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1. 发明专利

TWI303784B 決定物體角姿態之方法及裝置 METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING ANGULAR POSE OF AN OBJECT 有权
简体标题：决定物体角姿态之方法及设备 METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING ANGULAR POSE OF AN OBJECT
公开(公告)号：TWI303784B
公开(公告)日：2008-12-01
申请号：TW094106618
申请日：2005-03-04
申请人： ESI電子科技(股)公司 ELECTRO SCIENTIFIC INDUSTRIES, INC.
发明人：派區克雷那德 LEONARD, PATRICK , 馬克新格 SINGER, MARK
IPC分类号： G06K
CPC分类号： G01B11/002 , G01B11/26 , G06K9/3208 , G06T7/70 , G06T2207/20068 , G06T2207/20081 , G06T2207/30148
摘要：本發明可有效決定一假定物體之角姿態。自該已知物體之一樣本影像計算一連串投影和,其中該已知物體具有一假定姿態。該等投影和計算一角度範圍,且經組織成一創造一投影影像之二維陣列。提供該已知物體之一影像,其中該已知物體具有一未知姿態。宜在直角處越過具有該未知姿態之該已知物體之該影像來計算一投影和。該投影和與該投影影像相關,且對應於最佳相關之角度經決定為該已知物體之該角姿態。
简体摘要：本发明可有效决定一假定物体之角姿态。自该已知物体之一样本影像计算一连串投影和,其中该已知物体具有一假定姿态。该等投影和计算一角度范围,且经组织成一创造一投影影像之二维数组。提供该已知物体之一影像,其中该已知物体具有一未知姿态。宜在直角处越过具有该未知姿态之该已知物体之该影像来计算一投影和。该投影和与该投影影像相关,且对应于最佳相关之角度经决定为该已知物体之该角姿态。

2. 发明专利

TW200845841A 具有間隙設定裝置之電子元件處理器 ELECTRONIC COMPONENT HANDLER HAVING GAP SET DEVICE 审中-公开
简体标题：具有间隙设置设备之电子组件处理器 ELECTRONIC COMPONENT HANDLER HAVING GAP SET DEVICE
公开(公告)号：TW200845841A
公开(公告)日：2008-11-16
申请号：TW097102921
申请日：2008-01-25
申请人： ESI電子科技(股)公司 ELECTRO SCIENTIFIC INDUSTRIES, INC.
发明人：大衛詹姆斯麥基爾 MCKEEVER, DAVID JAMES , 馬丁腓德瑞克班伯格 BAMBERGER, MARTIN FREDERICK , 柏蘭麥可 MICHAEL, BLAINE , 道J 嘉西亞 GARCIA, DOUG J.
IPC分类号： H05K , B65G , G01R , H01L
CPC分类号： B07C3/12 , B07C5/344 , G01R31/2893
摘要：本發明提供一種用於一電子元件處理器的間隙設定裝置。該電子元件處理器包含具有安裝於其上的一測試附件之一線性軸承。該測試附件可在遠離一工具的一第一位置與較接近於該工具的一第二位置之間移動。一設定柱可從該測試附件伸展以便當該測試附件從該第一位置移動至該第二位置時,該設定柱可固定該測試附件與該工具之間的一間隙。
简体摘要：本发明提供一种用于一电子组件处理器的间隙设置设备。该电子组件处理器包含具有安装于其上的一测试附件之一线性轴承。该测试附件可在远离一工具的一第一位置与较接近于该工具的一第二位置之间移动。一设置柱可从该测试附件伸展以盒饭该测试附件从该第一位置移动至该第二位置时,该设置柱可固定该测试附件与该工具之间的一间隙。

