专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明专利

TWI461711B 決定電裝置特性之裝置與方法有权
简体标题：决定电设备特性之设备与方法
公开(公告)号：TWI461711B
公开(公告)日：2014-11-21
申请号：TW098134657
申请日：2009-10-13
申请人： DTG國際股份有限公司 , DTG INTERNATIONAL GMBH
发明人：福爾波特吉爾伯特 , VOLPERT, GILBERT , 羅曼諾夫維克特 , ROMANOV, VICTOR
IPC分类号： G01R31/02
CPC分类号： G01R31/2886 , G01R31/2894

2. 发明专利

TWI494569B 用於測試印刷電路板之測試裝置的接觸單元有权
简体标题：用于测试印刷电路板之测试设备的接触单元
公开(公告)号：TWI494569B
公开(公告)日：2015-08-01
申请号：TW099110193
申请日：2010-04-01
申请人： DTG國際股份有限公司 , DTG INTERNATIONAL GMBH
发明人：戴麥爾魯迪格 , DEHMEL, RUDIGER , 辜柔安卓爾斯 , GULZOW, ANDREAS
IPC分类号： G01R1/073 , G01R31/28
CPC分类号： G01R1/07328 , G01R1/07378

3. 发明专利

TW201501948A 用於參考由工件載具所支撐之工件的工件參考系統及方法审中-公开
简体标题：用于参考由工件载具所支撑之工件的工件参考系统及方法
公开(公告)号：TW201501948A
公开(公告)日：2015-01-16
申请号：TW103112816
申请日：2014-04-08
申请人： DTG國際股份有限公司 , DTG INTERNATIONAL GMBH
发明人：哈里斯湯姆 , HARRIS, TOM , 班奈特瑞奇 , BENNETT, RICKY
IPC分类号： B41F15/18 , B41M1/12
CPC分类号： B41F15/18 , H01L21/682
摘要：一種工件參考系統及方法，該系統包含：一工件支撐總成，其用於支撐複數個工件，其中該支撐總成包含一支撐平台及安置至該支撐平台之複數個支撐部件，每一支撐部件經建構以支撐一個別工件；及一工件參考總成，其用於將如由該支撐總成所支撐之該等工件參考至預定位置；其中該等支撐部件各自包含：一本體，該本體包括支撐一工件之一支撐表面；及一彈性耦接件，該彈性耦接件相對於該支撐平台彈性地耦接該本體之至少一上部部分，使得該本體之該至少部分藉由操作該參考總成而相對於該支撐平台自一第一未經偏置位置可位移至一第二經偏置參考位置，且在被釋放時，該本體之該至少部分返回至該第一未經偏置位置。
简体摘要：一种工件参考系统及方法，该系统包含：一工件支撑总成，其用于支撑复数个工件，其中该支撑总成包含一支撑平台及安置至该支撑平台之复数个支撑部件，每一支撑部件经建构以支撑一个别工件；及一工件参考总成，其用于将如由该支撑总成所支撑之该等工件参考至预定位置；其中该等支撑部件各自包含：一本体，该本体包括支撑一工件之一支撑表面；及一弹性耦接件，该弹性耦接件相对于该支撑平台弹性地耦接该本体之至少一上部部分，使得该本体之该至少部分借由操作该参考总成而相对于该支撑平台自一第一未经偏置位置可位移至一第二经偏置参考位置，且在被释放时，该本体之该至少部分返回至该第一未经偏置位置。

