或影像處理等在微電腦中需要時間的處理。處理結果係保存於暫存器6中，並以與對DRAM之讀出相同的時序來讀出。
简体摘要：本发明系关于一种半导体记忆设备及其控制方法，其解决手段为，一界面部2，系在位址信号ADD.所指定的区域为逻辑电路控制区域的情况，就进行与寄存器6间的数据授受，以替代授受与DRAM4间的数据。当时之数据信号 DATA，系为寄存器6所保持之逻辑电路8的控制命令或逻辑电路中用以处理的输入数据。逻辑电路8，系按照寄存器之保持内容，以运行例如密码处理或影像处理等在微电脑中需要时间的处理。处理结果系保存于寄存器6中，并以与对DRAM之读出相同的时序来读出。

2. 发明专利

TW521276B 半導體積體電路裝置有权
简体标题：半导体集成电路设备
公开(公告)号：TW521276B
公开(公告)日：2003-02-21
申请号：TW090119225
申请日：2001-08-07
申请人：三菱電機股份有限公司
发明人：山內忠昭 , 小猿邦彥
IPC分类号： G11C , G09C
CPC分类号： G11C7/22 , G11C7/1006 , G11C7/1072 , G11C11/4093 , G11C11/4096 , G11C2207/104
摘要：介面電路(2)在位址信號(ADD)指定的區域是邏輯控制區時，進行與暫存器(6)的資料收發，以代替與DRAM(4)的資料收發。這時的資料信號(DATA)為暫存器保持的對邏輯電路(8)的控制命令和處理用的輸入資料。邏輯電路(8)根據暫存器(6)保持的內容，擔當諸如加密處理、圖像處理等處理時間上關鍵的工作。處理結果保存在暫存器(6)中。邏輯電路(8)根據控制信號，將處理物件資料切換為DRAM(4)存放的資料或端子(14)提供的資料。
简体摘要：界面电路(2)在位址信号(ADD)指定的区域是逻辑控制区时，进行与寄存器(6)的数据收发，以代替与DRAM(4)的数据收发。这时的数据信号(DATA)为寄存器保持的对逻辑电路(8)的控制命令和处理用的输入数据。逻辑电路(8)根据寄存器(6)保持的内容，担当诸如加密处理、图像处理等处理时间上关键的工作。处理结果保存在寄存器(6)中。逻辑电路(8)根据控制信号，将处理对象数据切换为DRAM(4)存放的数据或端子(14)提供的数据。

3. 发明专利

TW449744B 半導體裝置,其設計方法及其檢查方法失效
简体标题：半导体设备,其设计方法及其检查方法
公开(公告)号：TW449744B
公开(公告)日：2001-08-11
申请号：TW088100809
申请日：1999-01-20
申请人：三菱電機股份有限公司
发明人：清水禎之 , 小猿邦彥
IPC分类号： G11C
CPC分类号： G11C7/1057 , G11C7/06 , G11C7/1051 , G11C7/1069 , G11C29/32
摘要：本發明有關於半導體裝置其中具備有經由接受活性化信號藉以變成動作狀態之感測放大器，可以很容易將感測放大器之活性化之延遲時間設定在適當之時間。
本發明之解決手段是設有感測放大器44，經由接受活性化信號變成可以進行信號放大之狀態。另外設有延遲電路50，經由該等傳輸路徑中之與選擇信號對應之傳輸路徑，用來傳輸活性化信號。另外設有選擇信號產生電路，用來對延遲電路50供給第l至第3選擇信號。另外設有JTAG邊界掃描測試電路，用來分配無定義模態之一作為使選擇信號產生電路進行適當動作之模態。
简体摘要：本发明有关于半导体设备其中具备有经由接受活性化信号借以变成动作状态之传感放大器，可以很容易将传感放大器之活性化之延迟时间设置在适当之时间。本发明之解决手段是设有传感放大器44，经由接受活性化信号变成可以进行信号放大之状态。另外设有延迟电路50，经由该等传输路径中之与选择信号对应之传输路径，用来传输活性化信号。另外设有选择信号产生电路，用来对延迟电路50供给第l至第3选择信号。另外设有JTAG边界扫描测试电路，用来分配无定义模态之一作为使选择信号产生电路进行适当动作之模态。

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