3. 发明专利

TW200816784A 經由多重波長光之改良影像品質 IMPROVING IMAGE QUALITY VIA MULTI-WAVELENGTH LIGHT 审中-公开
简体标题：经由多重波长光之改良影像品质 IMPROVING IMAGE QUALITY VIA MULTI-WAVELENGTH LIGHT
公开(公告)号：TW200816784A
公开(公告)日：2008-04-01
申请号：TW096115191
申请日：2007-04-27
申请人： ESI電子科技(股)公司 ELECTRO SCIENTIFIC INDUSTRIES, INC.
发明人：布萊恩喬韓生 JOHANSEN, BRIAN , 米梅特E 艾爾裴 ALPAY, MEHMET E.
IPC分类号： H04N
CPC分类号： G01N21/8851 , G01N21/9501 , G06K9/2018 , G06K9/2027 , G06K2209/19 , G06T5/50
摘要：本發明揭示一種使用多重波長發光來改良經由單色相機所捕獲之影像的影像品質的方法與設備。一對比最佳化演算法會決定可用波長中哪一個特殊波長最適於最大化對比。藉由決定用以提供一目標與一背景間之最大對比與最小對比的發光方案以進行主動式雜訊抑制則可進一步改良該影像的品質。接著,透過逐個像素地以最大對比影像除以最小對比影像便可達成影像紋理資料(也就是,雜訊)消除的目的。或者,可以代數的方式來組合使用至少兩個波長所獲得之影像,以達減低雜訊的目的。所生成的複合影像可送入任何已知的目標辨識演算法之中。
简体摘要：本发明揭示一种使用多重波长发光来改良经由单色相机所捕获之影像的影像品质的方法与设备。一对比最优化算法会决定可用波长中哪一个特殊波长最适于最大化对比。借由决定用以提供一目标与一背景间之最大对比与最小对比的发光方案以进行主动式噪声抑制则可进一步改良该影像的品质。接着,透过逐个像素地以最大对比影像除以最小对比影像便可达成影像纹理数据(也就是,噪声)消除的目的。或者,可以代数的方式来组合使用至少两个波长所获得之影像,以达减低噪声的目的。所生成的复合影像可送入任何已知的目标辨识算法之中。

4. 发明专利

TW200804013A 用於結構性地薄化具有通道圖案之材料的方法 PROCESS FOR STRUCTURALLY THINNING MATERIALS DRILLED WITH VIA PATTERNS 审中-公开
简体标题：用于结构性地薄化具有信道图案之材料的方法 PROCESS FOR STRUCTURALLY THINNING MATERIALS DRILLED WITH VIA PATTERNS
公开(公告)号：TW200804013A
公开(公告)日：2008-01-16
申请号：TW096119144
申请日：2007-05-29
申请人： ESI電子科技(股)公司 ELECTRO SCIENTIFIC INDUSTRIES, INC.
发明人：葛瑞格E.哈帝 HARDY, GREGG E. , 麥可S.奈許爾 NASHNER, MICHAEL S. , 傑佛瑞E.豪爾頓 HOWERTON, JEFFREY E.
IPC分类号： B21D , B05D
CPC分类号： B29C66/472 , B23K2203/42 , B23K2203/50 , B29C39/006 , B29C65/1406 , B29C65/1435 , B29C65/1483 , B29C65/4845 , B29C66/1122 , B29C66/30325 , B29C66/43 , B29C66/45 , B29C66/742 , B29C2035/0827 , B60Q3/14 , Y10T428/24273
摘要：本發明揭示一種在鑽孔之前薄化一基板且/或在鑽孔之後結構性地强化一具有一通道圖案之薄化基板之方法及藉由該方法獲得之產品。一基板或面板具有一第一厚度。在該基板內形成一空穴,其中該空穴具有一小於該第一厚度之第二厚度。在該空穴中鑽製至少一個通道,並用一透光材料填充該(等)通道。
简体摘要：本发明揭示一种在钻孔之前薄化一基板且/或在钻孔之后结构性地强化一具有一信道图案之薄化基板之方法及借由该方法获得之产品。一基板或皮肤具有一第一厚度。在该基板内形成一空穴,其中该空穴具有一小于该第一厚度之第二厚度。在该空穴中钻制至少一个信道,并用一透光材料填充该(等)信道。