4. 发明专利

TW201507054A 工件處理系統與方法审中-公开
简体标题：工件处理系统与方法
公开(公告)号：TW201507054A
公开(公告)日：2015-02-16
申请号：TW103116680
申请日：2014-05-12
申请人： DTG國際股份有限公司 , DTG INTERNATIONAL GMBH
发明人：威爾雪傑輝理查爾 , WILLSHERE, JEFFREY RICHARD , 楊丁明 , YANG, DIMING , 羅傑斯麥可約翰 , ROGERS, MICHAEL JOHN
IPC分类号： H01L21/68 , B65G43/00 , G01B11/24
CPC分类号： H01L21/67706 , H01L21/681 , H01L21/6838
摘要：一種用於處理工件之工件處理系統與方法，該系統包含：一工件支撐單元，其可操作以在一處理操作中支撐一工件，其中工件支撐單元包含：用於支撐其上之一工件的一壓板，該壓板包含一主體及延伸越過主體之表面以自該壓板來回轉移表面上之工件的一皮帶，以及一驅動佈置，該佈置驅動皮帶以轉移工件；以及一成像單元，其用於對一支撐的工件進行成像，其中成像單元包含：複數個離散的光源，該等複數個光源經佈置以穿過皮帶照亮支撐的工件之各別邊緣特徵；以及複數個偵測器，該等複數個偵測器對應於各別光源佈置以偵測透射自光源之各別一者的光照，可藉以採集各別邊緣特徵之每一者的影像。
简体摘要：一种用于处理工件之工件处理系统与方法，该系统包含：一工件支撑单元，其可操作以在一处理操作中支撑一工件，其中工件支撑单元包含：用于支撑其上之一工件的一压板，该压板包含一主体及延伸越过主体之表面以自该压板来回转移表面上之工件的一皮带，以及一驱动布置，该布置驱动皮带以转移工件；以及一成像单元，其用于对一支撑的工件进行成像，其中成像单元包含：复数个离散的光源，该等复数个光源经布置以穿过皮带照亮支撑的工件之各别边缘特征；以及复数个侦测器，该等复数个侦测器对应于各别光源布置以侦测透射自光源之各别一者的光照，可借以采集各别边缘特征之每一者的影像。

5. 发明专利

TW201505855A 清潔裝置與方法审中-公开
简体标题：清洁设备与方法
公开(公告)号：TW201505855A
公开(公告)日：2015-02-16
申请号：TW103116681
申请日：2014-05-12
申请人： DTG國際股份有限公司 , DTG INTERNATIONAL GMBH
发明人：威爾雪傑輝理查爾 , WILLSHERE, JEFFREY RICHARD , 莫瑞理查爾約翰 , MURRAY, RICHARD JOHN , 瓦勒史戴方喬斯汀 , WALLER, STEPHEN JUSTIN , 法爾寇湯姆 , FALCON, TOM , 堡克斯亞力山大 , BOAX, ALEXANDER
IPC分类号： B41F35/00
CPC分类号： B41F35/003 , B41F15/0881 , B41F15/26 , B41F35/005 , B41P2235/14 , B41P2235/23 , B41P2235/24 , B41P2235/27
摘要：一種用於一網版印花機之清潔裝置與清潔方法，該裝置包含：一列印網版支撐單元，其用於支撐包括一列印網版之一網版列印總成，該總成用於穿過列印網版列印至工件上；一工件支撐單元，其包含用於在列印網版下方之一列印區域處支撐工件的一壓板；以及一清潔裝置，其可在一清潔操作中操作以清潔列印網版之一下表面及/或壓板之一上表面。
简体摘要：一种用于一网版印花机之清洁设备与清洁方法，该设备包含：一打印网版支撑单元，其用于支撑包括一打印网版之一网版打印总成，该总成用于穿过打印网版打印至工件上；一工件支撑单元，其包含用于在打印网版下方之一打印区域处支撑工件的一压板；以及一清洁设备，其可在一清洁操作中操作以清洁打印网版之一下表面及/或压板之一上表面。

6. 发明专利

TW201345350A 模板审中-公开
公开(公告)号：TW201345350A
公开(公告)日：2013-11-01
申请号：TW101144980
申请日：2012-11-30
申请人： DTG國際股份有限公司 , DTG INTERNATIONAL GMBH
发明人：薩恩米雪爾 , ZAHN, MICHAEL
IPC分类号： H05K3/18
CPC分类号： B41F15/34 , B41M1/12 , B41N1/248
摘要：本發明揭示一種用於將沈積物之圖案印刷於基板上之模板，其中該模板包含電鑄金屬片，其具有：包括有孔區之第一層，印刷介質在印刷操作中係經由該有孔區得以塗覆；及上覆欲印刷基板且包括複數個孔之第二層，其中該第二層中之該等孔延伸跨越且超出該第一層中之該有孔區，藉此該第二層包括：複數個與該第一層之該有孔區對準之穿過孔，各穿過孔具有與欲印刷於該基板上之圖案對應之圖案；及複數個鄰近於該第一層中之該有孔區且向該有孔區外安置之盲孔。
简体摘要：本发明揭示一种用于将沉积物之图案印刷于基板上之模板，其中该模板包含电铸金属片，其具有：包括有孔区之第一层，印刷介质在印刷操作中系经由该有孔区得以涂覆；及上覆欲印刷基板且包括复数个孔之第二层，其中该第二层中之该等孔延伸跨越且超出该第一层中之该有孔区，借此该第二层包括：复数个与该第一层之该有孔区对准之穿过孔，各穿过孔具有与欲印刷于该基板上之图案对应之图案；及复数个邻近于该第一层中之该有孔区且向该有孔区外安置之盲孔。

