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热词
    • 4. 发明专利
    • 半導體晶圓測試用探針卡
    • 半导体晶圆测试用探针卡
    • TW200912319A
    • 2009-03-16
    • TW096133778
    • 2007-09-10
    • 保彰股份有限公司 QUALITY-PRO TECHNOLOGY CO., LTD.德彥有限公司 TOKUHIKO CORPORATION菱生精密工業股份有限公司 LINGSEN PRECISION INDUSTRIES, LTD.
    • 安良城高彥 TAKAHIKO, ARASHIRO
    • G01R
    • 一種探針卡,包含:一第一平板組,其包括上下相互疊合之一第一上平板及一第一下平板,其中該第一上平板係設有複數個相互平行且穿透該第一上平板之溝槽,而該第一下平板係設有複數個相互平行且穿透該第一下平板之溝槽,且以上該等二平板上所設之溝槽係彼此相互垂直設置,如此當該二平板相互疊合時,可形成一具有穿透該第一平板組之複數個穿孔的陣列;一第二平板組,其包括上下相互疊合之一第二上平板及一第二下平板,同理,其亦利用以上相同之方法以形成一具有穿透該第二平板組之複數個穿孔的陣列;至少一支撐,其設置於該第一平板組及第二平板組間,以使該第一平板組及第二平板組可以一預訂之距離大致相互平行設置;以及複數個探針,其各別之兩端係分別設置於該第一平板組及第二平板組上彼此相互對應之陣列穿孔中,且該探針之探測端係可穿設並突出於該其中一平板組之外表面。
    • 一种探针卡,包含:一第一平板组,其包括上下相互叠合之一第一上平板及一第一下平板,其中该第一上平板系设有复数个相互平行且穿透该第一上平板之沟槽,而该第一下平板系设有复数个相互平行且穿透该第一下平板之沟槽,且以上该等二平板上所设之沟槽系彼此相互垂直设置,如此当该二平板相互叠合时,可形成一具有穿透该第一平板组之复数个穿孔的数组;一第二平板组,其包括上下相互叠合之一第二上平板及一第二下平板,同理,其亦利用以上相同之方法以形成一具有穿透该第二平板组之复数个穿孔的数组;至少一支撑,其设置于该第一平板组及第二平板组间,以使该第一平板组及第二平板组可以一预订之距离大致相互平行设置;以及复数个探针,其各别之两端系分别设置于该第一平板组及第二平板组上彼此相互对应之数组穿孔中,且该探针之探测端系可穿设并突出于该其中一平板组之外表面。
    • 6. 实用新型
    • 用於微機電元件之塗膠工具
    • 用于微机电组件之涂胶工具
    • TWM322619U
    • 2007-11-21
    • TW096204420
    • 2007-03-19
    • 菱生精密工業股份有限公司 LINGSEN PRECISION INDUSTRIES, LTD.
    • 許瑞杰
    • H01L
    • 一種用於微機電元件之塗膠工具,其中該微機電元件,包含有一基板,該基板一側設有一微機電晶片;該塗膠工具具有一表面以及一底面,且該塗膠工具可蓋合於該基板,該塗膠工具之表面穿設有至少一開孔,該開孔係由表面貫穿至該塗膠工具之底面,且該底面設有一凹槽,該凹槽可容置該微機電晶片。藉此,本創作即可改善習用塗佈基板上膠方式之不穩定之缺陷,且可快速生產。
    • 一种用于微机电组件之涂胶工具,其中该微机电组件,包含有一基板,该基板一侧设有一微机电芯片;该涂胶工具具有一表面以及一底面,且该涂胶工具可盖合于该基板,该涂胶工具之表面穿设有至少一开孔,该开孔系由表面贯穿至该涂胶工具之底面,且该底面设有一凹槽,该凹槽可容置该微机电芯片。借此,本创作即可改善习用涂布基板上胶方式之不稳定之缺陷,且可快速生产。