5. 发明专利

TW200608306A 照明假影之影像消除 IMAGE SUBTRACTION OF ILLUMINATION ARTIFACTS 失效
公开(公告)号：TW200608306A
公开(公告)日：2006-03-01
申请号：TW094112748
申请日：2005-04-21
申请人： ESI電子科技(股)公司 ELECTRO SCIENTIFIC INDUSTRIES, INC.
发明人：雷歐鮑德溫 BALDWIN, LEO
IPC分类号： G06K
CPC分类号： G06K9/2036
摘要：本發明揭示一種用於自一物件影像移除由一成像系統之一直列式照明裝置產生的一假影之方法。該方法包括使用一第一假影照明等級獲得該假影之一第一影像，及使用該成像系統成像該物件，其中該照明裝置使用一物件照明等級。一假影影像係獨立於該物件且具有與該照明等級相關之像素值。因此，可藉由基於逐像素位址自該物件影像之個別值消除一假影影像之個別像素值來移除該假影。可使用各種照明等級以創建一個以上之假影影像。用於該消除之該假影影像可為該等所得影像中之一影像或可為一成比列影像，其中一假影影像成比例縮放至該物件照明等級。
简体摘要：本发明揭示一种用于自一对象影像移除由一成像系统之一直列式照明设备产生的一假影之方法。该方法包括使用一第一假影照明等级获得该假影之一第一影像，及使用该成像系统成像该对象，其中该照明设备使用一对象照明等级。一假影影像系独立于该对象且具有与该照明等级相关之像素值。因此，可借由基于逐像素位址自该对象影像之个别值消除一假影影像之个别像素值来移除该假影。可使用各种照明等级以创建一个以上之假影影像。用于该消除之该假影影像可为该等所得影像中之一影像或可为一成比列影像，其中一假影影像成比例缩放至该对象照明等级。

6. 发明专利

TW200603006A 決定物體角姿態之方法及裝置 METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING ANGULAR POSE OF AN OBJECT 审中-公开
简体标题：决定物体角姿态之方法及设备 METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING ANGULAR POSE OF AN OBJECT
公开(公告)号：TW200603006A
公开(公告)日：2006-01-16
申请号：TW094106618
申请日：2005-03-04
申请人： ESI電子科技(股)公司 ELECTRO SCIENTIFIC INDUSTRIES, INC.
发明人：派區克雷那德 LEONARD, PATRICK , 馬克新格 SINGER, MARK
IPC分类号： G06K
CPC分类号： G01B11/002 , G01B11/26 , G06K9/3208 , G06T7/70 , G06T2207/20068 , G06T2207/20081 , G06T2207/30148
摘要：本發明可有效決定一假定物體之角姿態。自該已知物體之一樣本影像計算一連串投影和，其中該已知物體具有一假定姿態。該等投影和計算一角度範圍，且經組織成一創造一投影影像之二維陣列。提供該已知物體之一影像，其中該已知物體具有一未知姿態。宜在直角處越過具有該未知姿態之該已知物體之該影像來計算一投影和。該投影和與該投影影像相關，且對應於最佳相關之角度經決定為該已知物體之該角姿態。
简体摘要：本发明可有效决定一假定物体之角姿态。自该已知物体之一样本影像计算一连串投影和，其中该已知物体具有一假定姿态。该等投影和计算一角度范围，且经组织成一创造一投影影像之二维数组。提供该已知物体之一影像，其中该已知物体具有一未知姿态。宜在直角处越过具有该未知姿态之该已知物体之该影像来计算一投影和。该投影和与该投影影像相关，且对应于最佳相关之角度经决定为该已知物体之该角姿态。