7. 发明专利

TW201018931A 電子裝置特性之確定 DETERMINATION OF PROPERTIES OF AN ELECTRICAL DEVICE 审中-公开
简体标题：电子设备特性之确定 DETERMINATION OF PROPERTIES OF AN ELECTRICAL DEVICE
公开(公告)号：TW201018931A
公开(公告)日：2010-05-16
申请号：TW098134657
申请日：2009-10-13
申请人： DTG國際股份有限公司
发明人：福爾波特吉爾伯特 , 羅曼諾夫維克特
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/2886 , G01R31/2894
摘要：為決定一電裝置（10）之電特性，在每一情況下，在該電裝置（10）之若干等電位體（20、26）中之一者的至少一引出式電連接（46、48）上進行對一電量測量之一量測（110）。當至少一其他引出式電連接（60）之區域中的相關等電位體（20）之將適當地被偵測之一缺陷比量測電量測量（C）之一容差更強烈地影響此量測量（C）時，則不在該相關等電位體（20）之此其他連接（60）上執行對某些等電位體（20）之該電量測量的該量測（110）。在用於決定一電裝置（10）之電特性之另一方法中，在每一情況下之個別量測期間，可藉由一電組件（144）在兩個或兩個以上等電位體（20、35）之間建立一臨時電連接（144），且對該等臨時電連接之等電位體（20、35）進行一聯合量測（110）。本發明亦係關於一種用於實施相關方法（103）之裝置（64）。
简体摘要：为决定一电设备（10）之电特性，在每一情况下，在该电设备（10）之若干等电位体（20、26）中之一者的至少一引出式电连接（46、48）上进行对一电量测量之一量测（110）。当至少一其他引出式电连接（60）之区域中的相关等电位体（20）之将适当地被侦测之一缺陷比量测电量测量（C）之一容差更强烈地影响此量测量（C）时，则不在该相关等电位体（20）之此其他连接（60）上运行对某些等电位体（20）之该电量测量的该量测（110）。在用于决定一电设备（10）之电特性之另一方法中，在每一情况下之个别量测期间，可借由一电组件（144）在两个或两个以上等电位体（20、35）之间创建一临时电连接（144），且对该等临时电连接之等电位体（20、35）进行一联合量测（110）。本发明亦系关于一种用于实施相关方法（103）之设备（64）。

8. 发明专利

TW201429852A 用於處理工件的裝置及方法审中-公开
简体标题：用于处理工件的设备及方法
公开(公告)号：TW201429852A
公开(公告)日：2014-08-01
申请号：TW102137470
申请日：2013-10-17
申请人： DTG國際股份有限公司 , DTG INTERNATIONAL GMBH
发明人：哈肯斯克里斯 , HAWKINS, CHRIS
IPC分类号： B65H15/00
CPC分类号： B65G47/248 , B65G47/252 , B65G47/915 , B65G2201/022 , H01L21/67718 , H01L21/68
摘要：一種用於處理工件之工件反轉裝置及方法，該裝置包含：一饋進站，在該饋進站處接收工件；一饋出站，自該饋出站遞送工件；及一工件反轉元件，其可操作以將一工件以在該饋進站處接收到時的一定向或自在該饋進站處接收到時的該定向反轉之一定向中的一者自該饋進站遞送至該饋出站。
简体摘要：一种用于处理工件之工件反转设备及方法，该设备包含：一馈进站，在该馈进站处接收工件；一馈出站，自该馈出站递送工件；及一工件反转组件，其可操作以将一工件以在该馈进站处接收到时的一定向或自在该馈进站处接收到时的该定向反转之一定向中的一者自该馈进站递送至该馈出站。

