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    • 1. 发明专利
    • 銅箔粗糙化表面之粘著强度的評估方法
    • 铜箔粗糙化表面之粘着强度的评估方法
    • TW200538008A
    • 2005-11-16
    • TW094110268
    • 2005-03-31
    • 三井金屬業股份有限公司 MITSUI MINING & SMELTING CO., LTD.
    • 岩切健一郎 IWAKIRI, KEN-ICHIRO永谷誠治 NAGATANI, SEIJI
    • H05K
    • H05K3/382G01B11/303G01N19/04H05K2201/0355H05K2203/162
    • 本發明的目的在於提供一種銅箔粗糙化表面之粘著強度的評估方法,即使不實測銅箔粗糙化表面之粘著強度,也可以從銅箔粗糙化表面之粗糙度等參數以精確地推定銅箔粗糙化表面之粘著強度。為了達成此目的,本發明的銅箔粗糙化表面之粘著強度的評估方法包括:定義藉由雷射顯微鏡以3維方式測定銅箔試料S的粗糙化表面積所得的3維表面積A(S)與該3維表面積A(S)的測定區域面積B(S)的比值A(S)/B(S)為一面積係數C(S),再利用一預先在與上述銅箔試料S相同種類的銅箔粗糙化表面得到的一檢量線R,以從該面積係數C(S)得到一算出粘著強度P(R),該檢量線R係顯示面積係數C與粘著強度P關係,並且以該算出粘著強度P(R)取代該銅箔試料S的粗糙化表面之實測出的實測粘著強度P(S),以評估該銅箔試料S的粗糙化表面的粘著強度。
    • 本发明的目的在于提供一种铜箔粗糙化表面之粘着强度的评估方法,即使不实测铜箔粗糙化表面之粘着强度,也可以从铜箔粗糙化表面之粗糙度等参数以精确地推定铜箔粗糙化表面之粘着强度。为了达成此目的,本发明的铜箔粗糙化表面之粘着强度的评估方法包括:定义借由激光显微镜以3维方式测定铜箔试料S的粗糙化表面积所得的3维表面积A(S)与该3维表面积A(S)的测定区域面积B(S)的比值A(S)/B(S)为一面积系数C(S),再利用一预先在与上述铜箔试料S相同种类的铜箔粗糙化表面得到的一检量线R,以从该面积系数C(S)得到一算出粘着强度P(R),该检量线R系显示面积系数C与粘着强度P关系,并且以该算出粘着强度P(R)取代该铜箔试料S的粗糙化表面之实测出的实测粘着强度P(S),以评估该铜箔试料S的粗糙化表面的粘着强度。
    • 4. 发明专利
    • 銅箔粗糙化表面之粘著强度的評估方法
    • 铜箔粗糙化表面之粘着强度的评估方法
    • TWI289420B
    • 2007-11-01
    • TW094110268
    • 2005-03-31
    • 三井金屬業股份有限公司 MITSUI MINING & SMELTING CO., LTD.
    • 岩切健一郎 IWAKIRI, KEN-ICHIRO永谷誠治 NAGATANI, SEIJI
    • H05K
    • H05K3/382G01B11/303G01N19/04H05K2201/0355H05K2203/162
    • 本發明的目的在於提供一種銅箔粗糙化表面之粘著強度的評估方法,即使不實測銅箔粗糙化表面之粘著強度,也可以從銅箔粗糙化表面之粗糙度等參數以精確地推定銅箔粗糙化表面之粘著強度。為了達成此目的,本發明的銅箔粗糙化表面之粘著強度的評估方法包括:定義藉由雷射顯微鏡以3維方式測定銅箔試料S的粗糙化表面積所得的3維表面積A(S)與該3維表面積A(S)的測定區域面積B(S)的比值A(S)/B(S)為一面積係數C(S),再利用一預先在與上述銅箔試料S相同種類的銅箔粗糙化表面得到的一檢量線R,以從該面積係數C(S)得到一算出粘著強度P(R),該檢量線R係顯示面積係數C與粘著強度P關係,並且以該算出粘著強度P(R)取代該銅箔試料S的粗糙化表面之實測出的實測粘著強度P(S),以評估該銅箔試料S的粗糙化表面的粘著強度。
    • 本发明的目的在于提供一种铜箔粗糙化表面之粘着强度的评估方法,即使不实测铜箔粗糙化表面之粘着强度,也可以从铜箔粗糙化表面之粗糙度等参数以精确地推定铜箔粗糙化表面之粘着强度。为了达成此目的,本发明的铜箔粗糙化表面之粘着强度的评估方法包括:定义借由激光显微镜以3维方式测定铜箔试料S的粗糙化表面积所得的3维表面积A(S)与该3维表面积A(S)的测定区域面积B(S)的比值A(S)/B(S)为一面积系数C(S),再利用一预先在与上述铜箔试料S相同种类的铜箔粗糙化表面得到的一检量线R,以从该面积系数C(S)得到一算出粘着强度P(R),该检量线R系显示面积系数C与粘着强度P关系,并且以该算出粘着强度P(R)取代该铜箔试料S的粗糙化表面之实测出的实测粘着强度P(S),以评估该铜箔试料S的粗糙化表面的粘着强度。