7. 发明专利

TW200835918A 用於多屬陶瓷電容測試之多點多參數資料擷取 MULTI-POINT, MULTI-PARAMETER DATA ACQUISITION FOR MULTI-LAYER CERAMIC CAPACITOR TESTING 审中-公开
简体标题：用于多属陶瓷电容测试之多点多参数数据截取 MULTI-POINT, MULTI-PARAMETER DATA ACQUISITION FOR MULTI-LAYER CERAMIC CAPACITOR TESTING
公开(公告)号：TW200835918A
公开(公告)日：2008-09-01
申请号：TW096143945
申请日：2007-11-20
申请人： ESI電子科技(股)公司 ELECTRO SCIENTIFIC INDUSTRIES, INC.
发明人：肯尼斯V 艾爾蒙特 ALMONTE, KENNETH V. , 查爾斯畢克佛德 BICKFORD, CHARLES
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/028
摘要：本發明揭示一種用於測試至少一多層陶瓷電容器零件之方法,該方法包括在一預定時間週期內相對於一程式化電壓充電、保持及/或放電至少一零件,在充電、保持及放電每一零件時,週期性測量對應於每一待測試零件之品質的至少一數値。該至少一數値可係選自由下列各項所組成之一群組:電壓値、電流値、洩漏電流値、電容値、消耗因數値及其任意組合。可利用相對於該程式化電壓充電、保持及放電每一零件時所收集之該等週期性測量値數位化描繪出若干曲線。
简体摘要：本发明揭示一种用于测试至少一多层陶瓷电容器零件之方法,该方法包括在一预定时间周期内相对于一进程化电压充电、保持及/或放电至少一零件,在充电、保持及放电每一零件时,周期性测量对应于每一待测试零件之品质的至少一数値。该至少一数値可系选自由下列各项所组成之一群组:电压値、电流値、泄漏电流値、电容値、消耗因子値及其任意组合。可利用相对于该进程化电压充电、保持及放电每一零件时所收集之该等周期性测量値数码化描绘出若干曲线。

8. 发明专利

TW200834090A 群組電路模組中自我測試,監控和診斷程式 SELF TEST, MONITORING, AND DIAGNOSTICS IN GROUPED CIRCUITRY MODULES 审中-公开
简体标题：群组电路模块中自我测试,监控和诊断进程 SELF TEST, MONITORING, AND DIAGNOSTICS IN GROUPED CIRCUITRY MODULES
公开(公告)号：TW200834090A
公开(公告)日：2008-08-16
申请号：TW096143964
申请日：2007-11-20
申请人： ESI電子科技(股)公司 ELECTRO SCIENTIFIC INDUSTRIES, INC.
发明人：肯尼斯V 艾爾蒙特 ALMONTE, KENNETH V.
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/016
摘要：本發明揭示一種用於對受電性測試之一電容器提供一電源之旋轉電容器電性測試系統,其可包括至少一可程式電壓源、至少一可程式電流源,以及用於程式化該等電壓源與電流源之一控制器。可提供隨機存取非揮發性記憶體以儲存資訊及為該控制器提供讀取/寫入能力。至少一類比/數位轉換器可在該控制器與該等可程式電壓源及電流源之間相通。透過該控制器可操作一診斷程式,其用於測試至少某些子系統之基本輸入/輸出功能之內部完整性。可透過該控制器操作一電路健全監控程式,其用於週期性測試及決定至少一些子系統之內部完整性。一自我測試程式透過該控制器操作用以決定至少一些內部子系統是否正在一測試/失效基礎上正常工作。
简体摘要：本发明揭示一种用于对受电性测试之一电容器提供一电源之旋转电容器电性测试系统,其可包括至少一可进程电压源、至少一可进程电流源,以及用于进程化该等电压源与电流源之一控制器。可提供随机存取非挥发性内存以存储信息及为该控制器提供读取/写入能力。至少一模拟/数码转换器可在该控制器与该等可进程电压源及电流源之间相通。透过该控制器可操作一诊断进程,其用于测试至少某些子系统之基本输入/输出功能之内部完整性。可透过该控制器操作一电路健全监控进程,其用于周期性测试及决定至少一些子系统之内部完整性。一自我测试进程透过该控制器操作用以决定至少一些内部子系统是否正在一测试/失效基础上正常工作。