9. 发明专利

TW201111800A 用於測試印刷電路板之測試裝置的接觸單元 CONTACTING UNIT FOR A TEST APPARATUS FOR TESTING PRINTED CIRCUIT BOARDS 审中-公开
简体标题：用于测试印刷电路板之测试设备的接触单元 CONTACTING UNIT FOR A TEST APPARATUS FOR TESTING PRINTED CIRCUIT BOARDS
公开(公告)号：TW201111800A
公开(公告)日：2011-04-01
申请号：TW099110193
申请日：2010-04-01
申请人： DTG國際股份有限公司
发明人：戴麥爾魯迪格 , 辜柔安卓爾斯
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R1/07328 , G01R1/07378
摘要：本發明係關於一種用於測試印刷電路板之一測試裝置的接觸單元。該接觸單元包含：一全柵格匣及一配接器。該全柵格匣具備複數個彈簧接觸銷，該複數個彈簧接觸銷係配置於一測試裝置之一基本柵格之接觸點的柵格中。該配接器具備測試針以用於將該全柵格匣之每一彈簧接觸銷電氣連接至待測試之一印刷電路板之一電路板測試點，將該等彈簧接觸銷固定於該全柵格匣中以防止在遠離該配接器之該側上掉落，且將該等測試針固定於該配接器中以防止在遠離該全柵格匣之該側上掉落。該配接器與該全柵格匣係可釋放地彼此連結。以此方式，在該配接器與該全柵格匣之組裝狀態中，該等彈簧接觸銷與該等測試針皆經固定以防止掉出該接觸單元。
简体摘要：本发明系关于一种用于测试印刷电路板之一测试设备的接触单元。该接触单元包含：一全栅格匣及一配接器。该全栅格匣具备复数个弹簧接触销，该复数个弹簧接触销系配置于一测试设备之一基本栅格之接触点的栅格中。该配接器具备测试针以用于将该全栅格匣之每一弹簧接触销电气连接至待测试之一印刷电路板之一电路板测试点，将该等弹簧接触销固定于该全栅格匣中以防止在远离该配接器之该侧上掉落，且将该等测试针固定于该配接器中以防止在远离该全栅格匣之该侧上掉落。该配接器与该全栅格匣系可释放地彼此链接。以此方式，在该配接器与该全栅格匣之组装状态中，该等弹簧接触销与该等测试针皆经固定以防止掉出该接触单元。

10. 发明专利

TW201026403A 用於將電子器件轉移到及離開試驗位置的裝置及方法 APPARATUS AND METHOD FOR TRANSFERRING ELECTRONIC DEVICES TO AND FROM A TEST POSITION 审中-公开
简体标题：用于将电子器件转移到及离开试验位置的设备及方法 APPARATUS AND METHOD FOR TRANSFERRING ELECTRONIC DEVICES TO AND FROM A TEST POSITION
公开(公告)号：TW201026403A
公开(公告)日：2010-07-16
申请号：TW098124810
申请日：2009-07-23
申请人： DTG國際股份有限公司
发明人：華道夫艾利克山德
IPC分类号： B07C , G01R
CPC分类号： G01R31/2893
摘要：本發明揭示一種處置用於試驗之電子器件的旋轉型處置器及處置用於試驗之電子器件的方法，該處置器包含至少兩個載體部分（14、16、25、26、45、46、54、56、65、84、86），每個載體部分係用於將器件（3）自一裝載位置（L）轉移至一試驗位置（T）及自該試驗位置（T）轉移至一卸載位置（U），其中每一載體部分均為可旋轉的且該至少兩個載體部分可獨立於彼此而旋轉。
简体摘要：本发明揭示一种处置用于试验之电子器件的旋转型处置器及处置用于试验之电子器件的方法，该处置器包含至少两个载体部分（14、16、25、26、45、46、54、56、65、84、86），每个载体部分系用于将器件（3）自一装载位置（L）转移至一试验位置（T）及自该试验位置（T）转移至一卸载位置（U），其中每一载体部分均为可旋转的且该至少两个载体部分可独立于彼此而旋转。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式