9. 发明专利

TW200802672A 長軸元件負載器 LONG AXIS COMPONENT LOADER 审中-公开
简体标题：长轴组件负载器 LONG AXIS COMPONENT LOADER
公开(公告)号：TW200802672A
公开(公告)日：2008-01-01
申请号：TW096114137
申请日：2007-04-20
申请人： ESI電子科技(股)公司 ELECTRO SCIENTIFIC INDUSTRIES, INC.
发明人：道J 嘉西亞 GARCIA, DOUG J. , 威廉桑德斯 SAUNDERS, WILLIAM , 尼克塔伯斯 TUBBS, NICK
IPC分类号： H01L , B65G
CPC分类号： H05K13/021
摘要：本發明揭示一種元件負載器,其用於沿元件長軸定位一元件以傳送至諸如運送皮帶之傳送構件。該負載器包括一可旋轉裝載板,其具有一外周邊緣及一上表面,其中該上表面自一水平面傾斜。複數個槽在上表面上,且每一者繞該裝載板之該外邊緣定位。複數個槽中之每一者經確定適當大小以接納至少一個晶片,該晶片較佳以其長軸垂直於該可旋轉裝載板之旋轉軸置放。一外壁與該外周邊緣之曲率一致且鄰近包圍該外周邊緣而安裝。一傳送槽軸向延伸至該裝載板之該上表面內。較佳,每一傳送槽經成形以使得自一各別槽下降至每一傳送槽內之一晶片繞該長軸具有九十度的旋轉。該負載器亦可沿裝載板之該旋轉軸包括一安裝於該複數個槽上方且在該外壁內部之一內壁。
简体摘要：本发明揭示一种组件负载器,其用于沿组件长轴定位一组件以发送至诸如运送皮带之发送构件。该负载器包括一可旋转装载板,其具有一外周边缘及一上表面,其中该上表面自一水平面倾斜。复数个槽在上表面上,且每一者绕该装载板之该外边缘定位。复数个槽中之每一者经确定适当大小以接纳至少一个芯片,该芯片较佳以其长轴垂直于该可旋转装载板之旋转轴置放。一外壁与该外周边缘之曲率一致且邻近包围该外周边缘而安装。一发送槽轴向延伸至该装载板之该上表面内。较佳,每一发送槽经成形以使得自一各别槽下降至每一发送槽内之一芯片绕该长轴具有九十度的旋转。该负载器亦可沿装载板之该旋转轴包括一安装于该复数个槽上方且在该外壁内部之一内壁。

10. 发明专利

TW200715360A 自動晶圓追蹤製程及用以執行該製程之裝置 AUTOMATIC WAFER TRACKING PROCESS AND APPARATUS FOR CARRYING OUT THE PROCESS 审中-公开
简体标题：自动晶圆追踪制程及用以运行该制程之设备 AUTOMATIC WAFER TRACKING PROCESS AND APPARATUS FOR CARRYING OUT THE PROCESS
公开(公告)号：TW200715360A
公开(公告)日：2007-04-16
申请号：TW095131249
申请日：2006-08-25
申请人： ESI電子科技(股)公司 ELECTRO SCIENTIFIC INDUSTRIES, INC.
发明人：傑强森 JOHNSON, JAY , 尚恩M 菲利普 PHILLIPS, SEAN M.
IPC分类号： H01L , G06F
CPC分类号： H01L21/67294
摘要：本發明揭示一種半導體晶圓處理資訊系統,其包括一感測器,該感測器響應一晶圓在一處理機器之一監視位置之存在以讀取晶圓識別文書並將晶圓及機器識別信號二者傳送至可獨立於一晶圓追蹤系統之一主機電腦。該電腦決定在該選定機器處的處理是否適當。當該晶圓離開一給定機器時,更新晶圓歷史資訊。
简体摘要：本发明揭示一种半导体晶圆处理信息系统,其包括一传感器,该传感器响应一晶圆在一处理机器之一监视位置之存在以读取晶圆识别文书并将晶圆及机器识别信号二者发送至可独立于一晶圆追踪系统之一主机电脑。该电脑决定在该选定机器处的处理是否适当。当该晶圆离开一给定机器时,更新晶圆历史信息。

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